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          電源測量小貼士,泰克專家支招

          作者: 時間:2016-12-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          電源測量小貼士,第1篇(共10篇):元器件選擇和特性分析

            編者按:電源設(shè)計人員的需求正變得越來越高,他們面臨著巨大的壓力,需要改善效率,降低成本,縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。電源設(shè)計是一項復(fù)雜的工作,這一過程有許多校驗點。在這組博文中,我們將向您介紹10個設(shè)計階段中每個設(shè)計階段的測試要求,并給出小貼士,讓您的測試更高效,讓您的生活更輕松。
            在任何電源設(shè)計中,第一步都要選擇元器件。良好的電源設(shè)計離不開電源元器件及控制芯片??紤]到所有選項,為最優(yōu)設(shè)計選擇適當(dāng)?shù)碾娫丛骷赡軙悬c麻煩??s小范圍,找到適當(dāng)?shù)脑骷?,本身就非常繁瑣。各個制造商的產(chǎn)品技術(shù)資料提供了與元器件功能有關(guān)的一手資料,但并不能保證在給定設(shè)計中提供最優(yōu)操作。在鎖定設(shè)計前,必需分析選定元器件在特定應(yīng)用中的特性,這可以明顯節(jié)省時間,減少問題。

            某些關(guān)鍵電源元器件,如MOSFETs和IGBTs,應(yīng)根據(jù)關(guān)鍵參數(shù)進行選擇,如額定電壓和電流、開機時間和關(guān)閉時間、輸入和輸出電容、開點狀態(tài)電阻和閉點狀態(tài)特點。
            制造商產(chǎn)品技術(shù)資料最重要的細節(jié)之一可能是安全作業(yè)區(qū)(SOA)圖。應(yīng)采取相應(yīng)措施,了解在不同電壓和電流參數(shù)下的這一特點。問題是,制造商提供的大多數(shù)SOA圖并沒有提供完整的畫面,因為這些圖只在25°C下有效。僅依據(jù)這些數(shù)據(jù)會給實現(xiàn)和設(shè)計帶來重大風(fēng)險,特別是熱量設(shè)計。必需在實際環(huán)境中分析部件特點,在這些環(huán)境中,電源元器件很少保持在理想的環(huán)境溫度之下。

            設(shè)計的這個階段沒有原型,很難仿真預(yù)計的額定電流和電壓。解決這個問題的最好方式是使用源測量單元,它可以驅(qū)動幾十安培的電流,生成可以測量的電壓。這有助于為應(yīng)用獲得實際I-V特點。可以使用相同的設(shè)備,測量開點狀態(tài)特點的小的差異,如極閾值電壓、增益和開點電阻。同樣,對低電流閉點狀態(tài)測量,如泄漏電流,可以使用儀器,提供高電壓,生成可以測量的電流。

            對擊穿電壓,確保提供的電壓是器件工作電壓的幾倍,以便測量擊穿電壓。在簡單的兩端子器件或比較復(fù)雜的三四端子晶體管上測量器件電容相對于電壓關(guān)系時,一定要使用能夠測試器件DC工作電壓整個范圍的電容測量系統(tǒng)。注意,傳統(tǒng)LCR儀表會告訴你電容,但不是在整個工作電壓中。

            吉時利源測量單元可以作為四合一儀器:電壓/電流源、電壓/電流表、掃描分析儀、函數(shù)發(fā)生器,為這類測試提供了完美的解決方案。源表還包括可編程負載,可以測量元器件上的I-V特點,從幾µV到3 KV,從幾fA到100 A。一個很好的插件是IVy應(yīng)用,可以從Google Play下載,適用于安卓智能手機或平板電腦,您可以在元器件上無縫執(zhí)行電壓-電壓(I-V)特性分析。

            IVy應(yīng)用可以從Google Play中為安卓設(shè)備免費下載,可以方便地檢查元器件上的I-V特點。這是一個研討會鏈接,我們的專家介紹了怎樣分析和驗證功率半導(dǎo)體的性能。

            一旦選擇元器件,設(shè)計出原型,那么需要開機。在這一系列博文的下一篇博文中,我們將考察低壓DC電路開機測試,并提供多種小貼士,確保您能夠準確地評估設(shè)計的性能。
          電源測量小貼士, Part 2 of 10: 低壓DC電路開機測試
          使用吉時利DMM 7510檢查電壓和紋波,確保滿足規(guī)范。

            原型制作是設(shè)計中比較激動人心的步驟之一。在這個階段,在理想情況下,您已經(jīng)看到設(shè)計愿景就要變成現(xiàn)實,如果一切能夠照計劃進行的話。可能會出現(xiàn)很多問題,如電路板布線、焊點、元器件貼裝和寄生電容等,因此在測試原型電源時,最好要審慎。

            這是一種常見作法,但仍需指出的是,應(yīng)使用數(shù)字萬用表檢查所有輸入和輸出階段是否有短路。同樣,還要檢查電路板上所有關(guān)鍵功率點,確保電路不會非故意短路。應(yīng)盡可能把低壓模擬電路和數(shù)字電路隔離成多個子電路,這在發(fā)生問題時有助于調(diào)試問題及控制損失。

            電路板很可能至少有一個輔助電源。下一步是隔離這個電源,在有負載和沒負載的情況下測試輸出。這有助于分析電源本身的特性,幫助隔離存在的任何問題??梢允褂镁苋f用表檢查電壓和紋波,如DMM 7510 (如上圖所示),確保所有指標都滿足規(guī)范。DMM7510的圖形界面也可以幫助您在屏幕上觀察高頻紋波。如果您想進一步了解紋波測量,這里的應(yīng)用指南為您介紹了詳細的測量過程。

            在隔離電源的同時,應(yīng)檢查機載電源供電的所有低壓電路。應(yīng)使用隔離DC電源,如吉時利2280S,為各個低壓子電路供電,而不是使用機載電源。這將有助于隔離與各個子電路有關(guān)的問題。

            機載電源偶爾有多個輸出,您可以使用擁有多條隔離通道的DC電源??梢允褂肈C電源,同時顯示編程設(shè)置和實際被測輸出。您可以查看DC階段是否吸收太多的電流。另一個選項是在電源和被測器件之間連接一臺DMM,如DMM 7510,密切監(jiān)測吸收電流和功耗。在這個階段,您還應(yīng)根據(jù)需要測試每條子電路的待機電流和狀態(tài)電流。吉時利2280S精密測量電源提供了10 nA分辨率和0.05%精度,可以幫助您在現(xiàn)代高效設(shè)計中進行超低電流測試。
          Keithley 2280電源可以幫助您完成超低電流測試。
            最后,如果您需要為被測系統(tǒng)提供精密電壓,可以考慮使用4線遠程傳感臺式電源。這種設(shè)備可以消除臺式電源與被測系統(tǒng)之間的導(dǎo)線中的任何電壓下跌產(chǎn)生的影響。
            在下一篇博文中,我們將考察高壓AC電路開機。
          電源測量小貼士, Part 3 of 10: 高壓AC電路開機測試
            本系列博文覆蓋了電源測試的全程,在本篇博文中,我們將介紹第一次遇到高電壓時進行原型測試的各個步驟。此外,我們將為您推薦完成這些任務(wù)所需的最佳儀器。
            在第一次開機過程中,我們先把高壓階段與低壓階段隔開。我們建議使用具有限流功能的AC電源。一旦選擇了AC電源,先從設(shè)計的最低AC電壓入手,這是一個關(guān)鍵步驟,有助于減少重大熔斷風(fēng)險,如焊接不良、組裝差或PCB設(shè)計錯誤等潛在問題導(dǎo)致的熔斷。
            現(xiàn)在開始測量AC輸入電壓和電流。我們建議使用相應(yīng)等級的差分探頭和電流探頭。如果您使用鉗夾電流探頭測量未負載系統(tǒng)吸收的低AC輸入電流,實際上您會提高探頭看到的電流。為此,把線路導(dǎo)體簡單地多次循環(huán)通過鉗夾。記住,要把電流讀數(shù)除以圈數(shù)。
            現(xiàn)在準備就緒,被測器件即將通電。但在通電前,應(yīng)在AC輸入上使用示波器或功率分析儀,并啟用記錄功能,確保捕獲涌入電流和瞬態(tài)事件。我們建議使用PA1000功率分析儀,這是為快速、高效、準確地測量功耗而優(yōu)化的。這臺功率分析儀還提供了涌入電流模式,測試電流涌入期間的峰值。
          功率分析儀,如PA1000,可以簡便地完成AC電路開機測試。

            如果您想記錄啟動電流,可以使用擁有連續(xù)記錄功能的功率分析儀。在開機過程中發(fā)生災(zāi)難性故障時,這有助于保存數(shù)據(jù),因此我們強烈推薦這種作法。

            需要更多的洞察力?可以使用DPOPWR示波器軟件,其提供了全面功率分析套件,可以幫助您在開機過程中測量和調(diào)試輸入AC功率參數(shù)。
          這是使用DPOPWR或MSO5000B示波器進行AC功率分析的實例。

            一旦檢查了各個項目,現(xiàn)在可以啟用低壓控制電路,全面了解相關(guān)信息。

            敬請關(guān)注后續(xù)博文,了解檢查控制邏輯有關(guān)的各個步驟。
          電源測量小貼士, Part 4 of 10: 數(shù)字和模擬控制電路調(diào)試
            在這篇博文中,我們將向您介紹檢查電源設(shè)計控制邏輯的基礎(chǔ)知識。

            毋庸置疑,這是設(shè)計最重要、也是最復(fù)雜的部分。在這個階段,您將執(zhí)行測試,以便獲得正確補償、電壓、定時和頻響,具體任務(wù)包括:
          在開機過程中測量開關(guān)器件驅(qū)動裝置上的調(diào)制信號,檢驗不同負載下開關(guān)頻率、脈寬和占空比是否正確
          通過使用控制環(huán)路中的寬帶變壓器注入掃頻信號,檢查環(huán)路頻響
          使用頻響分析儀,測量電路的增益和相位
            在這個時候,必需監(jiān)測輸入電壓和輸出電路及反饋或控制信號。這有助于確保環(huán)路響應(yīng)(如臨界阻尼),而這正是輸入電壓和輸出負載變化期間您所預(yù)期的東西。
            為檢驗電路操作,如軟啟動、短路保護、關(guān)斷和電流折回,您需要監(jiān)測輸入電壓和輸出電壓及控制信號。
            對數(shù)控電壓,您需要捕獲模擬信號、數(shù)字信號和串行總線控制信號的時間相關(guān)視圖。您可以查看系統(tǒng)操作,確保系統(tǒng)正確運行。
            對這些任務(wù),一定要考察DPOPWR高級功率測量和分析軟件,其把泰克基于Windows的示波器轉(zhuǎn)換成完善的調(diào)試和分析工具。這個軟件可以為多項測量配備自定義設(shè)置。您還可以測量和分析開關(guān)器件中的功耗,分析磁性參數(shù),所有這一切都從一次采集中獲得。
            一旦全面調(diào)試設(shè)計的控制邏輯,應(yīng)檢查電源階段的開關(guān)特點。在下一篇博文中,我們將介紹怎樣檢查電源階段的開關(guān)特點。如需進一步了解DPOPWR軟件,請參閱:http://www.tek.com/datasheet/dpopwr-datasheet-0。
          電源測量小貼士, Part 5 of 10: 測試功率階段開關(guān)特點
            在這篇博文中,我們將介紹在無負載、標稱負載和全負載條件下測試開關(guān)特點的各個步驟。

            在開始前,應(yīng)確保所有開關(guān)的啟動、關(guān)閉、占空比和死區(qū)時間都符合預(yù)期,如MOSFETs和IGBTs。泰克示波器包括一種高分辨率模式,從根本上提高了垂直分辨率,因此可以使用最高精度計算啟動和關(guān)閉時間。

            盡管電源的幾乎所有組件都會發(fā)生能量損耗,但絕大部分損耗發(fā)生在開關(guān)晶體管從關(guān)閉狀態(tài)轉(zhuǎn)換到打開狀態(tài)(或反之)的時候。使用所有開關(guān)周期的啟動損耗和關(guān)閉損耗的軌道圖(在DPOPWR軟件中提供),可以更加全面地了解開關(guān)損耗,如下圖所示。
          開關(guān)/關(guān)閉軌道圖。

            這時,要檢查所有 VGS 信號的噪聲和碰撞。這是一個重要步驟,因為這個端子上任何非預(yù)計的毛刺都可能會導(dǎo)致不想要的啟動和擊穿。為保證不可能出現(xiàn)擊穿,應(yīng)檢查同步整流器或H橋接器的死區(qū)時間。

            然后,檢驗門驅(qū)動器和相關(guān)儀器之間的定時關(guān)系,確保其與設(shè)計的計算結(jié)果相符。

            為安全地測量非參考地電平的信號,我們建議使用相應(yīng)額定電壓的差分探頭。一定不要浮動示波器,因為其會導(dǎo)致不好的結(jié)果。您可以考慮TDP1000、TDP0500或P6251高壓差分探頭,具體視應(yīng)用而定。每種探頭都實現(xiàn)了高速寬帶采集和測量功能,提供了杰出的電氣性能、通用被測器件連接,而且都使用方便。

            毫無疑問,很難測量浮動門信號。我們建議在門驅(qū)動器輸入上探測信號,這樣您可以檢驗頂部FET與底部FET之間的死區(qū)時間。

            在最低電壓轉(zhuǎn)換速率上測量電流也可以幫助您最大限度地減少串?dāng)_,改善精度。

            如需了解開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗測試要點,請參閱本系列博文中的第6篇博文。
          開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗測試, Part 6 of 10
            在電源測試系列的本篇博文中,我們將介紹測試電源開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗的各個步驟。

            記住,經(jīng)過電源開關(guān)和磁性器件的開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗對系統(tǒng)整體損耗有著巨大影響,正因如此,應(yīng)盡可能精確地使這些損耗達到最小,這一點至關(guān)重要。
          MSO5000B示波器測量開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗的實例。
            首先,記住不要單純依賴產(chǎn)品技術(shù)資料,它們經(jīng)常會產(chǎn)生誤導(dǎo),特別是在計算開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗時。此外,它們沒有考慮工作條件和電路寄生信號,也沒有提供完善的損耗信息。
            在測試時,首先應(yīng)檢查整流器開關(guān),如電路活動和負載時MOSFETs、IGBTs和磁性器件的損耗。由于大多數(shù)磁性器件采用定制設(shè)計,如開關(guān)器件,因此最好在工作狀態(tài)下測試磁性器件。這一步可以正確分析其特性。
          MSO5000B上顯示的磁性特性分析。

            在測量開關(guān)損耗時,我們推薦使用MS05000B示波器,并配備相應(yīng)的電壓探頭和電流探頭。為實現(xiàn)最好的精度和可重復(fù)性,在進行任何測量前應(yīng)先校正探頭時延,為了保證確定周期內(nèi)結(jié)果的準確性,應(yīng)使用濾波功能和平均功能。
            在使用示波器測量開關(guān)損耗時,先把電壓乘以電流。然后取啟動或關(guān)閉過程中得到的功率波形的中間值。當(dāng)然,功率分析軟件可以大大簡化這個過程,因此我們強烈推薦使用功率分析軟件。
            為動態(tài)測試磁性功率損耗和磁性屬性,建議使用我們的DPOPWR軟件。這個軟件提供了自動計算功能,在電路活動時,可以測量高功率開關(guān)上的可重復(fù)開關(guān)損耗和傳導(dǎo)損耗。
          這是MSO5000B示波器測量的磁性損耗實例。

            在一切就緒后,您可以轉(zhuǎn)向第7篇博文,其將介紹效率和規(guī)范測試。
          檢查電源指標: Part 7 of 10
            在本篇電源測試博文中,我們將介紹電源指標檢查。在這個部分,您要確保設(shè)計滿足效率標準和其他要求的規(guī)范,如線路和負載穩(wěn)壓、紋波、噪聲、短路保護、瞬態(tài)響應(yīng)和效率。
            首先檢查負載穩(wěn)壓。我們建議在設(shè)計的輸入端子和輸出端子上直接使用高精度DMM。然后,從最小值到最大值掃描負載。記住,非常重要的一點是在測試過程中使輸入電壓保持恒定?,F(xiàn)在,記錄輸出電壓相對于負載的任何變化,確定負載穩(wěn)定。
            其次,檢查線路穩(wěn)壓。可以使用類似的設(shè)置測試線路穩(wěn)壓,其中在恒定負載中測量輸出電壓,同時從最小值到最大值掃描輸入AC電壓。這種測試對通用輸入電源尤其重要。
            第三,檢查全負載時的噪聲和紋波。對這項任務(wù),我們推薦使用為高分辨率測量優(yōu)化的示波器或高精度圖形采樣萬用表。示波器一般會提供更高的帶寬,而萬用表的精度則要更高。
          圖形采樣DMM7510可以捕獲快速瞬態(tài)事件和小紋波。

            吉時利DMM7510圖形采樣萬用表是一個優(yōu)秀的備選方案。這臺儀器有一個18位1 MS/s數(shù)字化器,可以捕獲快速瞬態(tài)信號和小紋波。同時,它可以在5英寸大型觸摸屏界面上顯示結(jié)果。

            在進行規(guī)范檢查時,一定要使用功率分析儀記錄效率,同時掃描所有工作條件下的輸入電壓和輸出負載。我們最新推出的PA3000多通道功率分析儀提供了理想的解決方案,它提供了0.04%精度和10mW待機功率功能,可以從無負載到全負載準確地進行效率和功率測量。下圖是AC-DC電源效率測量的典型設(shè)置。
          AC-DC電源效率測量設(shè)置。

            如果您打算使用示波器測量低電平電壓,如紋波,應(yīng)使探頭衰減達到最小(可能時采用1X或2X)。這將在示波器測量中提供最好的信噪比。此外,在線路或負載穩(wěn)壓測試中,永遠不要依賴AC電源或電子負載讀數(shù),而是應(yīng)在電源端子上直接使用精密儀器。這將提供更好的測量精度,最大限度地減少輸入電纜和輸出電纜中的電壓暫降。

            最后,如果您打算測量高頻噪聲和紋波,應(yīng)使用低電感接地彈簧探頭適配器(或類似裝置)。標準探頭地線可以作為天線,從熒光燈和其他來源中撿拾環(huán)境噪聲,可能會在讀數(shù)中產(chǎn)生明顯誤差。

            在第8篇博文中,我們將討論電源線一致性測試。
          電源測量小貼士, Part 8 of 10: 電源線一致性測試
            第一臺原型應(yīng)已經(jīng)能夠啟動運行。現(xiàn)在應(yīng)檢查設(shè)計,確保其滿足本地電源線標準。

            在開始測試前,應(yīng)該指出,大多數(shù)AC-DC電源都是為使用AC墻上插座而設(shè)計的。因此,它們需要滿足嚴格的功耗和功率質(zhì)量標準,如IEC 62301待機功率和IEC 61000-3-2電流諧波標準。應(yīng)一直在設(shè)計周期早期執(zhí)行一致性測試,以幫助您避免未來發(fā)生的問題。
            在下面的視頻中,泰克工程師Seshank Malap介紹了怎樣使用泰克功率分析儀測量手機充電器的待機功率,以確保設(shè)計滿足IEC 62301。必需注意,在測量低的和失真的待機功率時,必需復(fù)核連接。一定要確保連接電流并聯(lián)源側(cè)的電壓表通道,從而不會測量經(jīng)過電壓表阻抗的電流。這一步非常關(guān)鍵,因為線序不正確可能會導(dǎo)致明顯錯誤。
            連接市電的幾乎所有電氣設(shè)備和電子設(shè)備,包括16A及以下的額定輸入電流,都必須滿足IEC 61000-3-2。在下面的視頻中,Seshank演示了使用PA1000功率分析儀及PWRVIEW軟件在標準微波爐上執(zhí)行諧波測試。

            泰克為CE標志、能源之星、IEC待機和諧波標準提供了經(jīng)濟的預(yù)一致性測試解決方案。對預(yù)算有限的設(shè)計團隊,PA1000功率分析儀提供了理想的解決方案。這臺儀器擁有20 uA電流測量功能,可以測量最低5 mW的待機功率。
          泰克PA1000功率分析儀

            對一致性測試應(yīng)用,泰克接續(xù)盒是必備工具,它為負載測量和源側(cè)測量提供了兩個不同的端子。此外,接續(xù)盒使用方便安全,可以獲得準確的低功率讀數(shù),執(zhí)行待機功率測試。

            本系列博文共10篇,第9篇將考察EMI調(diào)試和預(yù)一致性測試。另外,對高效應(yīng)用的多通道測試,歡迎品鑒我們最新的PA3000功率分析儀。
          電源測量小貼士, Part 9 of 10: EMI調(diào)試和預(yù)一致性測試
            這一系列博文共10篇,本文是第9篇,將重點考察EMI和RFI 測試。由于測試難度和測試成本,這個階段經(jīng)常被忽略。但是,隨著設(shè)計期限的迫近,忽略這個步驟可能會導(dǎo)致意外事件和延遲。我們強烈推薦在設(shè)計早期測試EMC問題,以避免不必要的電路板返工和延期。
            因此,您可以利用頻譜分析儀和預(yù)先確定的EMI一致性測試模板,在去測試機構(gòu)進行一致性測試之前找到這些討厭的EMI問題。
            泰克RSA306B 頻譜分析儀是一個優(yōu)秀的選項。這種經(jīng)濟的基于USB的儀器提供了實時頻譜分析功能,同時可以確定持續(xù)時間很短的EMI突發(fā)。這臺儀器的長記錄時間還可以捕獲偶發(fā)突發(fā)。
          使用RSA306B實時頻譜分析儀進行預(yù)一致性EMI掃描的實例。

            為了迅速找到EMI來源,我們建議使用混合域示波器(MDO),其中內(nèi)置頻譜分析儀和近場探頭。憑借倍受信賴的MDO和示意圖,您可以簡便地測量頻譜峰值,找到根本原因。
            在評測MDO時,其他儀器很難望MDO4000C的項背,因為它可以在一臺儀器上同時查看設(shè)計的時域性能和頻域性能。MDO4000C配備強大的觸發(fā)、搜索和分析工具,可以找到模擬和數(shù)字異常事件。通過這臺儀器,您可以解碼串行總線和波形,隨時查看RF頻譜。最后,儀器標配的SignalVu-PC軟件可以對Wi-Fi和藍牙無線信號執(zhí)行全面分析和調(diào)試。
          使用MDO4000C示波器上的同步軌跡和頻譜軌跡進行EMI調(diào)試的實例。

            如需操作指引及了解怎樣執(zhí)行EMI測試和調(diào)試,可以下載實用EMI調(diào)試應(yīng)用指南。

            在這一系列博文的最后一篇博文中,我們將考察設(shè)計驗證,幫助您面向下一輪設(shè)計做好準備。


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