非插入式器件的測量

一般測量中都忽略了轉(zhuǎn)接器的影響，認(rèn)為所測結(jié)果就是被測件實(shí)際值，無形中將轉(zhuǎn)接器的損耗和時延加在被測件上，從而無法得到被測件的準(zhǔn)確值?；蛘邷y試中用不同的校準(zhǔn)方法，例如，特性未確定直通法、特性確定直通法、等適配器交換法、適配器移除等，減少轉(zhuǎn)接器對被測件的影響，但這些方法無論優(yōu)劣都無法直接去除轉(zhuǎn)接器對非插人器件的影響。本文通過單端口測試未知特性的轉(zhuǎn)接器(如雙陽和雙陰接頭)，根據(jù)算法和假設(shè)條件，使級聯(lián)后理論計算值接近實(shí)際測量值，進(jìn)而確定轉(zhuǎn)接器的值，最終得到被測件的準(zhǔn)確值，從而去除轉(zhuǎn)接器在測試中對被測件的影響。

1 原理

信號流圖(如圖1所示)結(jié)合散射參數(shù)是分析微波網(wǎng)絡(luò)和微波測量系統(tǒng)的簡便有效方法。流圖公式亦稱梅森不接觸環(huán)法則(Mason’s non-touching loop rule)，簡稱梅森公式。根據(jù)梅森公式可以直接求出信號流圖中任意兩點(diǎn)之間的傳輸值。

2 驗證過程

適配器有很多種，為了研究方便和具有普遍性，本試驗用雙陰和雙陽做驗證，其他類型的適配器原理和過程也是相同。

實(shí)驗中要用到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀1臺(100 MHz～40 GHz)、電纜2根、2.4 mm的校準(zhǔn)件1套(AV31123，校準(zhǔn)件和電纜精度要高，誤差要小)，可編程步進(jìn)衰減器1個。設(shè)置線性頻率范圍1～21 GHz，每100 MHz取一個點(diǎn)，掃描點(diǎn)數(shù)201，中頻帶寬100 Hz。在矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀兩端口接電纜，對電纜進(jìn)行全雙端口SOLT校準(zhǔn)后，電纜端口為校準(zhǔn)端面，去處12項系統(tǒng)誤差。準(zhǔn)備工作完成后，使用不同的方法進(jìn)行測試。方法1中，雙陰和雙陽值是接50Ω匹配負(fù)載計算得到;方法2中，雙陰和雙陽值是通過接可編程步進(jìn)衰減器計算得出。下面為2種方法的詳細(xì)過程。

2.1 方法1

端口1接雙陽接頭后，分別連接開路器、短路器、50 Ω匹配負(fù)載(如圖2所示)測出反射系數(shù)分別為ΓAO、ΓAS、 ΓAL。端口2接雙陰接頭后，分別連接開路器、短路器、50Ω匹配負(fù)載(如圖3所示)，測出反射系數(shù)分別為ΓBO、ΓBS、Γ BL。然后端口1直接加開路器、短路器、50 Ω匹配負(fù)載，測出反射系數(shù)分別為Γ1O、Γ1S、Γ1L(如圖4所示)。 端口2直接加開路器、短路器，測得反射系數(shù)分別為Γ2O、Γ2S、 Γ2L(如圖5所示)。

圖5 端口2接開 路器、短路器、匹配負(fù)載

由式(2)可以得到雙陽、雙陰的方程組 [SA]、[SB]分別為：

式中：m11、m12、m21 、m22為待測雙陽接頭參數(shù)值,n11、n12、 n21、n22為雙陰接頭的S參數(shù)值。假設(shè)網(wǎng)絡(luò)互易有，m12 = m21 n12 = n21，則方程組可解出雙陽S參數(shù)矩陣SA和雙陰S參數(shù)矩陣SB。分別為：

2.2 方法2

用2O dB衰減器作為負(fù)載替代方法1中50 Ω匹配負(fù)載，用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測出衰減器連接雙陰、雙陽的反射系數(shù)ΓAL、ΓBL，測得2O dB衰減器的反射系數(shù)分別為Γ 1L ，Γ2L。其他步驟類似于方法1。計算出S并和方法1中的對比。

3 驗證

為了上述方法的可行性，用2種方法驗證雙陽雙陰接頭的計算值。

3.1 級聯(lián)雙陽雙陰

首先計算出雙陰雙陽級聯(lián)后的S參數(shù) 。級聯(lián)二端口網(wǎng)絡(luò)的S參數(shù)不能直接計算出，需將S參數(shù)轉(zhuǎn)換為T參數(shù)，求出級聯(lián)值[TAB] - [TA][TB]，再將級 聯(lián)后的[TAB]轉(zhuǎn)換為[SAB]。將雙陽雙陰級聯(lián)(如圖6所示)。

圖6 雙陽雙陰級聯(lián)上述方法得到的S參數(shù)為參考值，將這些值和由梅森公式計算得到的S參數(shù)對比。將所有的測試數(shù)據(jù)用MATLAB軟件處理，仿真得到最終級聯(lián)后的S參數(shù)曲線圖和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀中測試的S參數(shù)曲線對比。

由圖7可以看到S12、 S21，的差別很小，但S11、S22之間有些差別。方法1中接50 Ω匹配負(fù)載和方法2中接20 dB衰減器的兩條曲線基本一致。雙陽雙陰級聯(lián)后不管接那種負(fù)載，其級聯(lián)值都為定值。存在差別的原因是20 dB衰減器不是標(biāo)準(zhǔn)器件，雙陽雙陰級聯(lián)時有反射存在。

圖7 雙陽雙陰接20 dB衰減器計算的和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測試的S11、S22

S11理論計 算值的曲線圖和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試曲線非常接近。在低頻段，S22理論計算值的曲線圖和矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的測試曲線一致。在高頻時理論計算值的曲線圖要好一些，是因為反射系數(shù)在-40 dB以下，并且隔離度較高。事實(shí)上，直通測試時雙陽雙陰的連接端口受到影響。因此理論計算值比測量值更精確。

試驗中對標(biāo)準(zhǔn)件，轉(zhuǎn)接器和衰減器有多次的連接，每次連接都會在不同程度引人人為誤差。標(biāo)準(zhǔn)件的值是通過校準(zhǔn)矢網(wǎng)后測試得到，沒有采用更高一級的定標(biāo)系統(tǒng)測試。傳輸參數(shù)的測量對得到s參數(shù)是不可缺少的，但實(shí)驗中只是通過測量反射系數(shù)間接地得到傳輸參數(shù) 種種因素造成結(jié)果上必然存在一定的誤差。對這些誤差進(jìn)行一定的修正就可以得出更好的結(jié)果。

3.2 可編程步進(jìn)衰減器

下面的驗證使用可編程步進(jìn)衰減器，被測件為衰減器衰減值分別為0、10 dB、20 dB、30 dB、40 dB、50 dB、60 dB。衰減器的S參數(shù)由實(shí)驗數(shù)據(jù)計算得到(如圖8～10所示)。

由上面的計算結(jié)果可以看到：沒接雙陽雙陰接頭計算得到的可編程步進(jìn)衰減器的S參數(shù)得到預(yù)期的結(jié)果。衰減器的計算值經(jīng)過驗證與安捷倫給定的傳輸參數(shù)與反射參數(shù)相符合。

4 結(jié)束語

本文是驗證性實(shí)驗，通過計算雙陰和雙陽轉(zhuǎn)接器去除它們在測試中對非插入器件的影響。將普遍適配器的問題特殊化和簡單化，但是這對其他適配器的測量，和進(jìn)一步對端口延伸和去嵌入技術(shù)的研究有了理論上的突破口。