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          為ASIC和SoC選擇最優(yōu)嵌入式存儲器IP

          作者: 時間:2016-12-08 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          在傳統(tǒng)的大規(guī)模ASIC和SoC設(shè)計中,芯片的物理空間大致可分為以下三部分:

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201612/328023.htm

          1.用于新的定制邏輯

          2.用于可復(fù)用邏輯(第三方IP或傳統(tǒng)的內(nèi)部IP)

          3.用于嵌入式存儲

          如圖1所示,當(dāng)各廠商為芯片產(chǎn)品的市場差異化(用于802.11n的無線DSP+RF、藍牙和其他新興無線標準)而繼續(xù)開發(fā)各自獨有的自定義模塊,第三方IP(USB核、以太網(wǎng)核以及CPU/微控制器核)占用的芯片空間幾乎一成未變時,嵌入式存儲器所占比例卻顯著上升。

          圖1:當(dāng)前的ASIC和SoC設(shè)計中,嵌入式存儲器在總可用芯片空間中所占比例逐漸升高

          Semico Research 2013年發(fā)布的數(shù)據(jù)顯示,大多數(shù)SoC和ASIC設(shè)計中,各式嵌入式存儲器占用的芯片空間已超過50%.此外,許多大規(guī)模SoC嵌入式存儲器的使用目的和主要性能也各不相同,如圖2所示。

          圖2:多核SoC的各種嵌入式存儲器IP

          由于可以根據(jù)設(shè)計目的,通過采用正確的SoC存儲器類型來優(yōu)化設(shè)計,因此,對于設(shè)計師來說,利用各種存儲器IP具有非常重要的意義。設(shè)計師可通過恰當(dāng)分配各種存儲器IP所占比例,實現(xiàn)速度、功耗、空間(密度)以及非易失性等各種性能參數(shù)的優(yōu)化。

          嵌入式存儲器的主要設(shè)計標準

          各種應(yīng)用設(shè)計中,最佳存儲器IP的確定主要基于以下5個驅(qū)動因素,如圖3所示:

          1.功率

          2.速度

          3.可靠性/良率

          4.密度

          5.成本

          圖3:確定存儲器IP的主要因素

          通過對上述各性能決定要素進行權(quán)衡,可得到最優(yōu)解決方案。許多情況下,存儲器編譯器 可根據(jù)輸入存儲器設(shè)計生成流程中的各種驅(qū)動因素,自動生成性能經(jīng)過優(yōu)化的特定存儲器IP.同樣重要的是,存儲器IP的支持性結(jié)構(gòu)應(yīng)適用可靠的驗證方法,且生成的IP良率最高。最后,為實現(xiàn)產(chǎn)量與質(zhì)量的最優(yōu)化,存儲器編譯器還應(yīng)直接生成GDSII,無需人工干預(yù)或調(diào)整。其他要素還包括良好的設(shè)計余量控制、對自動測試圖形向量生成和內(nèi)建自測試(BIST)的支持。此外,最好具備通過BIST的單步執(zhí)行進行硅片調(diào)試的功能。

          功率

          強大的編譯器加之先進的電路設(shè)計,可極大地降低動態(tài)功耗(CV2f),并可通過利用多芯片組、先進的計時方法、偏置方法、晶體管Leff特征控制以及多重供應(yīng)電壓(VT)優(yōu)化等技術(shù)最大限度地降低泄露功率。設(shè)計師可綜合運用這些存儲器技術(shù),通過電壓和頻率的調(diào)整以及多電源域的利用,得到最理想的結(jié)果。

          速度

          為獲得一流的存儲器性能,先進設(shè)計技術(shù)的充分利用至關(guān)重要。設(shè)計師可利用存儲器編譯器對速度(比如存取時間或循環(huán)時間)、空間、動態(tài)功耗以及靜態(tài)功耗(泄露功率)等因素進行權(quán)衡,得到所需要的最優(yōu)組合。在通過多種VT技術(shù)、多芯片組以及多種存儲單元等的綜合選用,改進存儲器塊的同時,輔以節(jié)能設(shè)計技術(shù),同樣可以獲得較高速度。

          可靠性與良率

          晶體管體積和能耗的大幅下降,雖然使噪聲容限明顯減小,但也對極深亞微米芯片的可靠性帶來了影響。因此,為提高良率,改善運行的可靠性,需采用ECC和冗余技術(shù)。

          由于今天SoC的位元數(shù)已十分龐大,因此,嵌入式存儲器便成為了決定SoC良率的最重要因素。在提高存儲器良率方面,由于可減少批量生產(chǎn)時間,控制測試與修復(fù)成本,因此專有測試與修復(fù)資源具有重要作用。采用一次可編程存儲技術(shù)制造的存儲器IP,在芯片制造完成后,發(fā)生存儲信息失效時,其內(nèi)置自修復(fù)功能便可對存儲器陣列進行修復(fù)。理想情況下,為在生產(chǎn)測試過程中,快速進行修復(fù)編程,存儲器編譯器的修復(fù)功能需與硅片測試工具緊密集成。

          對于設(shè)計師來說極其重要的是,可根據(jù)需要選擇由晶圓代工企業(yè)制造位單元,或者進行自我設(shè)計。需進行定制設(shè)計時,與理解定制設(shè)計且可為各流程節(jié)點提供硅片數(shù)據(jù)的嵌入式存儲器供應(yīng)商進行合作,具有極大的幫助作用。有了先進的設(shè)計技術(shù),即使不需要額外的掩膜和流程修正,亦可最大限度地提高良率和可靠性。

          密度

          在存儲器IP的選擇上一個重要的考慮因素是,能否為各流程節(jié)點選擇不同的存儲器密度。先進的存儲器編譯器允許設(shè)計師在密度與速度之間進行權(quán)衡,比如,是選擇高密度(HD)位單元還是選擇高電流位單元。

          設(shè)計師還可借助靈活的列多路復(fù)用等功能,通過控制存儲器占用形狀(可變寬度、可變高度,或正方形),優(yōu)化SoC布局規(guī)劃,進而最大限度地減小存儲器對芯片整體大小的影響。部分存儲器編譯器還支持sub-words(位和字節(jié)可寫)、功率網(wǎng)格生成等功能,可最大限度地優(yōu)化功率輸出。此外,靈活的端口分配(一個端口用于讀或?qū)?,第二個端口用于讀和寫)亦可節(jié)省SRAM、CAM和寄存器文件的占用空間。

          兩種嵌入式存儲器IP架構(gòu)的密度關(guān)系如圖4所示。與6晶體管(6T)位單元相比,位容量一定時,單晶體管(1T)位單元最多可減少50%的芯片空間。在設(shè)計中,對速度要求較低而密度要求較高時,1T式架構(gòu)是較為理想的選擇。由于可采用批量CMOS流程,省卻了額外的掩膜環(huán)節(jié),因而有益于成本壓縮。在高速應(yīng)用方面,設(shè)計師可采用6T甚至8T位單元來滿足其速度要求。

          圖4:存儲器密度與不同嵌入式存儲器IP架構(gòu)的比例關(guān)系

          成本

          對于SoC ASIC來說,為最大限度壓縮成本,與次優(yōu)IP(常稱為“免費IP”)相比,設(shè)計師更愿選擇“節(jié)省空間”的IP參數(shù)。盡管有許多存儲器IP參數(shù)可供設(shè)計師免費選用,但在產(chǎn)品的整體收益性上,卻并不總是存在經(jīng)濟性最好的解決方案。在很多情況下,與“免費”存儲器IP相比,通過改善獲批的嵌入式存儲器IP的密度與性能來壓縮制造成本,其效果更為顯著。

          在產(chǎn)品的整個壽命過程中,存儲器體積的優(yōu)化對量產(chǎn)成本的影響如表1所示。本表中,存儲器IP所占用的芯片空間以百分比表示??赏ㄟ^芯片成本、量產(chǎn)效率以及產(chǎn)品壽命,計算高密度存儲器的成本壓縮效果。節(jié)省的IP空間根據(jù)圖4得出。從圖中可以看出,1T和6T存儲器的密度增量比值約為2:1.

          表1:高密度IP與成本節(jié)約

          嵌入式存儲器IP選用指南

          為讓您對存儲器設(shè)計中的可選要素有一個了解,現(xiàn)將帶有部分最先進功能的收費嵌入式存儲器類型總結(jié)如下。

          單端口(6T)和雙端口(8T)SRAM IP

          由于這類存儲器架構(gòu)大多適用于主流CMOS制造流程,無需額外的流程環(huán)節(jié),因此基于傳統(tǒng)6T存儲單元的靜態(tài)RAM存儲器塊已成為ASIC/SoC制造中的主流。6T存儲單元采用了經(jīng)過實踐檢驗的由晶圓代工廠生產(chǎn)的可用于高速度、低功耗設(shè)計的6T/8T位單元,是大規(guī)模程序或數(shù)據(jù)存儲器塊的理想器件。6T存儲單元可用于存儲能力從幾位到幾兆位的存儲陣列。

          根據(jù)設(shè)計師是采用針對高性能還是針對低功耗優(yōu)化的CMOS流程,采用此種結(jié)構(gòu)的存儲陣列,經(jīng)過設(shè)計,可滿足多種不同的性能需求。經(jīng)高性能CMOS流程制造的SRAM塊,在功耗得到降低的同時,在40nm和28nm等高級流程節(jié)點的存取時間可降低到1ns以下。隨著流程節(jié)點的推進,外形尺寸的縮小,采用傳統(tǒng)6T存儲單元構(gòu)建的靜態(tài)RAM,其單元尺寸將更小,存取用時也更短。

          SRAM存儲單元的靜態(tài)特性使其可保留最小數(shù)目的支持電路,只需要對地址進行解碼,并向解碼器、傳感和計時電路的設(shè)計提供信號即可。

          單端口(6T)和雙端口(8T)寄存器文件IP

          對于快速處理器緩存和較小的存儲器緩沖(最高約每個宏塊72Kbit)來說,這類寄存器文件存儲器IP是個不錯的選擇。寄存器同時具備占用空間最小、性能最快等特點。

          單層可編程ROM IP

          這種結(jié)構(gòu)功耗和速度均相對較低,特別適用于空間有限的微碼的存儲,固定數(shù)據(jù)的存儲,或體積穩(wěn)步遞增的應(yīng)用程序的存儲。這類IP可支持多芯片組和不同長寬比,既縮小了芯片體積,又獲得了最佳速度。為加快設(shè)計周期,部分IP還提供了用以驅(qū)動存儲器編譯器的編程腳本語言。

          內(nèi)容尋址存儲器IP

          由于速度更快,能耗更低,且與用于執(zhí)行大量搜索任務(wù)的應(yīng)用程序的算法途徑相比,占用芯片空間更小,因此這類IP大多作為TCAM(三進制)或BCAM(二進制)IP,用于搜索引擎類應(yīng)用程序。通常情況下,搜索可在單個時鐘周期內(nèi)完成。TCAM和BCAM通常用于包轉(zhuǎn)發(fā)、以太網(wǎng)地址過濾、路由查詢、固件搜索、主機ID搜索、存儲器去耦合、目錄壓縮、包分類以及多路高速緩存控制器等

          單晶體管SRAM

          這種結(jié)構(gòu)雖然速度有所下降,但密度極高,可用于180 nm,160 nm,152 nm,130 nm,110 nm,90 nm以及65 nm流程。尤其適用于需要大量片上存儲空間--大多大于256Kbit,但不需要極高的存取速度的ASIC/SoC程序,以及空間有限且存儲器塊存在泄露電流的設(shè)計。本結(jié)構(gòu)可生成與SRAM工作原理相似的存儲器陣列,但其基礎(chǔ)為單晶體管/單電容(1T)存儲單元(如動態(tài)RAM所用)。

          由于采用了6T存儲陣列,因此在相同的芯片空間上,單晶體管SRAM陣列的存儲能力更強,但需要在系統(tǒng)控制器和邏輯層面,了解存儲器的動態(tài)特性,并在刷新控制的提供上發(fā)揮積極作用。在某些情況下,為使其看起來像簡單易用的SRAM陣列,也可能對DRAM及其自身控制器進行集成。通過高密度1T宏塊與某些提供刷新信號的支持邏輯的整合,可使存儲單元的動態(tài)特性透明化,設(shè)計師可在實施ASIC和SoC解決方案時,將


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          關(guān)鍵詞: ASICSo

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