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          BiFET功放的集成功率管理為3G手機省電多達(dá)25%

          作者: 時間:2016-12-21 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
            消費者對數(shù)據(jù)和多媒體的需求促使全世界的電信運營商把2G升級至3G 或以上的網(wǎng)絡(luò)。這種趨勢給了移動設(shè)備設(shè)計傳遞了很強烈的信號。

            3G手機除了提供有競爭力的價格,還必須傳輸更高的功率,更優(yōu)的線性度及更好的效率。最重要的是,3G手機必須有更長的通話時間,因為 3G 用戶需要耗費更多時間使用他們的手機。

            盡管在過去幾年中,電池技術(shù)不斷改進(jìn),但是仍然落后于功能擴(kuò)展的需求。設(shè)計師必須減少手機功耗來滿足高功率輸出和更長通話時間的需求,這必須靠手機的半導(dǎo)體設(shè)備上來實現(xiàn)。由于功率放大器 (PA) 是當(dāng)前龐大需求的其中一個組件,著重于通過從功率控制來減少電流消耗是有意義的。

            與此相對應(yīng),眾多的功率控制功能可以集成到功放模塊上。集成功率控制功能不僅僅強調(diào)當(dāng)前功耗的問題,并提供了更有效的手機設(shè)計方法。芯片集成允許手機設(shè)計師不使用單獨的DC/DC轉(zhuǎn)換器和旁路電容,來優(yōu)化功率管理和獲取更長的通話時間,同時減少PCB板的復(fù)雜性。

            優(yōu)化低功率輸出的需求

            控制功放功耗的一種方式是在較寬的輸出功率范圍內(nèi)提高效率。這可以通過評估 CDG(CDMA Development Group)或者 GSMA(GSM Association)在 3G 網(wǎng)絡(luò)中的手機功率分布曲線圖,優(yōu)化功放效率來實現(xiàn)。圖1為 3G 手機制造商使用的 GSMA的功率分布曲線。

          圖1 3G網(wǎng)絡(luò)的GSMA 功率分布曲線


            顯而易見,手機大部分時間工作在低功率水平,大約在- 4dBm的功率級別。假設(shè)在 PA 和天線之間的電路損失大約為 3dB,那么 PA的輸出功率大約為- 1dBm。

            在低功率級別(低于 0dBm), 功放主要消耗的是靜態(tài)電流。- 1dBm輸出功率時,功放的靜態(tài)電流通常約為50mA。通過在低功率級別,減少靜態(tài)電流提高功放效率,設(shè)計師可以大量的減少功率損耗。

            然而直到最近,這都還不是可行的。用于手機的典型雙狀態(tài)的單鏈路PA的只能在最大額定功率下進(jìn)行優(yōu)化。這使得手機在低功率水平下工作時的效率很低。

            當(dāng)然,通過增加外部的 DC/DC 轉(zhuǎn)換器和偏置電壓控制可以優(yōu)化單鏈路功放在低功率輸出時的效率,以達(dá)到增長通話時間。但是就像上面所提到的,一個 DC/DC轉(zhuǎn)換器也同時增加手機的尺寸及成本。此外,這將使設(shè)計變復(fù)雜,因為手機必須在不同的模擬控制狀態(tài)下進(jìn)行校準(zhǔn)。

            兩路功放的多級優(yōu)化

            ANADIGICS 的 InGaP-Plus技術(shù), 通過允許設(shè)計師使用多條增益鏈路來設(shè)計功放,解決了功放的優(yōu)化問題。這使得功放在不同功率水平可以進(jìn)行獨立的優(yōu)化。

            通常意義上所說的BiFET 過程, InGaP-Plus集成了 pHEMT(pseudomorphic High Electron Mobility FET)和 HBT(Heterojunction Bipolar Transistor)在同一的晶片上(圖2)。

          圖2 BiFET 工藝


            同時高性能的射頻開關(guān)(pHEMT)共存在相同的晶體上,BiFET工藝可以用于設(shè)計多種增益鏈路的功放,并可以為每一增益鏈路進(jìn)行獨立的線性度和效率優(yōu)化。InGaP-Plus 使得設(shè)計師能夠獲取功放的最優(yōu)性能。

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