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          SAS的測試項目和測試碼型

          作者: 時間:2016-12-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          SAS規(guī)范定義了不同的測試點,以適應(yīng)不同的測試內(nèi)容的要求。這里面包括可以通過測試夾具測試到的測試點IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR,在芯片內(nèi)部的發(fā)射端在封裝之前的芯片Die上的測試點ET,以及接收端芯片經(jīng)過均衡后的測試點ER。下圖是SAS12G規(guī)范里的測試點定義框圖。

          根據(jù)SAS的測試規(guī)范要求,SAS測試包含3大部分內(nèi)容:發(fā)射端信號質(zhì)量測試、接收端抖動容限測試、互連阻抗和回波損耗測試。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201612/333362.htm

          發(fā)射端信號質(zhì)量測試,包括PHY,TSG,OOB測試,這部分主要是發(fā)射機的信號完整性方面的內(nèi)容。PHY包括一般特性的信號質(zhì)量,比如鏈路數(shù)據(jù)速率穩(wěn)定度,及SSC(擴頻時鐘)特性;TSG包括發(fā)射機信號質(zhì)量,比如共模參數(shù),信號幅度、VMA、WDP、邊沿時間和抖動參數(shù);OOB測試主要是測量進(jìn)行鏈路初始化時的OOB(out-of-band帶外信令)的幅度/共模等參數(shù)特性,詳細(xì)測試項目如下:

          ·Test 5.3.1: Physical Link Rate Long Term Stability

          ·Test 5.2.1: SSC Modulation Frequency

          ·Test 5.2.3: SSC Modulation Deviation and Balance

          ·Test 5.2.4: SSC DFDT (Informative)

          ·Test 5.3.2: Common Mode RMS Voltage Limit

          ·Test 5.3.3: Common Mode Spectrum

          ·Test 5.3.4: Peak-to-peak Voltage

          ·Test 5.3.5: VMA and EQ (Informative)

          ·Test 5.3.6: Rise and Fall Times

          ·Test 5.3.7: Random Jitter (RJ)

          ·Test 5.3.8: Total Jitter (TJ)

          ·Test 5.3.9: Waveform Distortion Penalty (WDP)

          ·Test 5.1.2: Maximum Noise During OOB Idle

          ·Test 5.1.3: OOB Burst Amplitude

          ·Test 5.1.4: OOB Offset Delta

          ·Test 5.1.5: OOB Common Mode Delta

          SAS接收端抖動容忍度測試,主要是測試接收端對于抖動的容忍度。這部分測試項目不多,但確是測試最復(fù)雜,挑戰(zhàn)性最大的。

          ·Test 1.1 - Stressed Receiver Device Jitter Tolerance Test Procedure for Trained 12 Gbit/s

          SAS的互聯(lián)測試,主要針對是阻抗不平衡和回波損耗的測試,反映系統(tǒng)互連和端口匹配等特性,測試內(nèi)容如下:

          ·TEST 5.4.1 - RX DIFFERENTIAL RETURN LOSS(SDD11)

          ·TEST 5.4.2 - RX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC11)

          ·TEST 5.4.3 - RX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD11)

          ·TEST 5.4.4 - TX DIFFERENTIAL RETURN LOSS (SDD22)

          ·TEST 5.4.5 - TX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC22)

          ·TEST 5.4.6 - TX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD22)

          對于上述測試內(nèi)容, UNH-IOL提供了詳細(xì)的一致性測試文檔,可以參考https://www.iol.unh.edu/testing/storage/sas/test-suites,查閱對應(yīng)的文檔。

          同時,SAS規(guī)范里還定義了多種測試碼型,在發(fā)射機測試、互連測試和接收機測試時有明確的測試碼型的要求,要求被測件能夠生成或者通過BIST方式生成,主要的測試碼型包括如下:

          ·HFTP(High Frequency Test Pattern)高頻測試碼型,1010101010 1010101010b,即重復(fù)的D10.2。

          ·MFTP(Middle Frequency Test Pattern)中頻測試碼型,1100110011 0011001100b,即重復(fù)的D24.3。

          ·LFTP(Low Frequency Test Pattern)低頻測試碼型,0111100011 1000011100b,即重復(fù)的D30.3。
          上述3個碼型主要用于測試發(fā)射機的性能參數(shù)測試。

          ·LBP(Lone-Bit Pattern)單獨位碼型,主要用于測試SATA性能。

          ·CJPAT(Compliant Jitter Tolerance Pattern),一致性抖動容忍度碼型

          ·SRAMBLE_0 Pattern主要用于測試SAS 1.5, 3 and 6 Gbps WDP性能

          ·IDLE dwords pattern主要用于SAS 12 Gbps測試,配合 SAS3_EYEOPENING script



          關(guān)鍵詞: SAS測試項目測試碼

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