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          CDMA2000射頻測試簡介（一）
          
						
          
				作者：
				時間：2016-12-23
				來源：網(wǎng)絡(luò)
				
				
				
				
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			  CDMA2000是其中一種3G移動通信標(biāo)準(zhǔn)，其相關(guān)產(chǎn)品進(jìn)入各國市場均需要進(jìn)行強(qiáng)制測試。如進(jìn)入歐盟或相關(guān)的地區(qū)，其需要滿足CE的測試要求，比如中國國內(nèi)需要做CCC和CTA認(rèn)證. CDMA2000測試相當(dāng)復(fù)雜,主要的如Conducted spurious emissions（transmitting/not transmitting）；Maximum RF output power；Minimum controlled output power等等。
           下面簡單介紹一下Conducted spurious emissions when transmitting（處于發(fā)射狀態(tài)的傳導(dǎo)雜散）的測試。
          本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/201612/333454.htm
           測試意圖：在EUT工作的狀態(tài)下，通過EUT上的天線連接器使用傳導(dǎo)方式連接到測試系統(tǒng)上，檢測EUT處于發(fā)射時的雜散信號。
           測試搭建簡圖：
          測試方法：
          1）用射頻線按上圖進(jìn)行功分器（POWER SPLITTER）的連接，并使用信號源和頻譜儀（Spectrum Analyzer）測量5515C到EUT和EUT到頻譜儀這兩條路徑的損耗，然后記錄損耗值。
          2）測量完損耗后按照簡圖將EUT與E5515C、頻譜儀連接到功分器，把功分器衰減較大的一端接到頻譜儀上。
          3）在E5515C上調(diào)整信道號和路徑損耗的補(bǔ)償，然后按照下列表格中的參數(shù)設(shè)置E5515C。
          4）EUT與E5515C之間建立呼叫連接，然后將E5515C參數(shù)調(diào)到all up bits的功率控制模式，使EUT以最大功率輸出。
          5）在頻譜儀上設(shè)置好路徑損耗的補(bǔ)償，然后按照以下表格根據(jù)頻率分段測試傳導(dǎo)雜散，所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值，并記錄測得的數(shù)據(jù)。
          6）然后按照以下表格重新設(shè)置E5515C的參數(shù)。
          7）EUT與E5515C重新建立呼叫連接，把E5515C參數(shù)設(shè)置為0和1交替的功率控制模式。
          8）按照以下表格重新設(shè)置頻譜儀，根據(jù)頻率分段測試傳導(dǎo)雜散，所測得的每段頻譜的峰值功率必須低于以下表格標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的限值，并記錄測得的數(shù)據(jù)。
           以上是對CDMA終端傳導(dǎo)雜散測試的簡單介紹, 此后我們將分批分期的對其它涉及CDMA部分的射頻測試進(jìn)行一一闡述, 敬請關(guān)注。
          
				
            
                
			
							
          
                
			              
              
            
          
		
          
		
          
		
          
		
          
		
          
			
            
				
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          關(guān)鍵詞：
            			            CDMA2000射頻測
                        
            
          
            
			
          
		
          	
		

	

          
	
	
          
		
          
			
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