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          汽車電子e-Mark測(cè)試介紹之大電流注入法實(shí)驗(yàn)

          作者: 時(shí)間:2016-12-23 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          前言


          根據(jù)不同的車廠、國(guó)家的要求,針對(duì)汽車電子產(chǎn)品的窄帶電磁輻射干擾測(cè)試的差異性是很大的,主要集中在測(cè)試頻段、干擾強(qiáng)度以及天線的切換頻率等等。本文主要根據(jù)ISO 11452-4來(lái)介紹大電流注入法(BCI)測(cè)試的基本條件以及一下要求。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201612/333473.htm

          標(biāo)準(zhǔn)名稱

          ISO 11452-2: Road vehicles — Component test methods for electrical disturbances from narrowband radiated electromagnetic energy — Part 4: Bulk current injection (BCI)

          測(cè)試目的

          該測(cè)試目的是檢驗(yàn)設(shè)備對(duì)【1MHz – 400MHz】頻帶的抗干擾性能。

          測(cè)試條件

          ?測(cè)試溫度:(23 ± 5) °C.

          ?電源電壓:(13.5 ± 0.5) V for 12 V; (27 ± 1) V for 24 V

          ?調(diào)制:
          a). 未調(diào)制正弦波信號(hào)(可使用范圍:0.01 MHz to 18 GHz,校準(zhǔn)時(shí)采用)

          b). 1KHz, 80%調(diào)制的AM(振幅調(diào)制)信號(hào)(可使用范圍:0.01 MHz to 800MHz,測(cè)試時(shí)采用)

          滯留時(shí)間(Dwell time): 不小于1s

          頻率步長(zhǎng):

          測(cè)試嚴(yán)酷等級(jí):

          測(cè)試場(chǎng)地:

          測(cè)試應(yīng)該在一個(gè)屏蔽室里完成

          測(cè)試設(shè)備要求

          大電流注入探頭,該探頭工作頻率要能滿足測(cè)試范圍,能持續(xù)的經(jīng)受整個(gè)測(cè)試頻率范圍內(nèi)的輸入功率。

          ?大電流校準(zhǔn)探頭,該探頭工作頻率要能滿足測(cè)試范圍。

          ?AN(仿真網(wǎng)絡(luò))

          ?信號(hào)發(fā)生器,擁有內(nèi)部(或者外部)的調(diào)制能力

          ?功率放大器

          ?功率計(jì)(或者等同設(shè)備),測(cè)試正向傳輸功率和反射功率

          ?電流測(cè)量設(shè)備

          測(cè)試設(shè)置(替代法)

          ?接地板:材料為0.5mm(最小)后的銅,黃銅或者鍍鋅鋼材;尺寸最小為1000mm寬,1500mm長(zhǎng)或者超出被測(cè)物200mm;接地材料的阻抗應(yīng)不大于2.5豪歐,間隔應(yīng)不大與300mm。

          ?電源和AN:對(duì)于遠(yuǎn)端接地應(yīng)用兩個(gè)AN,對(duì)于近端接地可以只用一個(gè)AN(接于正極)。

          ?EUT擺放:EUT應(yīng)置于絕緣,低介電常數(shù)(不大于1.4)且厚度為50(±5)mm的材料上。

          ?測(cè)試線束,EUT和模擬負(fù)載的線束總長(zhǎng)應(yīng)為1000(±100)mm,測(cè)試線束應(yīng)置于絕緣,低介電常數(shù)(不大于1.4)且厚度為50(±5)mm的材料上。

          ?大電流探頭:注入探頭所在位置距EUT的距離d如下(替代法):

          d = (150 ± 10) mm

          d = (450 ± 10) mm

          d = (750 ± 10) mm

          測(cè)試結(jié)果性能判據(jù)

          Class A: EUT功能或性能一直保持正常,無(wú)任何異常現(xiàn)象

          Class B: 所有功能或性能在干擾狀態(tài)下,一個(gè)或者多個(gè)功能或者性能偏移指定的容差,但所有功能或性能在干擾移除以后能恢復(fù)到規(guī)定的容差限值以內(nèi)。并且存儲(chǔ)數(shù)據(jù)不能有任何異常現(xiàn)象

          Class C: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适?,但在施加干擾之后EUT能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式

          Class D: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适В谑┘痈蓴_之后通過(guò)人為的干預(yù)能自動(dòng)恢復(fù)到正常模式

          Class E: 一個(gè)或者多個(gè)功能或性能暫?jiǎn)适?,并且不能自?dòng)恢復(fù)到正常模式

          以上是對(duì)汽車電子產(chǎn)品大電流注入法測(cè)試的一些簡(jiǎn)單介紹。



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