納米測量最優(yōu)解決方案

本文僅僅探討了納米技術(shù)[1]的多種應用中的少數(shù)幾個，以及需要更為深入地理解所研究的器件和材料時必須采用的測量方法。每天，各研發(fā)實驗室都誕生各種新的思想和創(chuàng)新點。隨著新點子的出現(xiàn)，人們也需要各種新的、不同的測量手段。例如，研究者們感興趣的是，如何在測量材料[2]的力學特性的同時還可以相應觀察其電特性。人們?nèi)匀恍枰梢暬侄?，以便觀察在原子水平上正在發(fā)生什么現(xiàn)象。在分子和原子水平上，某些現(xiàn)象的發(fā)生速度常常過快。為了測定這些時間，就必需提升現(xiàn)有測量方法的速度，并降低其噪聲。若施加過大的電流，就容易破壞納米和分子電子器件。儀器必需能夠限制功率的大小，以便將焦耳發(fā)熱效應保持在最低水平上。另外，在輸出電壓信號[3]以測量器件時，分辨率低至1mV的電壓步進輸出將具有重要價值，只有這樣才能讓研究者能清晰地看到在一個很小的步進變化過程中發(fā)生的現(xiàn)象。

按如下所示的四個步驟可以實現(xiàn)出色的納米測量，從而增強人們對測試結(jié)果的信心。
•確定測量質(zhì)量。理解所需要的靈敏度、分辨率和精度指標。
•設計測量系統(tǒng)。選擇恰當?shù)墓ぞ摺㈦娏?、探針系統(tǒng)和夾具。
•建造系統(tǒng)并檢驗其性能。理解你所處的環(huán)境中的潛在誤差源，或者消除這些誤差。清楚系統(tǒng)能做什么測量。
•開始進行測量