C-V測量技術(shù)、技巧與陷阱——基于數(shù)字源表的準(zhǔn)靜態(tài)電容測
SMU1-力常數(shù)SMU2-測量
圖3.準(zhǔn)靜態(tài)C-V“斜率”測量方法
斜率測量方法只需要使用兩臺數(shù)字源表(SMU)[2]。通過第一臺SMU將一個恒定電流加載到待測器件(DUT)的一個節(jié)點(diǎn)上。這臺SMU還負(fù)責(zé)測量該節(jié)點(diǎn)上的電壓和時間。同時,第二臺SMU測量DUT另一個節(jié)點(diǎn)輸出的電流。然后可以利用下列公式計算出電容:
I = C dV/dt or C = I / (dV/dt)
這種方法通??捎糜跍y量大小為100~400pF斜率為0.1~1V/S的電容。
利用射頻技術(shù)[3]測量電容
傳輸線的電容測量通常采用射頻技術(shù)。其中利用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀測量散射參數(shù)(S參數(shù)),即入射波的反射和傳輸系數(shù)。
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