光電測試原理和基本知識（一）

有源的光電器件是一個基本的半導體 結，為了更全面的測試，不僅要求對其做 正向的I-V特性測試，也要求監(jiān)測反向的 I-V特性。傳統(tǒng)的激光二極管電流驅(qū)動在實驗室級別是合適的，但是對于開發(fā)半導體器件完整的測試方案并不合適。而2400系列數(shù)字源表將源輸出與測量的能力集成在一起，非常適用于半導體器件的特性分析。

對于一個有源光電器件完整的特性分析需要正向和反向的電壓和電流源。例如，反向擊穿測試需要輸出一個非常小的、精密的反向電流(10nA)的同時測量電壓。

有限的電流避免了對器件造成永久的破壞，同時可以進行精密的擊穿電壓的測試。已知擊穿電壓之后，就可以對器件加一個安全的反向偏置，同時測試該器件的漏流。器件的漏電流指標對于器件的進一步分析將會很有幫助。

四象限的源輸出能力

數(shù)字源表系列集成了完整的四象限精密源(圖3)和測量能力。源和測量的能力從低到1μA或2 0 0 m V的量程到高到5A或1000V的量程。這種廣泛的動態(tài)量程使得測試眾多的器件成為可能，例如AlGaAs激光二極管，Si材料的光電管。

接觸檢查功能
2400數(shù)字源表系列都有具備接觸檢查功能的選項，這一功能使得在對器件激勵信號或者測試前自動地識別所有的測試線纜是否已經(jīng)連接到被測器件上。圖6顯示了這一功能識別出了遠端的Sense端沒有連接到被測器件。Sense端沒有連接的話，執(zhí)行測試時，電壓嵌位功能沒有作用。

遠端電壓測量
數(shù)字源表系列儀器提供2線法和4線法的測量能力。2線法測試中的測試與源輸出共用一套表筆。如圖7a。當輸出高電流時，相比于被測器件上的正向壓降，損耗在測試表筆上的電壓降可以忽略。

4線法電壓測試使用單獨的表筆測試DUT上面的壓降。因為電壓測試的回路具有非常高的輸入阻抗，因此該回路中測量表筆上流過的電流非常小，相對于DUT上的電壓降，這個小電流在表筆上所產(chǎn)生的壓降就可以忽略。