在射頻中如何實現(xiàn)功率的精確測量
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1.測量走線接線方式
本文引用地址：http://www.ex-cimer.com/article/201612/333943.htm1)不規(guī)則連接--最差的接線方式
圖 1、圖 2兩條測量線比較分散，形成很大的環(huán)路，當環(huán)路中有變化的磁通通過時，根據(jù)電磁感應(yīng)原理，將在環(huán)路中產(chǎn)生與磁通同樣變化的噪聲電壓，儀器測到的值不真實。
圖 1 電壓不規(guī)則接線方式
圖 2 電流不規(guī)則接線方式
2)一般接線方式—平行走線
圖 3、圖 4相比分散的連接方式，測量線形成的環(huán)路很小，僅限于連根線之間。
圖 3 電壓平行走線接線方式
圖 4 電流平行走線接線方式
3)較好的連接方式—雙絞線
圖 5使用雙絞線連接被測信號，與平行走線相比，雙絞線把環(huán)路細分到每個絞合環(huán)，相鄰的絞合環(huán)對外部磁場產(chǎn)生相反的噪聲電壓從而抵消掉。
圖 5 電壓雙絞線接線方式
圖 6 電流雙絞線接線方式
4)理想的接線方式—同軸電纜
圖 7、圖 8對稱的同軸電纜外層導(dǎo)體中心與內(nèi)導(dǎo)體重合，等效面積為0，因此有很好的磁場屏蔽效果。
圖 7 電壓同軸電纜接線方式
圖 8 電流同軸電纜接線方式
2.電路連接接線方式
功率耗損影響
使用和負載匹配的接線方式可以降低功率損耗對測量精度的影響，以下是考慮電源和負載電阻的情況。參考前期微信文檔《功率測量儀器的“特征阻抗”》中電流表損耗定義
P=I2Ri
電壓表損耗定義
P=U2/RV，電壓表和電流表內(nèi)阻乘積平方根暫且稱為儀器的“功率特征阻抗”，當負載電阻RL>RP時，電壓表損耗大，推薦電流表內(nèi)接法， 當負載電阻RL 舉例PA5000，電壓輸入阻抗Rv約2MΩ，電流輸入阻抗Ri約100mΩ，電流量程選擇1A，電壓量程選擇300V，電壓電流功耗函數(shù)圖 9，此時Rp=200，當負載電阻RL約大于447.2Ω時，推薦電流表內(nèi)接，反之外接，示意圖圖 10。 圖 9 電壓電流表功率損耗函數(shù)圖 圖 10 內(nèi)外接判定標準圖 1)電流表外接---測量較大電流 將電壓測量回路連到近負載一側(cè)。電流測量回路測得流經(jīng)負載的電流IL和流經(jīng)電壓測量回路的電流IU之和。因為測量回路電流為IL，所以誤差僅為IU，對測量精度的影響為IU/IL。 圖 11 電流表外接圖 2)電流表內(nèi)接--測量小電流 將電流測量回路接到近負載端。電壓測量回路測得的電壓等于負載電壓eL和電流表兩端的電壓eI之和。因為測量回路電壓為eL，誤差為eI。對測量精度的影響為RI/RL 。 圖 12 電流表內(nèi)接 雜散電容的影響 將儀器的電流輸入端子連接到接近電源接地電位的一端，可以降低雜散電容對測量精度的影響。 電壓測量回路和電流測量回路內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖，如圖 13，因為外部機箱與屏蔽盒絕緣，所以存在雜散電容Cs。而誤差正是由該雜散電容產(chǎn)生的電流形成的。 圖 13 測量回路內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖 作為舉例，將考慮電源的一端和外部機箱接地的情況。 這種情況下可以考慮2種電流，負載電流IL和通過雜散電容的電流ICs如圖 15虛線所示，IL從電流測量回路流經(jīng)負載回到電源。如點劃線所示，ICs從電流測量回路流經(jīng)雜散電容、外部機箱接地回到電源。 因此，在電流測量回路即使只測量IL，得到的也是IL與ICs的和(矢量和)，誤差僅為ICs。假設(shè)施加于Cs的電壓是VCs (共模電壓)，可以通過以下公式求取ICs。因為ICs相位超前電壓90°，所以功率因數(shù)越小，ICs對測量精度的影響就越大。ICs= VCs × 2πf × Cs。 圖 14 電流輸入端子連到靠近電源高端 圖 15 雜散電容帶來影響 如果將電流輸入端子連到靠近電源地電位的一端，如圖 11，電流測量回路的低端(LO)接近地電位，VCs約等于零，ICs幾乎不流通。這樣就降低了對測量精度的影響。 電壓正反接影響 1)電壓反接 接地的信號源電壓加在屏蔽殼對地電容Cs上，形成額外的泄露電流ICs，在信號源內(nèi)部和LO測試線阻抗上造成壓降。 圖 16 電壓反接 2)電壓正接 信號源電壓加在屏蔽殼對地電容上的電壓很小，ICs為零，沒有額外的泄露電流。 圖 17 電壓正接 綜上，為了實現(xiàn)精確測量，測量走線選用雙絞線或者同軸電纜，根據(jù)實際情況選擇適合的接線方式，電壓高端和低端確保不接反。
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