超聲波探傷儀儀器調節(jié)和缺陷的定位

　　一. 零點調節(jié)

　　由于超聲波通過保護膜、耦合劑(直探頭)或有機玻璃楔塊(斜探頭)進入待測工件的，缺陷定位時，需將這部分聲程移去，才能得到超聲波在工件中實際聲程。

　　零點一般是通過已知聲程的試塊進行調節(jié)，如CSK-IA試塊中的R100圓弧面(斜探頭)或深100mm的大平底(直探頭)。

　　二. K值調節(jié)

　　由于斜探頭探傷時不僅要知道缺陷的聲程，更要得出缺陷的垂直和水平位置，因此斜探頭還要精確測定其K值(折射角)才能準確地對缺陷進行定位。

　　K值一般是通過對具有已知深度孔的試塊來調節(jié)，如用CSK-IA試塊?50或?1.5的孔。

　　三. 定量調節(jié)

　　定量調節(jié)一般采用AVG(直探頭)或DAC(斜探頭)。

　　四. 缺陷定位

　　超聲波探傷中測定缺陷位置簡稱缺陷定位。

　　1. 縱波(直探頭)定位

　　縱波定位較簡單，如探頭波束軸線不偏離，缺陷波在屏幕上位置即是缺陷至探頭在垂直方向的距離。

　　2. 表面波定位

　　表面波探傷定位與縱波定位基本類似，只是缺陷位于工件表面，缺陷波在屏幕上位置是缺陷至探頭在水平方向的距離(此時要考慮探頭前沿)。

　　3. 橫波定位

　　橫波斜探頭探傷定位由缺陷的聲程和探頭的折射角或缺陷的水平和垂直方向的投影來確定。

　　4. 橫波周向探測圓柱面時缺陷定位

　　周向探傷時，缺陷定位與平面探傷不同。

　　(1) 外圓探傷周向探測

　　(2) 內壁周向探測