帶電粒子的測量與探測器的基本類型

ORTEC帶電粒子硅探測器主要有金硅面壘和離子注入兩種工藝，耗盡層厚度從10微米到幾個(gè)毫米厚不等。而根據(jù)其幾何形狀與是否全耗盡又分為諸多類型。

選擇合適的帶電粒子探測器，除應(yīng)用本身外，應(yīng)綜合權(quán)衡耗盡層厚度、結(jié)電容、漏電流、電子噪聲、能量分辨率等性能指標(biāo)。

Alpha能譜測量

用于alpha能譜測量的ULTRA和ULTRA-AS探測器采用了表面鈍化和離子注入工藝（即PIPS探測器），這兩個(gè)系列的探測器有諸多優(yōu)點(diǎn)：

接觸極更薄，更堅(jiān)固；

低噪聲，對Alpha能譜分辨率好；

使用邊緣鈍化技術(shù)，可以使樣品離探測器入射窗小到1毫米（一般面壘型探測器最小只能達(dá)到2.5毫米），探測器效率更高

常溫使用

探測器窗可擦拭

Ultra-AS和Ultra的區(qū)別或改進(jìn)是采用了低本底材料，以專適于在ORTEC Alpha Suite譜儀。

ULTRA-CAM系列則是針對氣溶膠連續(xù)監(jiān)測設(shè)計(jì)，探測器具有特殊密閉和抗潮性能。

Beta能譜測量

Beta能譜測量的難處在于常溫狀態(tài)下，硅探測器很難獲得良好的分辨率，ORTEC提供以下兩種解決方案：

Beta-X Si（Li）一體化探測器（包含探頭，冷指前放）；

A和L系列可制冷的厚硅探測器。

帶電粒子探測器的選擇

帶電粒子探測器在核物理實(shí)驗(yàn)中諸多方面的應(yīng)用，ORTEC在其探測器類型上都有相應(yīng)的側(cè)重：

比如重離子由于其高度電離和短徑跡特性，需要探測器在前接觸級具有強(qiáng)電場，適用的F系列探測器在前接觸級的場強(qiáng)為20,000V/cm。

而對帶電粒子的時(shí)間譜測量，需要用ULTRA系列或能承受超電壓的強(qiáng)電場局部耗盡探測器。