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          大牛Rob Reeder告訴你串擾的來源途徑及測試方式

          作者: 時間:2017-01-04 來源:網(wǎng)絡 收藏
          串擾可能來自幾種途徑

          從印刷電路板(PCB)的一條信號鏈到另一條信號鏈,從IC中的一個通道到另一個通道,或者是通過電源時產(chǎn)生。理解串擾的關(guān)鍵在于找出其來源及表現(xiàn)形式,是來自相鄰的轉(zhuǎn)換器、另一個信號鏈通道,還是PCB設計?

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201701/336005.htm

          三種串擾測試方式

          第一種

          最典型的串擾測試稱為相鄰串擾。這種串擾的表現(xiàn)形式是,當某個通道被以滿量程或接近滿量程驅(qū)動時,“被觀察”的通道或信號鏈處于開放狀態(tài),即無信號注入。測量輸出頻譜時,可以在開放通道上觀察到高于本底噪聲的雜散。這種串擾定義了開放的受體通道和被驅(qū)動的干擾源通道之間的隔離。

          有時,開放通道具有足夠的魯棒性,可以抑制來自一個被驅(qū)動通道的交叉耦合,但這只是一部分的抗串擾能力。

          第二種

          另一種串擾測試是以相同的頻率驅(qū)動系統(tǒng)中除一個通道外的其他所有通道,剩余的一個通道保持開放狀態(tài)。此時,所有干擾源的強度都通過開放通道來測量。

          第三種

          測量串擾的第三種方法是以不同的頻率和信號強度驅(qū)動兩個或兩個以上的通道,通過測試開放通道,觀察是否有被驅(qū)動通道產(chǎn)生的交叉耦合混頻產(chǎn)物的泄漏。此時,通過混頻效應,可以看到干擾源信號如何回落至目標頻帶。

          最后,這三種測量方法都可以在輸入信號超量程(超過器件或信號鏈的滿量程)的情況下重復進行,有助于確定輸入信號被鉗位或通道飽和時開放通道的魯棒性。

          ↑ 上述測試均應涵蓋應用的整個目標信號范圍和頻率范圍,因為串擾有時會由PCB 設計不佳而引起,或在特定的工作條件下表現(xiàn)出來。更換器件沒有什么幫助,轉(zhuǎn)換器或多通道器件必須經(jīng)過全面測試,以確保足夠的魯棒性,從而滿足您的應用。



          關(guān)鍵詞: 串擾來源途徑測試方

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