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          在射頻自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中該如何選用開(kāi)關(guān)

          作者: 時(shí)間:2017-01-04 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          是德科技是全球射頻和微波開(kāi)關(guān)產(chǎn)品市場(chǎng)上領(lǐng)先的設(shè)計(jì)和制造商,已具有60 多年歷史。在微波測(cè)試系統(tǒng)中,射頻和微波開(kāi)關(guān)大量用于儀器和被測(cè)器件(DUT) 間的信號(hào)路由。把開(kāi)關(guān)置入開(kāi)關(guān)矩陣系統(tǒng),就可把來(lái)自多臺(tái)儀器的信號(hào)路由至一個(gè)或多個(gè)DUT。這樣就能夠用一套測(cè)試裝置完成多種測(cè)試,而不需要頻繁地?cái)嚅_(kāi)和重新連接。并能實(shí)現(xiàn)測(cè)試過(guò)程的自動(dòng)化,從而提高批量生產(chǎn)環(huán)境下的測(cè)試效率。

          開(kāi)關(guān)元件的關(guān)鍵性能指標(biāo)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201701/336009.htm

          今天的高速制造要求在測(cè)試儀器和開(kāi)關(guān)接口及自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中使用高性能和可重復(fù)的開(kāi)關(guān)元件。這些開(kāi)關(guān)通常按如下特性定義:

          頻率范圍

          射頻和微波應(yīng)用的頻率范圍從半導(dǎo)體的100 MHz 直至衛(wèi)星通信的60 GHz。工作頻帶很寬的測(cè)試附件因擴(kuò)展頻率覆蓋而增加了測(cè)試系統(tǒng)的靈活性。但寬工作頻率有可能影響到其它重要參數(shù)。

          插入損耗

          插入損耗對(duì)于測(cè)試也是至關(guān)重要的。大于1 dB 或2 dB 的損耗會(huì)衰減信號(hào)的峰值電平,增加上升沿和下降沿的時(shí)間。在高頻應(yīng)用環(huán)境,對(duì)能量進(jìn)行有效的傳輸有時(shí)需要付出比較高的代價(jià),所以機(jī)電開(kāi)關(guān)在轉(zhuǎn)換路徑上引入的額外損耗應(yīng)該盡可能地的最低。

          回波損耗

          回波損耗以dB 表示,它是電壓駐波比(VSWR) 的量度?;夭〒p耗由電路間的阻抗不匹配造成。在微波頻率范圍,材料特性和網(wǎng)絡(luò)元件的尺寸在確定分布效應(yīng)造成的阻抗匹配或失配上起重要作用。

          性能的一致性

          低插入損耗性能的一致性可減小測(cè)量路徑中的隨機(jī)誤差源,從而改進(jìn)測(cè)量精度,開(kāi)關(guān)性能的一致性和可靠性保證了測(cè)量精度,并因延長(zhǎng)校準(zhǔn)周期和增加測(cè)試系統(tǒng)運(yùn)行時(shí)間而降低擁有成本。

          隔離度

          隔離度是在所關(guān)注的端口處檢測(cè)到對(duì)無(wú)用信號(hào)的衰減程度。在高頻時(shí),隔離度變得尤為重要。

          VSWR

          開(kāi)關(guān)的VSWR 由機(jī)械尺寸和制造公差確定。差的VSWR 表明存在由阻抗不匹配造成的內(nèi)部反射,這些反射造成的寄生信號(hào)會(huì)導(dǎo)致符號(hào)間干擾(ISI)。這些反射通常在靠近連接器處產(chǎn)生,因此好的連接器匹配和正確的 負(fù)載連接是關(guān)鍵性的測(cè)試要求。

          開(kāi)關(guān)速度

          開(kāi)關(guān)速度定義為開(kāi)關(guān)端口(開(kāi)關(guān)臂) 狀態(tài)從“通”到“斷”,或從 “斷”到“通”所需要的時(shí)間。

          穩(wěn)定時(shí)間

          由于開(kāi)關(guān)時(shí)間只是規(guī)定達(dá)到射頻信號(hào)穩(wěn)定值/最終值的90% 的值,因此在準(zhǔn)確度和精密度的要求下,穩(wěn)定時(shí)間成為固態(tài)開(kāi)關(guān)更重要的性能。Keysight的GaAs FET 開(kāi)關(guān)采用專(zhuān)利設(shè)計(jì),它能極大減弱柵極滯后效應(yīng),從而把穩(wěn)定時(shí)間減小至不到350 μs。

          承載功率

          承載功率定義為開(kāi)關(guān)承載功率的能力,它與設(shè)計(jì)及使用的材料密切相關(guān)。當(dāng)切換時(shí)在開(kāi)關(guān)端口上存在射頻∕微波功率時(shí),即產(chǎn)生熱切換。在切換前已移除信號(hào)功率時(shí),即產(chǎn)生冷切換。冷切換獲得較低的接觸面應(yīng)力和較長(zhǎng)的壽命。

          負(fù)載

          在許多應(yīng)用中,50Ω的負(fù)載端接是非常重要的。在開(kāi)關(guān)接到一個(gè)有源器件時(shí),沒(méi)有負(fù)載端接的路徑的反射功率可能會(huì)損壞源。機(jī)電開(kāi)關(guān)可分成有負(fù)載端接的和沒(méi)有負(fù)載端接的兩類(lèi)。固態(tài)開(kāi)關(guān)可分成吸收式和反射式兩類(lèi)。

          等長(zhǎng)路徑

          有些應(yīng)用為實(shí)現(xiàn)幅度匹配和相位匹配要求等長(zhǎng)的路徑。在差分信號(hào)系統(tǒng)或相位匹配至關(guān)重要的系統(tǒng)中,推薦采用同樣長(zhǎng)度的相位匹配路徑。

          視頻泄漏

          可把視頻泄漏看成是當(dāng)不存在射頻信號(hào)時(shí),開(kāi)關(guān)射頻端口上出現(xiàn)的寄生信號(hào)。這些信號(hào)來(lái)自開(kāi)關(guān)驅(qū)動(dòng)器產(chǎn)生的波形,特別是來(lái)自于驅(qū)動(dòng)PIN 二極管高速開(kāi)關(guān)所需要的前沿電壓尖峰。

          使用壽命

          長(zhǎng)的使用壽命將降低每次開(kāi)關(guān)的成本和預(yù)算制約,使制造商在今天價(jià)格敏感市場(chǎng)上更富競(jìng)爭(zhēng)力。

          開(kāi)關(guān)的結(jié)構(gòu)

          開(kāi)關(guān)的不同結(jié)構(gòu)形式為各種應(yīng)用和頻率提供建造復(fù)雜矩陣和自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的靈活性。下面是典型的開(kāi)關(guān)結(jié)構(gòu)

          • 單刀雙擲(SPDT) 開(kāi)關(guān)把信號(hào)從一個(gè)輸入路由至兩個(gè)輸出路徑。
          • 多端口開(kāi)關(guān)允許把一個(gè)輸入接到多個(gè)(三個(gè)或更多) 輸出路徑。Keysight 提供單刀三擲(SP3T),單刀四擲(SP4T),單刀五擲(SP5T) 和單刀六擲(SP6T) 多端口開(kāi)關(guān)。
          • 轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)(DPDT) 可作為瞬斷開(kāi)關(guān)在兩個(gè)輸入和兩個(gè)輸出間切換。
          • 矩陣開(kāi)關(guān)可通過(guò)內(nèi)部微波開(kāi)關(guān)單端連接而構(gòu)成射頻通路。 可經(jīng)配置用于1*5, 2*4 或3*3 開(kāi)關(guān)應(yīng)用。
          • 旁路開(kāi)關(guān)可從信號(hào)路徑中插入或去除測(cè)試元件。

          Keysight同軸機(jī)電開(kāi)關(guān)特性

          長(zhǎng)使用壽命 — 插入損耗的一致性保證在0.03 dB 以內(nèi)。

          Keysight EM 同軸開(kāi)關(guān)以精心設(shè)計(jì)的工藝流程生產(chǎn),并有嚴(yán)格的質(zhì)量保證。L 系列的設(shè)計(jì)保證其在使用了2 百萬(wàn)次之后仍能達(dá)到插入損耗一致性指標(biāo)的要求,一般情況下L系列開(kāi)關(guān)可使用5 百萬(wàn)次。高性能開(kāi)關(guān)系列更保證在使用5 百萬(wàn)次之后仍達(dá)到插入損耗一致性指標(biāo)的要求,一般情況下高性能開(kāi)關(guān)可以使用一千萬(wàn)次。Keysight 機(jī)電開(kāi)關(guān)保證在二百萬(wàn)次或五百萬(wàn)次使用壽命期間達(dá)到0.03 dB 的插入損耗一致性。

          獨(dú)特的設(shè)計(jì)-擦拭動(dòng)作機(jī)制避免碎屑的聚集,以保證可靠地切換。

          Keysight EM 開(kāi)關(guān)采用了許多獨(dú)特的技術(shù),包括每次開(kāi)關(guān)之后清潔中心導(dǎo)體觸點(diǎn)的擦拭機(jī)制,從而避免一般EM 開(kāi)關(guān)設(shè)計(jì)中常遇的碎屑聚集問(wèn)題,如圖1。

          圖1:清潔中心導(dǎo)體觸點(diǎn)的擦拭機(jī)制

          機(jī)電開(kāi)關(guān)的典型應(yīng)用

          機(jī)電開(kāi)關(guān)多用于開(kāi)關(guān)矩陣系統(tǒng),用來(lái)測(cè)試通信設(shè)備中的器件,低插入損耗對(duì)這種測(cè)試應(yīng)用是至關(guān)重要的,并且還要能承受較高的功率。機(jī)電開(kāi)關(guān)廣泛用于對(duì)基本信號(hào)進(jìn)行路由和針對(duì)具體的應(yīng)用組成開(kāi)關(guān)矩陣,例樹(shù)形矩陣或全通路矩陣。它們也可用于在測(cè)量系統(tǒng)或在多源∕多器件開(kāi)關(guān)系統(tǒng)中對(duì)有源器件進(jìn)行旁路。

          機(jī)電開(kāi)關(guān)應(yīng)用

          • 天線測(cè)試
          • 收發(fā)器模塊測(cè)試
          • 低噪聲放大器(LNA) 測(cè)試
          • 接收器模塊測(cè)試

          應(yīng)用要求

          • 0.03 dB 插入損耗的一致性
          • 承受50 W 峰值的功率
          • 有負(fù)載
          • 長(zhǎng)使用壽命

          推薦開(kāi)關(guān)

          • SPDT: N1810TL
          • SP4T: 87104A/B, L7104A/B

          應(yīng)用實(shí)例1——多端口器件的2端口測(cè)量

          下圖2顯示對(duì)多端口器件作2 端口測(cè)量的測(cè)試設(shè)置;對(duì)于一個(gè)完整的測(cè)試環(huán)境的設(shè)置可能還需額外的EM 開(kāi)關(guān)。綠色線表示的是把小功率信號(hào)施加給DUT 進(jìn)行S 參數(shù)測(cè)量,藍(lán)色線是把大功率信號(hào)施加給DUT 進(jìn)行諧波失真測(cè)量。您可通過(guò)改變EM 開(kāi)關(guān)的端口來(lái)選擇要進(jìn)行的測(cè)量。

          圖2:這種配置方式能讓測(cè)試設(shè)備在大功率和小功率測(cè)量間之間進(jìn)行切換

          應(yīng)用實(shí)例2——用于信號(hào)路由的靈活配置

          Keysight EM 開(kāi)關(guān)可在各種應(yīng)用中提高系統(tǒng)靈活性和簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)計(jì)。一種最通常的應(yīng)用是在開(kāi)關(guān)矩陣自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)中用開(kāi)關(guān)把多個(gè)輸入信號(hào)路由至多個(gè)輸出。下面是一些可能配置的例子。為滿足您的需要,您也可隨意地配置Keysight 開(kāi)關(guān)。

          圖3:開(kāi)關(guān)矩陣用高性能多端口開(kāi)關(guān)把多個(gè)輸入信號(hào)同時(shí)路由到多個(gè)輸出信號(hào)

          圖4:1X16全交叉開(kāi)關(guān)矩陣

          圖5:6X6“公共高速公路”

          Keysight固態(tài)開(kāi)關(guān)特性

          快開(kāi)關(guān)速度

          • 350 μs (典型值)
          高隔離度
          • 在8 GHz 工作頻率處大于100 dB

          低視頻泄漏

          • 防止損壞敏感元件

          寬頻率范圍

          • 從kHz 至8 GHz, 18 GHz或50 GHz
          • 低頻測(cè)量

          超長(zhǎng)的使用壽命

          固態(tài)開(kāi)關(guān)非??煽浚捎谀苣褪軟_擊、振動(dòng)和機(jī)械磨損,因此工作壽命也比機(jī)電開(kāi)關(guān)長(zhǎng)。固態(tài)開(kāi)關(guān)也有更快的開(kāi)關(guān)時(shí)間。但因其固有的較高導(dǎo)通電阻,所以插入損耗要高于機(jī)電開(kāi)關(guān)。有鑒于此,對(duì)于快開(kāi)關(guān)速度和長(zhǎng)壽命為關(guān)鍵要求的系統(tǒng),應(yīng)優(yōu)先選擇固態(tài)開(kāi)關(guān)。在測(cè)試半導(dǎo)體器件時(shí),開(kāi)關(guān)矩陣系統(tǒng)中通常會(huì)使用固態(tài)開(kāi)關(guān),因?yàn)榇祟?lèi)測(cè)試要求高的開(kāi)關(guān)速度,而對(duì)承載功率要求并不高。


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