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          微波射頻測(cè)試技術(shù)白皮書

          作者: 時(shí)間:2017-01-04 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          隨著Agilent PNA-X/PNA系列網(wǎng)絡(luò)儀的推出,傳統(tǒng)網(wǎng)絡(luò)儀的測(cè)試功能甚至很多測(cè)試應(yīng)用的方法正在發(fā)生變化,所以PNA-X網(wǎng)絡(luò)儀是網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試技術(shù)發(fā)展的里程碑式的產(chǎn)品,PNA-X網(wǎng)絡(luò)儀的主要技術(shù)突破主要包含以下幾個(gè)方面:

          PNA-X網(wǎng)絡(luò)儀技術(shù)突破

          具體說(shuō)明

          應(yīng)用價(jià)值

          支持完整的被測(cè)件類型

          支持對(duì)天線,放大器,衰減器,混頻器,脈沖器件等類型器件的測(cè)試

          作為射頻微波器件的測(cè)試平臺(tái),滿足研發(fā)和生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用要求。

          完整的測(cè)試功能

          提供完整的測(cè)試參數(shù),包含:傳輸反射線性S參數(shù),點(diǎn)頻和掃頻狀態(tài)下的功率壓縮點(diǎn),交調(diào)抑制參數(shù)和噪聲參數(shù)測(cè)試。

          能實(shí)現(xiàn)器件的單次連接完整參數(shù)測(cè)試,提高測(cè)試效率和精度。

          激勵(lì)信號(hào)的相位掃描

          激勵(lì)信號(hào)能進(jìn)行頻率,功率和相位掃描測(cè)試,研究器件在激勵(lì)信號(hào)參數(shù)變化情況下工作性能。

          相位控制電子系統(tǒng)的性能參數(shù)測(cè)試,例如:相控陣天線系統(tǒng)或智能天線系統(tǒng)。

          非線性測(cè)試和建模能力

          能提供被測(cè)件非線性諧波或交調(diào)成份的幅度和相位信息,完成器件非線性參數(shù)的測(cè)試和建模。

          改變功率放大器的設(shè)計(jì)流程,大大提高仿真設(shè)計(jì)的準(zhǔn)確度。

          在Agilent PNA-X網(wǎng)絡(luò)儀的測(cè)試功能中,引入了測(cè)試類(Measurement Class)的概念,在應(yīng)用中,根據(jù)被測(cè)件的類型和測(cè)試參數(shù)不同來(lái)進(jìn)行選擇。例如:測(cè)試器件的類型可以分為非變頻器件和變頻器件,測(cè)試參數(shù)可以設(shè)定為線性S參數(shù),非線性參數(shù)(包含功率壓縮參數(shù)和交調(diào)抑制參數(shù))和噪聲系數(shù)參數(shù)。


          圖7 Agilent PNA-X的測(cè)試功能

          圖8為PNA-X網(wǎng)絡(luò)儀典型測(cè)試顯示結(jié)果,利用多個(gè)測(cè)試通道(Channel)來(lái)定義多參數(shù)測(cè)試,包含通道1的駐波,增益測(cè)試,通道2的交調(diào)測(cè)試(支持點(diǎn)頻和掃頻),通道3的功率壓縮點(diǎn)測(cè)試(支持點(diǎn)頻和掃頻測(cè)試),通道4的噪聲系數(shù)測(cè)試和通道6的脈沖時(shí)域測(cè)試。測(cè)試中不需要改變被測(cè)件連接,只需要切換測(cè)試通道就能完成所有參數(shù)測(cè)試,這對(duì)于應(yīng)用的價(jià)值,這不是簡(jiǎn)單減少了連接的次數(shù)和測(cè)試時(shí)間,由于射頻微波器件的很多指標(biāo)是互相關(guān)聯(lián)影響,需要在設(shè)計(jì)中進(jìn)行折衷優(yōu)化設(shè)計(jì),例如端口匹配要綜合考慮噪聲系數(shù)和增益性能,在調(diào)試狀態(tài)下同時(shí)觀察駐波和噪聲系數(shù)能大大提高器件產(chǎn)品的調(diào)試速度。而且所有這些參數(shù)的測(cè)試都是基于網(wǎng)絡(luò)儀的校準(zhǔn)狀態(tài)下進(jìn)行,能大大提高測(cè)試的精度。


          圖8 Agilent PNA-X網(wǎng)絡(luò)儀完成單次連接多參數(shù)測(cè)試

          PNA-X為射頻微波器件應(yīng)用技術(shù)發(fā)展的重要貢獻(xiàn)還包含非線性X參數(shù)的測(cè)試和建模,基于PNA-X構(gòu)建的非線性網(wǎng)絡(luò)儀系統(tǒng)NVNA(Nonlinear Vector Network analyzer)能測(cè)試非線性器件諧波和交調(diào)成份的幅度和相位,提供完整的時(shí)域和頻域測(cè)試結(jié)果,基于X參數(shù)測(cè)試和模型的建立大大提高了功率放大管非線性模型的準(zhǔn)確度,使仿真設(shè)計(jì)功率放大器的結(jié)果更加準(zhǔn)確和具備實(shí)用價(jià)值?,F(xiàn)在微波電路元器件廠家已經(jīng)開始提供X參數(shù)模型,并成功完成了100W級(jí)功率放大管的建模測(cè)試,仿真結(jié)果和實(shí)測(cè)結(jié)果完全匹配。

          很多應(yīng)用需要寬帶信號(hào)源和寬帶分析儀,典型的應(yīng)用包含寬帶雷達(dá),捷變頻電臺(tái),電子對(duì)抗,寬帶無(wú)線通信,數(shù)字預(yù)失真功率放大器算法驗(yàn)證等。針對(duì)這些應(yīng)用,現(xiàn)在能提供寬帶的矢量信號(hào)源和寬帶矢量信號(hào)分析儀解決方案。單臺(tái)儀表能實(shí)現(xiàn)44GHz頻率范圍內(nèi)2GHz信號(hào)帶寬的信號(hào)建立和分析能力,還可以通過(guò)擴(kuò)頻裝置將頻率范圍擴(kuò)展到更高頻段。典型的儀表型號(hào)配置如表2所示。

          2.2.3 寬帶測(cè)試儀表


          圖9非線性網(wǎng)絡(luò)儀測(cè)試結(jié)果

          表2 寬帶信號(hào)源和分析儀表

          寬帶測(cè)試儀表

          基本技術(shù)性能

          M8190A寬帶任意發(fā)生器

          內(nèi)置高速DAC電路,最高采樣率12GHz, 位數(shù)12Bit。直接輸出信號(hào)帶寬:5GHz。

          E8267D微波矢量源

          支持2GHz寬帶IQ調(diào)制器。輸出信號(hào)頻率范圍:44GHz,調(diào)制帶寬:2GHz.

          N9030A微波信號(hào)分析儀

          內(nèi)置ADC支持160MHz分析帶寬,利用寬帶下變頻輸出功能,信號(hào)分析帶寬可達(dá)到800MHz。

          DSOX 96204Q寬帶示波器

          信號(hào)采樣率達(dá)到160G,信號(hào)分析帶寬為63GHz。


          圖10 Agilent寬帶測(cè)試應(yīng)用解決方案

          圖10所示為Agilent寬帶矢量源和矢量信號(hào)分析的配置方案。信號(hào)源包含M8190A寬帶任意波發(fā)生器和E8267D微波矢量信號(hào)源?;诟咝阅軐拵AC技術(shù),M8190A能合成帶寬和頻率范圍為5GHz的任意波信號(hào),對(duì)于毫米波頻段的覆蓋,M8190A輸出的基帶信號(hào)可以通過(guò)E8267D的矢量IQ調(diào)制將輸出頻率擴(kuò)展到44GHz,調(diào)制帶寬不超過(guò)2GHz。對(duì)于分析儀,N9030A內(nèi)置400MHz 采樣率ADC電路,分析帶寬為160MHz,對(duì)于更寬的分析帶寬要求,N9030A可以提供實(shí)時(shí)的寬帶下變頻處理功能,變頻的帶寬為800MHz,然后利用示波器來(lái)對(duì)該中頻信號(hào)進(jìn)行分析。對(duì)于超過(guò)800MHz的分析帶寬要求,可以采用高速示波器直接采集分析,Agilent Q系列實(shí)時(shí)示波器采用基于磷化銦技術(shù)的160G采樣率的ADC,最大分析帶寬能達(dá)到63GHz。

          圖11為寬帶測(cè)試儀表的具體應(yīng)用實(shí)例,包含帶寬為2GHz的寬帶線性調(diào)頻信號(hào)和帶寬為4GHz的噪聲功率比(NPR)信號(hào)。

          圖11 寬帶信號(hào)建立和分析驗(yàn)證舉例

          2.2.4 多通道測(cè)試儀表

          對(duì)于復(fù)雜的射頻微波組合電路和相控陣天線等設(shè)備,這些設(shè)備的通道數(shù)量很多,需要匹配的多通道測(cè)試儀表,首先對(duì)于器件參數(shù)測(cè)試的多端口儀表,網(wǎng)絡(luò)儀可以通過(guò)多端口擴(kuò)展裝置將測(cè)試端口擴(kuò)展到12個(gè)或更多,同時(shí)網(wǎng)絡(luò)儀的多參數(shù)顯示和多端口德爾高效校準(zhǔn)方法也至關(guān)重要。Agilent ENA-C和PNA等系列網(wǎng)絡(luò)儀能支持多端口擴(kuò)展測(cè)試要求。圖12為PNA-L網(wǎng)絡(luò)儀擴(kuò)展為12端口的矢網(wǎng)測(cè)試系統(tǒng)。


          圖12 Agilent多端口網(wǎng)絡(luò)儀

          對(duì)于多通道的信號(hào)源系統(tǒng)和分析儀系統(tǒng),模塊化的儀表結(jié)構(gòu)非常適合這樣的測(cè)試要求,可以根據(jù)實(shí)際要求來(lái)靈活配置,圖13為Agilent基于PXI總線結(jié)構(gòu)的4通道矢量分析儀,能滿足26.5GHz范圍內(nèi)帶寬1.5GHz的測(cè)試要求。激勵(lì)源由M9330A任意波發(fā)生器和其它配置方案實(shí)現(xiàn)。


          圖13 Agilent模塊化多通道接收機(jī)系統(tǒng)

          總結(jié)

          先進(jìn)射頻微波測(cè)試能為技術(shù)開發(fā)提供新的技術(shù)途徑,大大提高應(yīng)用技術(shù)開發(fā)的效率和質(zhì)量,測(cè)試儀表能在產(chǎn)品的概念規(guī)劃,仿真設(shè)計(jì)和實(shí)物驗(yàn)證等階段發(fā)揮重要作用,是核心技術(shù)突破的重要技術(shù)資源。

          參考文獻(xiàn)

          [1]李建宇. 射頻微波測(cè)試技術(shù)白皮書[G/DK].北京:安捷倫科技(中國(guó))有限公司.[2012]


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