利用絕緣電阻測(cè)試儀器進(jìn)行排障
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時(shí)間：2017-01-05
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排障程序包括對(duì)設(shè)備進(jìn)行系統(tǒng)的測(cè)試，要針對(duì)識(shí)別和糾正故障設(shè)計(jì)測(cè)試程序。技術(shù)員必須收集信息，并利用測(cè)試來(lái)識(shí)別故障和制定相應(yīng)的解決方案。以下制定的排障程序確保了故障的識(shí)別和快速糾正，使設(shè)備和生產(chǎn)損失降至最低。一致的工作實(shí)踐也會(huì)產(chǎn)生一致的測(cè)量結(jié)果，可以更加準(zhǔn)確地比較和跟蹤隨參數(shù)時(shí)間的變化。
在使用數(shù)字多用表(DMM入絕緣多用表或兆歐表進(jìn)行測(cè)量時(shí)，為了達(dá)到精確地低阻測(cè)量結(jié)果，應(yīng)將測(cè)試線(xiàn)的電阻從總電阻中減去。測(cè)試線(xiàn)的電阻一般介于0.2Q和 0.犯之間。
電動(dòng)馬達(dá)的故障
在對(duì)電動(dòng)馬達(dá)和相關(guān)設(shè)備進(jìn)行排障時(shí)會(huì) 進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試。IEEE標(biāo)準(zhǔn)43-2000 “旋轉(zhuǎn)式設(shè)備絕緣電阻測(cè)試的推薦操作規(guī)程”建議了施加的絕緣測(cè)試電壓（根據(jù)繞組的額定功率）和電動(dòng)馬達(dá)繞組的最小可接收值。IEEE還提供了進(jìn)行絕緣電阻測(cè)試時(shí)所施加的直流電壓的一般制導(dǎo)原則。
為了獲得有意義的絕緣電阻測(cè)量結(jié)果，技術(shù)人員應(yīng)該仔細(xì)檢査被測(cè)系統(tǒng)。當(dāng)滿(mǎn)足以下條件時(shí)，可獲得最佳的結(jié)果：
•將系統(tǒng)或設(shè)備關(guān)閉，并與其它所有電路、開(kāi)關(guān)裝置、電容、碳刷、避雷器和斷路器保持?jǐn)嚅_(kāi)。確保測(cè)量不受通過(guò)開(kāi)關(guān)和過(guò)流保護(hù)裝置的漏泄電流的影響。
•導(dǎo)體的溫度要髙于環(huán)境空氣的露點(diǎn)。如 果不是這樣，就會(huì)在絕緣層表面形成濕氣覆層，在某些情況下就會(huì)被材料所吸收。
•導(dǎo)體的表面沒(méi)有碳?xì)浠衔锖推渌诔睗癍h(huán)境下能夠?qū)щ姷碾s質(zhì)。
•施加的電壓不能髙于系統(tǒng)的承受能力。 在測(cè)試低壓系統(tǒng)時(shí)，太髙的電壓會(huì)超過(guò)絕緣的承受能力，損害絕緣。
•被測(cè)系統(tǒng)要對(duì)地完全放電。對(duì)地放電時(shí)間應(yīng)該大約為測(cè)試充電時(shí)間的5倍。
•要考慮溫度的影響。由于絕緣電阻與絕緣體溫度成反比（當(dāng)溫度上升時(shí)絕緣電阻下降！如果絕緣材料的溫度發(fā)生變化，記錄的讀數(shù)也會(huì)發(fā)生變化。建議在標(biāo)準(zhǔn)的導(dǎo)體溫度6義F(20C)下進(jìn)行測(cè)試。
在將讀數(shù)與68T下的基準(zhǔn)溫度相比較時(shí)， 超過(guò)68F時(shí)，每18下（10*C)將電阻值翻倍；低于68T時(shí)，每18T將電阻值減半。 例如，在104F (40*C)時(shí)1的電阻，換算到1KF (20T)下，就為4 MD。
為了測(cè)量馬達(dá)繞組的溫度，可以使用連接 到數(shù)字多用表(DMM)的非接觸式溫度探 頭或者紅外測(cè)溫儀。請(qǐng)參見(jiàn)圖3-1。
圖3-1.利用連接到數(shù)字多用表(DMM)的非接觸式溫度探頭或紅外測(cè)溫儀測(cè)量馬達(dá)繞組的溫度。
絕緣多用表可用來(lái)在重新纏繞導(dǎo)線(xiàn)之前檢查導(dǎo) 線(xiàn)段之間的絕緣完整性。
盡管在實(shí)"應(yīng)用中使用的絕緣材料可以時(shí)固體、液體或氣體,但電阻測(cè)量一般指固 體絕緣電阻測(cè)量。影響絕緣電阻測(cè)量的因素有材料的不均勻性、測(cè)試對(duì)象的加電時(shí)間周期、電壓的幅值和極性、建立電荷所需的時(shí)間、材料衰變和樣品的輪廓。
在對(duì)電動(dòng)馬達(dá)進(jìn)行排障時(shí)，要進(jìn)行幾種不同類(lèi)型的絕緣電阻測(cè)試。這些測(cè)試包括絕緣抽査測(cè)試、介質(zhì)吸收測(cè)試和絕緣步進(jìn)電壓測(cè)試。
絕緣抽查測(cè)試
絕緣抽査測(cè)試是指可用于在馬達(dá)的壽命周期內(nèi)驗(yàn)證絕緣狀態(tài)的絕緣電阻測(cè)試。請(qǐng)參見(jiàn)圖3—2。
圖3-2.絕緣抽查測(cè)試是指在馬達(dá)的壽命周期內(nèi)檢查馬達(dá)絕緣狀態(tài)的測(cè)試。
應(yīng)該定期（例如每6個(gè)月）進(jìn)行抽査測(cè)試，跟蹤絕緣完整性的變化。在對(duì)馬達(dá)進(jìn)行維修之后，也應(yīng)該進(jìn)行測(cè)試?？梢栽跇?biāo)明時(shí)間的測(cè)試曲線(xiàn)圖上記錄測(cè)量數(shù)據(jù)。
請(qǐng)按照以下步驟進(jìn)行絕緣抽査測(cè)試：
1.
2.
3.
分析測(cè)試圖表的結(jié)果，確定絕緣的狀態(tài)。 請(qǐng)參見(jiàn)圖3-3。A點(diǎn)代表馬達(dá)投入使用時(shí)的絕緣狀態(tài)；B點(diǎn)表示老化、污染等因素對(duì)馬達(dá)絕緣的影響；C點(diǎn)表示絕緣發(fā)生故障。D點(diǎn)表示重新纏繞后馬達(dá)的絕緣狀態(tài)。如果所有的讀數(shù)都髙于可接收的最低電阻值，則在絕緣抽査測(cè)試曲線(xiàn)圖中記錄最小的儀表讀數(shù)。如果讀數(shù)不能滿(mǎn)足可接收的最小電阻值，則需要維修馬達(dá)。由于馬達(dá)的性能受限于最薄弱的環(huán)節(jié)，所以?xún)H使用最小的讀數(shù)。
圖3-3在標(biāo)明時(shí)間的測(cè)試曲線(xiàn)圖上記錄測(cè)量數(shù)據(jù)。
介質(zhì)吸收測(cè)試
介質(zhì)吸收測(cè)試是指檢查潮濕或被污染的絕緣材料的吸收特性的絕緣電阻測(cè)試。測(cè)試是在10分鐘的周期內(nèi)進(jìn)行的。請(qǐng)參見(jiàn)圖3-4。
請(qǐng)按以下步驟進(jìn)行介質(zhì)吸收測(cè)試：
1.連接兆歐表，測(cè)量每一繞組導(dǎo)線(xiàn)的對(duì)地電阻。如果所有的讀數(shù)都高于可接收的最小電阻值，就在介質(zhì)吸收測(cè)試圖上記錄最小的儀表讀數(shù)。在第一分鐘的時(shí)間內(nèi)，每10秒鐘記 錄一次讀數(shù)，然后每10分鐘記錄一次讀數(shù)。
評(píng)論