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          電源模塊白盒測試方法

          作者: 時間:2017-01-09 來源:網(wǎng)絡 收藏
            3 驅(qū)動電路的測試
            測試說明:
            功率器件的驅(qū)動技術是電源可靠性的重要保障,好的驅(qū)動方式能夠?qū)崿F(xiàn)有效的開通和關斷,高效率,低的EMI干擾,快速實現(xiàn)功率器件的保護等功能,測試中應對功率管驅(qū)動進行測試,為了防止由于探頭引起的影響,測試中用應采用差分隔離探頭(或采用一般的探頭,同時示波器的電源用隔離變壓器隔離),并注意以下問題:
            A、驅(qū)動電路分析;
            B、驅(qū)動電壓;
            C、驅(qū)動波形;
            D、瞬態(tài)情況下驅(qū)動波形;
            F、驅(qū)動芯片的電壓,如起機過程中的芯片供電電壓等。
            測試方法:
           ?。?)驅(qū)動電路分析
            審核驅(qū)動電路方式,無論變壓器隔離驅(qū)動和集成IC驅(qū)動,驅(qū)動電阻應滿足推薦要求,如果采用加速電容或快速關斷方式時應評估其作用,負壓關斷時應確認其影響,一般情況下GS應有穩(wěn)壓管,分析驅(qū)動電路,確認電路設計合理性。
           ?。?)驅(qū)動電壓
            目前,公司的大部分的開關管都是使用MOSFET或IGBT,MOSFET和IGBT的驅(qū)動都是使用電壓方式,高的驅(qū)動電壓會擊穿柵極,測試在空載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,Tr和Tf為1A對應20us),空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高,從最高電壓到最低電壓跳變(跳變時間為50ms)條件下的驅(qū)動波形,要保證驅(qū)動電壓低于規(guī)定電壓,一般峰值應小于20V,同時注意驅(qū)動電壓要滿足飽和驅(qū)動。
            (3)驅(qū)動波形
            測試在空載、輕載、半載、滿載、限流狀態(tài)、空載滿載跳變、空載到限流跳變、空載到深度限流跳變(所有的負載跳變條件為:跳變時間5ms,Tr和Tf為1A對應20us),空載到短路及輸入電壓為最低、額定、最高,從最高電壓到最低電壓跳變(跳變時間為50ms)條件下的驅(qū)動波形,波形的上升和下降沿應平滑,且滿足效率和EMI要求(上升時間較快,管子的開通損壞小,但是電壓尖鋒較高,EMI會較大),開通中不應有下跌,關斷后不會出現(xiàn)尖沖,死區(qū)時間滿足設計要求。
            對比PWM芯片輸出波形和驅(qū)動波形,確認驅(qū)動波形和PWM輸出波形一致。
            (4)驅(qū)動回路
            功率器件(MOSFET和IGBT)驅(qū)動電源要求低的阻抗特性,驅(qū)動回路面積盡可能小,驅(qū)動線盡量短,且驅(qū)動回路必須與功率回路分開。
           ?。?)瞬態(tài)狀態(tài)下的波形
            在瞬態(tài)條件下,如開關機、輸出突加負載、突減負載,由限流態(tài)到穩(wěn)壓態(tài)的轉(zhuǎn)換,從穩(wěn)壓到限流態(tài)的轉(zhuǎn)換,輸出短路,短路開機,輸出短路放開的情況下驅(qū)動正常。由保護到恢復的過程中,驅(qū)動正常,波形的上升和下降沿應平滑,開通中不應由下跌,關斷后不會出現(xiàn)尖沖,死區(qū)時間滿足設計要求,驅(qū)動波形不應出現(xiàn)振蕩現(xiàn)象。
            判定標準:
            符合測試說明,合格;否則不合格。
           ?。?)主控制芯片供電電壓的測試
            用示波器測試主要的控制芯片的供電電壓,捕捉模塊上電過程、關機的過程以及正常工作情況下芯片供電電壓的波形,芯片供電電壓必須滿足芯片資料的要求,同時最好工作在芯片資料推薦的工作電壓下,任何情況都不能出現(xiàn)超過芯片工作電壓范圍的電壓芯片供電。
            4 磁性器件的測試
            測試說明:
            電路中磁性元件主要在輸入共模電感、PFC電感、變壓器、濾波電感、輸出共模電感、驅(qū)動變壓器、諧振電感等處使用,起著EMI濾波及能量傳遞等作用,評價磁性元件應用是否恰當主要關注以下幾個方面:
            A、是否存在飽和現(xiàn)象
            B、溫升是否滿足要求,磁性溫升是因為鐵損(渦流損耗、磁滯損耗)和銅損造成。
            常用的磁性材料有:鐵氧體、坡莫合金、非晶態(tài)合金等,根據(jù)其特性,分別應用在不同的場合。
            正確的設計才能保證磁性元件應用的合理,由于隨溫度的變化磁心的特性有較大的變化,因此最惡劣的條件下的驗證是必要的。
            測試方法:
           ?。?)輸入和輸出共模電感
            一般不會存在飽和問題,其主要作用是實現(xiàn)EMI要求,同時有抑制輸入的共模串擾的作用,其考慮主要是良好的絕緣,在要求頻段內(nèi)的電感量,分步電容小,溫升滿足要求。前三點由EMC測試保證,溫升需要測試,測試常溫下最大電流(銅耗最大)條件下的溫升ΔT,以衡量設計的合理性。
            (2)PFC電感
            PFC電感在功率回路中起能量傳遞的作用,雖然一般PFC控制芯片具有限流作用,但是電感的飽和降引起嚴重溫升和輸入電流波形畸變,因此需測試最惡劣條件下的工作情況。
            A、測試最低電壓輸入,最大功率輸出時的PFC電感電流波形,電流波形不會出現(xiàn)非正常的上翹,即不會飽和(動態(tài)情況下,不作為磁性器件的要求,但其他器件的降額必須滿足降額)。
            B、降輸入電壓調(diào)整為在欠壓點+5V(持續(xù)時間為200ms)、過壓點-5V(持續(xù)時間為200ms)之間跳變,輸出調(diào)整為最大線形負載時,測試PFC電感電流波形,電流波形不會出現(xiàn)非正常的上翹,即不會飽和。同時,需要在最低輸入電壓時分別測試輸出滿載、限流、空載滿載跳變、空載到限流、空載到深度限流,電感電流的波形,判斷是否能夠滿足要求。
            C、在最低輸入電壓,最大輸出功率情況下,測試常溫下的溫升ΔT,應滿足溫升要求。
            D、在最低輸入電壓,最大輸出功率情況下,測試最高工作溫度下的溫升ΔT,與常溫比較無太大差異,且磁心溫度不會超標。
            (3)變壓器
            隨電路拓撲不同,變壓器的要求也不同,不考慮集成磁情況,一般雙極性變壓器(如全橋、半橋、推挽等開關電源變壓器),單端正激類變壓器,單端反激類變壓器類型,且與具體采用的復位技術有關。
            變壓器的飽和溫升問題是值得注意的問題,可以從以下方面考慮:
            A、變壓器最大輸入電流(變壓器輸入電壓最低,輸出功率最大)情況下的電流波形不應出現(xiàn)異常的上翹。
            B、將輸入電壓調(diào)整為在欠壓點+5V(持續(xù)時間為50ms)、過壓點-5V(持續(xù)時間為50ms)之間跳變,輸出調(diào)整為最大線形負載(持續(xù)時間為500ms)、空載(持續(xù)時間為500ms)之間跳變,測試變壓器的電流波形,電流波形不會出現(xiàn)非正常的上翹,激即不會飽和。同時,需要在最低輸入電壓時分別測試輸出滿載、限流、空載滿載跳變、空載到限流、空載到深度限流,電感電流的波形,判斷是否能夠滿足要求。
            C、在最低輸入電壓,最大輸出功率情況下,測試常溫下的溫升ΔT,應滿足溫升要求。
            D、在最低輸入電壓,最大輸出功率情況下,測試最高工作溫度下的溫升ΔT,與常溫比較無太大差異,且磁心溫度不會超標。
            (4)輸出濾波電感
            輸出濾波電感工作在直流狀態(tài)下,電感量的大小影響主電路的工作穩(wěn)定性和特性。
            輸出濾波電感要求在最惡劣的情況下不出現(xiàn)飽和現(xiàn)象,溫升滿足要求。
            A、電感中流過最大電流(電流輸出處于限流狀態(tài),輸出最大電流時)情況下的電流波形不應出現(xiàn)異常的上翹。
            B、在最低輸入電壓,最大輸出功率情況下,測試常溫下的溫升ΔT,應滿足溫升要求。
            D、在最低輸入電壓,最大輸出功率情況下,測試最高工作溫度下的溫升ΔT,與常溫比較無太大差異,且磁心溫度不會超標。
            判斷標準:
           ?。?)測試中電感或變壓器中電流在最惡劣狀況下不會出現(xiàn)飽和;
           ?。?)常溫下的磁性元件溫升和最高工作溫度下的溫升現(xiàn)象;
           ?。?)換算到最高溫度及最惡劣輸出狀態(tài)下磁性元件及其線包上的表面溫度不超過安規(guī)的規(guī)定。對于絕緣等級A(105度),任何情況下,表面溫度不能超過90度;對于絕緣等級B(130度),任何情況下,表面溫度不能超過110度;對于絕緣等級F(155度),任何情況下,表面溫度不能超過135度;對于絕緣等級H(180度),任何情況下,表面溫度不能超過150度。
            (4)磁性元件內(nèi)部的溫升不能超過《器件認證降額規(guī)范》要求的降額。
            5 DC/DC反饋環(huán)測試
            測試說明:
            每種DC/DC主電路拓撲都有其典型的反饋效正網(wǎng)絡結(jié)構(gòu),合適的校正網(wǎng)絡不但可以得到穩(wěn)定的靜態(tài)性能,而且可以獲得良好的動態(tài)特性,通過測試和調(diào)整可以獲得滿意的校正網(wǎng)絡。在閉回路下測得的系統(tǒng)開環(huán)傳遞函數(shù),可以反應系統(tǒng)的穩(wěn)定性,以及在不穩(wěn)定的情況之下的調(diào)試趨勢。由于溫度對環(huán)路參數(shù)會導致一定的影響,故除了進行常溫下的環(huán)路測試以外,還必須進行高、低溫和濕度下進行環(huán)路測試。
            測試方法:
            一般的,測試接線圖如下圖所示:
            注:R參考基準信號;C輸出信號;H分壓網(wǎng)絡;S注入測試信號;Y儀器測試端;Z儀器參考端;G1和G2為部分主電路
            利用HP4149A和信號耦合變壓器在控制信號的總反饋端結(jié)成如上圖的結(jié)法,利用HP4149的矢量相除可以直接得出:T/R=-Y/Z=-G1G2H,固定引進180度相移,因此在HP4149的BODE圖上,可以得到增益為0dB處的相位為相位裕度,在相位為0deg處的增益為增益裕度。
            參數(shù)設置為:
            電壓環(huán)測試信號:10~50mV(視測試點噪音而定)²
            副邊限流環(huán)測試信號:5~10mV(視測試點噪音而定)²
            當輸出電壓高于42V時,TEST端和REFRERECE端要用分壓電路分壓到42V之內(nèi),同時測試信號也要相應增大,增大的倍數(shù)為:1/分壓比。
            ² 在掃描頻率范圍為:10Hz~開關頻率
            在全輸入電壓,全負載范圍內(nèi)測試系統(tǒng)的穩(wěn)定性²
            測試判據(jù):
            輸入電壓,輸出電壓,負載、溫度、濕度等都將影響環(huán)路的穩(wěn)定性,在不同溫度(高溫、低溫和常溫),不同輸入電壓(最高、最低和額定),不同輸出負載(最小負載為5%額定負載、半載、滿載,對于空載的要求,不能有嘯叫聲),不同輸出電壓(額定、最高、最低)各種情況下組合,所有測試結(jié)果同時滿足相位裕度在30deg到15deg,增益裕度大于60dB,合格;否則不合格。

          關鍵詞: 電源模塊白盒測

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