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          使用混合示波器,執(zhí)行五項常見調(diào)試任務(wù)

          作者: 時間:2017-01-09 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          使用集成示波器,讓五項常見調(diào)試任務(wù)更高效

          隨著復(fù)雜性不斷上升,實踐證明,現(xiàn)代混合信號設(shè)計與設(shè)計人員可謂棋逢對手。嵌入式設(shè)計工程師必須戴幾頂帽子,才能高效地診斷和調(diào)試最新設(shè)計。這意味著他們需要處理下述活動:設(shè)計電源,測量功率效率,在設(shè)計中采用無線電,或必須追蹤可能威脅預(yù)計操作的噪聲來源。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201701/337534.htm

          而且,調(diào)試當(dāng)今設(shè)計要求在混合域環(huán)境中工作,從DC到RF,包括模擬信號和數(shù)字信號、串行總線和并行總線。在不太遙遠(yuǎn)的過去,這曾要求滿滿一工作臺的儀器,每臺儀器都有自己的接口和設(shè)置要求。

          但是,正如嵌入式測試要求正在變化一樣,測試儀器也在變化,最明顯的是集成示波器的出現(xiàn)。在示波器用戶調(diào)查中,我們發(fā)現(xiàn),除他們的示波器外,工程師報告稱,他們每個月需要多次使用下面的儀器:

          ● 數(shù)字電壓表 87%

          ● 函數(shù)發(fā)生器 68%

          ● 頻譜分析儀 45%

          ● 邏輯分析儀 33%

          ● 協(xié)議分析儀 15%

          這表明示波器 – 大多數(shù)設(shè)計工作臺的核心儀器 – 必需為設(shè)計人員提供一套更完善的功能和特性,支持高效檢驗和調(diào)試嵌入式設(shè)計。為滿足這一需求,測試設(shè)備制造商現(xiàn)在開始提供集成示波器,把多臺儀器融合到一個小型便攜式包裝中,并能夠同時查看時域信息和頻域信息。

          市 場上最新的集成示波器之一是泰克MDO3000 (圖1),它同時融合六臺儀器,包括業(yè)內(nèi)唯一內(nèi)置到示波器中的獨立RF采集系統(tǒng)。其他功能包括邏輯分析儀、協(xié)議分析儀、任意函數(shù)發(fā)生器和數(shù)字電壓表 (DVM)。而這樣一臺儀器在實踐中怎樣工作呢?它真能替代多臺獨立儀器嗎?為了嘗試回答這些問題,我們使用這臺全新集成示波器完成下面五項常見任務(wù),包 括:

          1.查找異常信號

          2.檢驗串行和并行總線設(shè)計

          3.搜索噪聲源

          4.使用帶噪聲的信號進(jìn)行余量測試

          5.驗證開關(guān)電源設(shè)計

          一如既往,您獲得的好處可能會根據(jù)需求和要求變化 – 一定要仔細(xì)查看技術(shù)數(shù)據(jù)表,并與預(yù)計應(yīng)用進(jìn)行對比。而隨著價格下降,達(dá)到“標(biāo)準(zhǔn)”數(shù)字示波器的水平,同時隨著無線技術(shù)在嵌入式系統(tǒng)中普及,安全地說,集成示波器在這里可以清楚地代表示波器發(fā)展的未來。


          圖1.泰克MDO3000系列集成示波器在一個便攜式包裝中提供了六臺儀器。

          User interface selectable in 11 languages: 用戶界面有11種語言可供選擇

          9’’ display: 9’’顯示器

          Protocol decode & application modules: 協(xié)議解碼和應(yīng)用模塊

          Dedicated spectrum analyzer functions & true RF N connectors: 專用頻譜分析儀功能和真正RF N連接器

          16 digital channels: 16條數(shù)字通道

          Arbitrary Function Generator: 任意函數(shù)發(fā)生器

          Oscilloscope and DVM inputs: 示波器和DVM輸入

          查找異常信號

          發(fā)現(xiàn)和捕獲異常信號可能是調(diào)試過程中最困難的挑戰(zhàn)之一。僅一個信號上微弱的或偶爾發(fā)生的異常事件,都可能會直接決定設(shè)計能否可靠運行。

          通 常情況下,在探測電路板上的信號時,在波形上偶爾會看到微弱的光跡,表明偶爾出現(xiàn)的、非預(yù)計的事件,其看上去和數(shù)字信號不同。使用輝度等級顯示技術(shù),可以 幫助確認(rèn)信號上存在偶發(fā)異常事件,但它們從屏幕上消失得太快,測量不到。盡管無限余輝在查看單個信號時會有一定的幫助,但它不能兼容快速探測電路板。


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