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          LabVIEW應(yīng)用于工業(yè)測量和控制平臺

          作者: 時間:2017-01-12 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
            LabVIEW可用于要求苛刻的工業(yè)應(yīng)用,如高級I/O、高速模擬信號采集、振動監(jiān)控、控制及其視覺之類的高級處理應(yīng)用,以及與工業(yè)硬件(如OPC設(shè)備和PLC)的通信。另外,可以將LabVIEW中的可編程自動控制器(PAC)集成于其他測控系統(tǒng)中,從而達到附加的測量和控制功能,如圖所示。工業(yè)測量和控制中的應(yīng)用通常有:集成的測試和控制、機器自動化、機器視覺、機器狀況監(jiān)控、分布式監(jiān)控和控制及功率監(jiān)控等。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201701/337637.htm

            圖 LabVIEW應(yīng)用于工業(yè)測量和控制平臺

            LabVIEW在工業(yè)測量和控制平臺中的應(yīng)用及任務(wù)如表所示。

            表:LabVIEW在工業(yè)測量和控制中的應(yīng)用及任務(wù)



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