手把手教你如何進(jìn)行USB3.0發(fā)射機(jī)測(cè)試
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通過(guò)使用圖4（【你所了解和不了解的USB2.0、USB3.0結(jié)構(gòu)與測(cè)試那些事】鏈接）列出的各種測(cè)試碼型，可以方便地進(jìn)行發(fā)射機(jī)測(cè)試。每種碼型都是為與評(píng)估碼型的測(cè)試有關(guān)的特點(diǎn)選擇的。CP0 (D0.0加擾序列)用來(lái)測(cè)量確定性(Dj)抖動(dòng)，如數(shù)據(jù)相關(guān)抖動(dòng)(DDJ)；CP1 (沒(méi)有加擾的D10.2全速率時(shí)鐘碼型)不會(huì)產(chǎn)生DDJ，因此更適合評(píng)估隨機(jī)抖動(dòng)(Rj)。
抖動(dòng)和眼高在應(yīng)用均衡器功能及相應(yīng)的時(shí)鐘恢復(fù)設(shè)置(二階PLL、10 MHz的閉環(huán)帶寬及0.707的阻尼系數(shù))后使用100萬(wàn)個(gè)連續(xù)單位間隔測(cè)得。抖動(dòng)結(jié)果計(jì)算得出，其超越實(shí)測(cè)的數(shù)據(jù)樣本總量，迅速提取1 x 10-12BER水平時(shí)的具體抖動(dòng)性能。例如，在抖動(dòng)推斷中，把實(shí)測(cè)Rj (rms)乘以14.069，可以計(jì)算得出目標(biāo)Rj。
圖6.發(fā)射機(jī)測(cè)試點(diǎn)。
圖8.使用DPOJET調(diào)試USB 3.0，包括自定義控制設(shè)置。
圖6顯示了標(biāo)準(zhǔn)化的發(fā)射機(jī)一致性測(cè)試設(shè)置，包括參考測(cè)試通道和電纜。測(cè)試點(diǎn)2 (TP2)距被測(cè)器件(DUT)最近，測(cè)試點(diǎn)1 (TP1)則是遠(yuǎn)端的測(cè)量點(diǎn)。注意，所有發(fā)射機(jī)標(biāo)準(zhǔn)化的測(cè)量都在TP1的信號(hào)上執(zhí)行。
在TP1采集信號(hào)之后，數(shù)據(jù)使用稱為SigTest的軟件工具處理，這與官方PCI Express一致性測(cè)試類似。對(duì)要求預(yù)一致性測(cè)試、檢定或調(diào)試的應(yīng)用，可以使用其它工具，進(jìn)一步了解變化條件或參數(shù)下的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。帶有選項(xiàng)USB-TX的泰克MSO/DPO/DSA70000系列示波器可以執(zhí)行所有USB 3.0標(biāo)準(zhǔn)化和信息性物理層發(fā)射機(jī)測(cè)試，如圖7所示。單鍵自動(dòng)軟件工具，如USB-TX，通過(guò)保證正確配置測(cè)試設(shè)備，節(jié)約了時(shí)間。實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員就可以準(zhǔn)確地運(yùn)行測(cè)試，而不是非得要深入了解USB規(guī)范的高級(jí)工程師。在測(cè)試結(jié)束后，詳細(xì)的測(cè)試通過(guò)/失敗報(bào)告將列出可能發(fā)生設(shè)計(jì)問(wèn)題的地方。如果不同測(cè)試地點(diǎn)(如公司實(shí)驗(yàn)室、測(cè)試機(jī)構(gòu)、等等)得到的結(jié)果相互矛盾，可以使用以前運(yùn)行的測(cè)試中保存的數(shù)據(jù)運(yùn)行測(cè)試。
帶有選項(xiàng)USB-TX的TekExpress自動(dòng)測(cè)試軟件利用基于DPOJET通用分析功能的檢定和調(diào)試環(huán)境。靈活的抖動(dòng)和眼圖分析軟件包可以更多地以用戶自定義方式控制分析參數(shù)，幫助加快調(diào)試過(guò)程，大大簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)檢定。例如，可以一次顯示多個(gè)眼圖，用戶可以分析不同時(shí)鐘恢復(fù)技術(shù)或軟件通道模型的影響。另外，可以運(yùn)用不同的濾波器，分析SSC解決系統(tǒng)互操作能力的效果。
圖9.帶有12英寸和24英寸軌跡的ISI電路板。
評(píng)論