高級(jí)搜索和標(biāo)記功能完善Pinpoint觸發(fā)系統(tǒng)功能

高級(jí)搜索和標(biāo)記( A S M )使用的觸發(fā)類(lèi)型大部分與Pinpoint觸發(fā)系統(tǒng)相同，來(lái)分析采集的波形，識(shí)別關(guān)心的事件。硬件觸發(fā)一次監(jiān)測(cè)一個(gè)事件類(lèi)型，ASM則同時(shí)掃描多個(gè)事件類(lèi)型。例如，它可以在多條通道上掃描建立時(shí)間或保持時(shí)間違規(guī)，還可以同時(shí)掃描突發(fā)開(kāi)始和結(jié)束，如DDR存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)波形上的讀或?qū)?。配以高采樣率，ASM掃描在處理高信令速度時(shí)比基于硬件的觸發(fā)方法提供了更精細(xì)的分辨率。此外，它可以在已經(jīng)在采集的波形上應(yīng)用了函數(shù)(如濾波或頻譜分析)的數(shù)學(xué)波形上應(yīng)用觸發(fā)搜索。

圖1.FastAcq查看功能顯示了潛在問(wèn)題(灰色)。

圖1介紹了ASM功能及其在典型調(diào)試場(chǎng)景中的好處。屏幕畫(huà)面使用FastAcq可視化的波形，揭示了信號(hào)中的潛在問(wèn)題?；疑壽E顯示了偶發(fā)事件，波形中偶爾會(huì)看到放錯(cuò)位置的邊沿。

圖2.使用Pinpoint觸發(fā)類(lèi)型檢測(cè)的毛刺事件。

在懷疑有毛刺或損壞的信號(hào)跳變時(shí)，可以使用Pinpoint觸發(fā)系統(tǒng)，隔離比系統(tǒng)中預(yù)期寬度窄的脈沖。通過(guò)這種方式，我們檢測(cè)到一個(gè)毛刺事件，如圖2所示。

圖3.Pinpoint觸發(fā)類(lèi)型搜索方法。

圖4.選擇并把毛刺搜索方法復(fù)制到高級(jí)搜索和標(biāo)記中。

然后，可以使用ASM，進(jìn)一步了解發(fā)生的情況，為找到根本原因提供線索。如圖3所示，可以使用與每種Pinpoint觸發(fā)類(lèi)型對(duì)應(yīng)的搜索方法，掃描采集的波形。搜索方法調(diào)色板適合隔離各種信號(hào)完整性缺陷和問(wèn)題，包括建立時(shí)間和保持時(shí)間違規(guī)。在圖4中，從Search(搜索)菜單中選擇Glitch(毛刺)，用戶可以繼續(xù)為這一搜索配置參數(shù)。

Pinpoint 觸發(fā)系統(tǒng)與ASM整合，以便一個(gè)系統(tǒng)中的觸發(fā)設(shè)置可以迅速應(yīng)用到另一個(gè)系統(tǒng)中。在本例中，我們使用Settings Copy(設(shè)置復(fù)制)功能，只需按一個(gè)按鈕，就可以把設(shè)置直接從Pinpoint Glitch Trigger(毛刺觸發(fā))復(fù)制到ASM Glitch Search(毛刺搜索)中，在實(shí)時(shí)觸發(fā)系統(tǒng)和后處理搜索功能之間移動(dòng)時(shí)，節(jié)約了時(shí)間，減少了錯(cuò)誤。

圖5.5M樣點(diǎn)波形的搜索結(jié)果。

在使用Glitch (毛刺)觸發(fā)定義了Search (搜索)后，顯示畫(huà)面會(huì)更新，表明波形中匹配的位置。圖5顯示了5 M樣點(diǎn)波形的結(jié)果。我們搜索寬度小于4 ns的正脈沖。