EMI測試那點事

電磁兼容(EMC)包括電磁干擾(EMI)和電磁抗擾度(EMS)兩部分。簡而言之，EMI是電子設備對外部電磁環(huán)境的干擾，EMS是電子設備抵抗外部電磁環(huán)境干擾的能力。無論是EMI還是EMS，都包括輻射和傳導兩部分。EMC認證是任何電子設備必須遵從的，EMI是EMC中的重要部分。

EMI測試包括

1. EMC 認證機構在EMC實驗室進行認證測試；

2. 企業(yè)質(zhì)檢部門利用EMI接收機或高指標頻譜儀進行EMI預認證測試；

3. 產(chǎn)品研發(fā)、調(diào)測部門利用頻譜儀進行EMI診斷；

4. 產(chǎn)品研發(fā)調(diào)測部門利用示波器測試電源紋波、時鐘抖動等特性，因為它們是產(chǎn)生EMI的因素之一。

EMI診斷

在電子設備設計、調(diào)試階段，隨時進行EMI診斷是保證電子設備通過EMC認證行之有效且費用最低的手段。如果最終產(chǎn)品EMC認證不合格，設計者需要重新進行EMI診斷，找出EMI問題的根源，但此時可用的整改手段已經(jīng)不多，進行重新設計，費用將倍增。由此可見EMI診斷是日常工作中經(jīng)常進行的，而EMI預認證以及認證測試只有在電子產(chǎn)品定型階段才進行。有關EMI診斷預EMI預認證或認證的區(qū)別見下表。

峰值檢波與準峰值檢波：

EMI 認證機構通常按照EMI標準的準峰值檢波進行測試，而EMI診斷中往往用峰值檢波，兩者不匹配，EMI診斷是否還有意義？由于EMI診斷的目的是為了找出EMI的根源，并不需要絕對精確的測試，而是需要相對的重復性好的測試。準峰值檢波用來檢測信號包絡加權后的峰值(準峰值)，它根據(jù)時長和重復率對信號加權。準峰值檢波的平均過程需耗費時間，測試時間長，不利于日常診斷。由于準峰值檢波測試幅度結(jié)果永遠小于或等于峰值檢波的測試結(jié)果，因此在進行EMI診斷時，用峰值檢波可以快速發(fā)現(xiàn)EMI問題。

EMI測試中工程師的“痛點”：

1. 從電路板設計開始就應該考慮EMI問題，但受資金限制，EMI診斷設備往往不能配備到位。

2. 電子產(chǎn)品設計定型后去進行EMC認證測試，認證機構給出不合格報告，僅指出輻射還是傳導EMI不合格，雖然給出干擾頻點，但并不指出電子設備中EMI不合格的具體位置或原因，需自行進行EMI診斷，耗費時間與資金。

3. 某些設備受環(huán)境制約無法進行屏蔽，需找出EMI根源從設計上解決。頻譜儀是發(fā)現(xiàn)EMI問題的基本測試儀器，但某些情況下難以追蹤EMI的根源。

4. 某些EMI問題可以通過屏蔽方式解決，雖然可以通過EMC認證，但EMI影響該設備自身性能，必須從根源上解決，或找出問題所在加以回避。在此種情況下，頻譜儀存在與3同樣的問題。

5. 隨著數(shù)據(jù)速率的加快，周期性突發(fā)的EMI問題日益增多，必須通過對EMI周期的分析找出問題的真正根源，這需要調(diào)制域分析。

6. 傳導類EMI可以用示波器追蹤，同時需要用頻譜儀測試，需要兩種儀器結(jié)合運用。

泰克基于獨特的混合域示波器的EMI測試方案：

方案：MDO4014-3 +近場天線+ P6150 + N轉(zhuǎn)SMA

特點：

a) 五合一，完備的示波器功能既可以滿足日常電路調(diào)測需求，還可以追蹤EMI問題的根源；頻譜儀功能可以隨時診斷EMI問題。

b) 具有特色的跨域分析功能，便于分析EMI的真正根源

c) 頻譜高靈敏度、分析帶寬寬，適用于EMI診斷測試

d) 可測試射頻幅度隨時間的變化，便于分析周期性EMI問題產(chǎn)生的根源

e) P6150 探頭(選配)可直接將電路板電源或地線連接到MDO頻譜儀射頻輸入端，測試電源紋波或地線不合理引起的EMI問題