是德科技TD-LTE基站性能測(cè)試方案

如果測(cè)試環(huán)境確實(shí)希望使用外置信道仿真器，則只需使用是德科技N5182B/N5172B射頻信號(hào)發(fā)生器即可完成上述系統(tǒng)的測(cè)試。典型的測(cè)量系統(tǒng)如圖3所示。

圖3 N5182B/72B MXG-B測(cè)試系統(tǒng) 2.2 軟件平臺(tái)

PXB或N5182B/72B通過(guò)Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產(chǎn)生特定的參考測(cè)試信號(hào)，并實(shí)時(shí)地調(diào)整編碼冗余因子。

圖4 上行信號(hào)配置

圖5 HARQ設(shè)置 2.3 反饋信號(hào)格式

基站下發(fā)給PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信號(hào)以RS232C串行通信的數(shù)據(jù)格式進(jìn)行編碼，PXB或N5182B/72B根據(jù)相同的編碼速率和格式進(jìn)行解碼得到ACK/NACK值。反饋信號(hào)由8個(gè)比特組成，1個(gè)起始位，1個(gè)停止位，無(wú)奇偶校驗(yàn)位。具體的數(shù)據(jù)格式如表2所示。

3 測(cè)試結(jié)果

按照測(cè)試結(jié)構(gòu)圖搭建好測(cè)試系統(tǒng)并配置軟件平臺(tái)，啟動(dòng)基站及PXB或N5182B/72B，同時(shí)在示波器和基站控制端觀察測(cè)試結(jié)果。

圖6 PXB或N5182B/72B實(shí)時(shí)響應(yīng)圖

6為示波器上觀察到的PXB或N5182B/72B實(shí)時(shí)響應(yīng)。通道1、2、3和4分別為上行信號(hào)幀頭、ACK/NACK指令序列、上行信號(hào)I/Q數(shù)據(jù)以及 PXB或N5182B/72B的ACK/NACK響應(yīng)(高電平為ACK，低電平為NACK)。如圖所示，HARQ時(shí)序響應(yīng)與標(biāo)準(zhǔn)協(xié)議完全相符。

基站端對(duì)上行射頻信號(hào)進(jìn)行分集接收并解調(diào)，然后通過(guò)CRC校驗(yàn)對(duì)接收結(jié)果作出判斷，最后得到在特定衰落模型下的系統(tǒng)吞吐率。

根據(jù)3GPP TS 36.141規(guī)定，選取PUSCH，20MHz帶寬信號(hào)作為測(cè)試案例。在2根接收天線，Normal CP下，按照列出的前10個(gè)Case依次測(cè)試，結(jié)果如下：

4 結(jié)論

結(jié)果表明，系統(tǒng)完全滿足標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試要求。測(cè)試過(guò)程透明可見(jiàn)，結(jié)果顯示直觀可信。同時(shí)，該測(cè)試系統(tǒng)在不添加任何硬件配置的情況下，僅僅通過(guò)軟件配置即可實(shí)現(xiàn) 1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，從而實(shí)現(xiàn)基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能測(cè)試，是TD-LTE基站性能測(cè)試的理想平臺(tái)。

推薦方案：是德科技基帶信號(hào)發(fā)生器與信道仿真儀 N5106A PXB配合信號(hào)發(fā)生器MXG和signal studio N7625B可以提供一站式的整體解決方案;如果測(cè)試系統(tǒng)已有專用信道仿真器，則可使用是德科技信號(hào)發(fā)生器N5182B/72B及signal studio N7625B完成最終測(cè)試