表面電阻率和體電阻率的測量以及變換極性和變換電壓
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體電阻率的測量
體電阻率是材料直接通過泄漏電流的能力的度量。體電阻率定義為邊長1厘米的立方體絕緣材料的電阻，并表示為歐姆-厘米。測量體電阻率時，將樣品放在兩個電極之間，并在兩個電極之間施加一個電位差。產(chǎn)生的電流將分布在測試樣品的體內(nèi)，并由皮安計(jì)或靜電計(jì)來測量。電阻率則由電極的幾何尺寸和樣品的厚度計(jì)算出來：
其中：ρ = 體電阻率（歐姆-厘米）
KV = 由測試盒的幾何尺寸決定的體電阻率測試盒的常數(shù)（厘米2）
V = 施加的電壓（伏特）
I = 測得的電流（安培）
t = 樣品的厚度（厘米）
圖4-22 介紹一種符合ASTM D257標(biāo)準(zhǔn)的測量體電阻率的配置情況。在此電路中，安培計(jì)的HI端連在底部的電極上，電壓源的HI端連在頂部的電極上。安培計(jì)的LO端和電壓源的LO端連在一起。底部的外電極連到保護(hù)端（安培計(jì)的LO端）以避免在測量中計(jì)入表面泄漏電流。
表面電阻率的測量
表面電阻率定義為材料表面的電阻，并表示為歐姆（通常稱為方塊電阻）。其測量方法是將兩個電極放在測試樣品的表面，在電極之間施加一個電位差，并測量產(chǎn)生的電流。表面電阻率計(jì)算如下：
其中：σ = 表面電阻率（歐姆）
KS = 由測試盒的幾何尺寸決定的表面電阻率測試盒的常數(shù)
V = 施加的電壓（伏特）
I = 測得的電流（安培）
圖4-23 是測量表面電阻率的配置情況。這個配置類似于進(jìn)行體電阻率測量的電路，只是現(xiàn)在電阻是在底部的兩個電極之間測量的。注意，頂部的電極接保護(hù)，所以只有流經(jīng)絕緣體表面的電流才為皮安計(jì)所測量。
測試參數(shù)
體電阻率和表面電阻率的測量決定于幾個因素。首先，它們是所加電壓的函數(shù)。有的時候，我們有意地改變電壓，以確定絕緣體電阻率對電壓的依賴關(guān)系。電阻率還隨著充電時間的長度而變化。由于材料按指數(shù)形式不斷充電，所以施加電壓的時間越長，測量出的電流就變得越低。
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