射頻脈沖S參數(shù)的測量

脈沖射頻元件測試

圖2中，示出的配置，用于測量正向S參數(shù)：R接收機(jī)測量入射信號的接收機(jī)測量的反射響應(yīng)，和B接收器測量傳輸響應(yīng)。 S11是A和R的接收器的S參數(shù)，S21是B和R的接收器的S參數(shù)。

脈沖射頻條件下進(jìn)行測試，是非常有價(jià)值的，將被用在設(shè)備脈沖射頻環(huán)境的行為，因?yàn)樵S多組件之間的連續(xù)波（CW）及不同脈沖激勵(lì)試驗(yàn)。例如，一個(gè)放大器的偏壓在一個(gè)脈沖期間可能會(huì)改變。

或者，放大器可能會(huì)表現(xiàn)出作為一個(gè)結(jié)果，受到激勵(lì)的過沖，振鈴，或下垂一個(gè)脈沖。此外，尤其是雷達(dá)系統(tǒng)，內(nèi)測量瞬態(tài)行為的脈沖對于理解系統(tǒng)的運(yùn)行是至關(guān)重要的。無意的調(diào)制在雷達(dá)系統(tǒng)中，如減少雜亂，可能會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)脈沖（UMOP）的問題排斥反應(yīng)，降低目標(biāo)速度的分辨率，不希望傳播的相控arrayantenna波束圖案，和無意的雷達(dá)系統(tǒng)的識別。表征

隨時(shí)間變化的脈沖的振幅和相位是至關(guān)重要的表征。

許多設(shè)備根本無法進(jìn)行測試與CW激勵(lì)，所需的功率電平。例如，許多高功率的放大器是不是設(shè)計(jì)來處理的功耗不間斷運(yùn)行，并在晶圓上測試時(shí)，許多設(shè)備缺乏足夠的熱量下降CW測試。測試脈沖，使這些設(shè)備的功率水平測試與實(shí)際操作一致，更現(xiàn)實(shí)的表征，而不導(dǎo)致熱損傷。描述這些設(shè)備的晶圓上防止設(shè)備不符合其規(guī)格，包裝，儲(chǔ)存制造商相當(dāng)大的時(shí)間和金錢。

本節(jié)介紹的四種基本方法，RF脈沖刺激結(jié)合使用VNA的。前兩種類型的脈沖S參數(shù)測量，在一個(gè)單一的復(fù)雜的數(shù)據(jù)點(diǎn)獲取每個(gè)載波頻率。的數(shù)據(jù)被顯示在透射和反射（圖3）的幅度和/或相位的頻域。的第三和第四的測量類型中完成與一個(gè)固定的RF載波，和顯示數(shù)據(jù)在在時(shí)域中。

平均和脈沖點(diǎn)的脈沖測量

平均脈沖測量，定位在一個(gè)特定的跟蹤點(diǎn)點(diǎn)內(nèi)的脈沖。對于每個(gè)載波頻率上，所顯示的S-參數(shù)代表脈沖的平均值。例如，出現(xiàn)這種情況時(shí)進(jìn)行窄帶檢測沒有任何接收機(jī)的門控。脈沖點(diǎn)的測量結(jié)果以數(shù)據(jù)只在一個(gè)指定的采集窗口內(nèi)的脈沖。此窗口必須是中指定的持續(xù)時(shí)間（寬度）和脈沖（延遲）內(nèi)的位置的條款。那里是不同的方法來做到這一點(diǎn)在硬件中，取決于所用的類型的檢測（圖4）。隨著寬帶檢測，通常被設(shè)置在窗口的數(shù)據(jù)采樣周期（取決于儀器的IF帶寬），并在指定的延遲。同窄帶檢測收購窗口設(shè)置硬件開關(guān)，一種只允許測量每個(gè)脈沖的切片?？梢詧?zhí)行的選通無論是RF或IF部的測量接收機(jī)（PNA選件H11提供中頻門）。