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          硬件測試中的一些陷阱

          作者: 時間:2017-02-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          在平時測試硬件電路的時候,經(jīng)常會遇到一些容易忽視又不容易覺察的問題,但是我們又必須正視這些問題的存在,并想方設(shè)法減弱或者消除這些問題,這里稱之為硬件電路測量中的陷阱。

          測試儀器和儀表的負(fù)載效應(yīng)和濾波器效應(yīng)

          在用萬用表測量電壓或者電流的時候,萬用表都是作為一個負(fù)載和測量對象并聯(lián)或者串聯(lián)在一起。如果測量對象的負(fù)載大小和萬用表的等效負(fù)載的大小相比,如果屬于相同數(shù)量級大小,那么萬用表負(fù)載就一定會對測量對象產(chǎn)生影響。比如測量電壓,被測負(fù)載的大小如果是10K,那么如果所采用萬用表的等效負(fù)載也是這個這個數(shù)量級的,那么測試的結(jié)果一定會有很大的誤差。根據(jù)并聯(lián)電路中的分流理論,如果要減小這種誤差,就必須選擇等效負(fù)載大的萬用表,并且是越大越好。一般而言,指針萬用表在測量電壓的時候,其等效負(fù)載根據(jù)量程的不同分布在幾十千歐到幾百千歐數(shù)量級,數(shù)字萬用表在測量電壓的時候,因其采用了有源電路做為等效負(fù)載,所以其值一般根據(jù)量程不同分布在兆歐數(shù)量級到十幾兆歐數(shù)量級,相對而言,其對被測對象的影響就小很多,測試的結(jié)果可信度也比較高。但是,如果將數(shù)字萬用表看做一個電壓傳感器的話,其高阻值的等效負(fù)載,又會容易拾取一些噪聲電壓,所以也會引進一些測試上的誤差,如果要減小這個高阻的探頭效應(yīng),就必須在測量的時候,表筆和表體盡可能遠(yuǎn)離一些潛在的噪聲干擾源。矛盾論的又一次體現(xiàn)在這里。

          再用聯(lián)系的觀點來看,測量儀器作為等效負(fù)載實際上也參與了所測量的電路的工作,如果要考慮其影響的話,一旦測量儀器介入了測試電路,整個電路的工作狀態(tài)就發(fā)生了變化,如果測量儀器對電路的影響比較小,那么這個測量儀器的影響就是一個微擾,可以忽略,如果測量儀器對電路的影響比較大,那么這個測量儀器的影響就是對這個電路系統(tǒng)的一個沖擊。這就是為什么,有時候我們做測試的時候,表筆一旦放在測試對象上,卻看到了測試對象自激了,或者不工作了,或者有莫名其妙的噪聲出現(xiàn)的原因,這個時候,我們需要做的就是更換負(fù)載效應(yīng)小的儀器或者表筆探頭。

          在用萬用表測量交流信號的時候,還需要注意測量對象的工作頻率,萬用表作為負(fù)載參與測量的時候,如果單純從測量表筆向萬用表看進去,可以認(rèn)為萬用表是一個濾波器,因為其測量電路無非是由一些電阻,電容,晶體管組成的測量電路,那么這個電路必然存在一個工作頻率范圍(帶寬),如果在這個頻率范圍內(nèi)測量,那么測試結(jié)果有效,如果在這個頻率范圍之外測量,測試結(jié)果就不準(zhǔn)確了。所以必須關(guān)注測試儀器的頻率范圍。這個就是萬用表的濾波器效應(yīng)。

          同樣,在使用示波器,交流毫伏表,超高頻微伏表和頻譜儀時,也必須注意相應(yīng)的負(fù)載效應(yīng)和濾波器效應(yīng),應(yīng)該根據(jù)所測試對象的負(fù)載和工作頻率去選擇相應(yīng)的儀器。在儀器的說明書上,一般都有等效負(fù)載的大小說明,以及工作頻率的說明,這個比較常見,非常容易理解。

          一般而言,測量低頻交流信號時,如果單純想測量信號的大小,可以選擇數(shù)字萬用表,如果還想看到信號的時域波形,那么選擇示波器。如果信號很微弱,可以選擇毫伏表和示波器搭配使用。測量音頻信號時,根據(jù)信號的大小,可以選擇示波器或者毫伏表,mV數(shù)量級的交流信號,可以用示波器和毫伏表搭配使用。高頻信號時,可選擇超高頻毫伏表或者頻譜儀。在使用這些儀器的時候,必須注意負(fù)載效應(yīng)和濾波器效應(yīng)。尤其是在測量高頻小信號(uV數(shù)量級)電路的時候,如果高頻放大器的負(fù)載為并聯(lián)諧振電路,這個時候如果用頻譜儀(50ohm負(fù)載效應(yīng))進行測量,必然導(dǎo)致50ohm的頻譜儀和并聯(lián)諧振電路一起作為高頻放大器的負(fù)載,這樣必然導(dǎo)致放大器的增益降低,所測試的結(jié)果必然是不準(zhǔn)確的,這個時候可以采用差分高阻探頭配合頻譜儀進行測量,可以很大程度上減小負(fù)載效應(yīng)的影響。

          另外,在測試晶體的時候,一般常見的是用示波器進行時序的測量,還有的是測試晶體是否振蕩。這個時候,一定要注意示波器探頭的負(fù)載效應(yīng),因為探頭上會存在寄生電容,比較小,一般是pF量級,但是晶體的負(fù)載電容一般也是pF量級,所以探頭的介入,會引起晶體振蕩電路的頻率的偏移,從而影響晶體振蕩電路的工作,嚴(yán)重的,會導(dǎo)致晶體電路無法起振。這個時候,就必須選擇差分高阻探頭進行測量。

          測試線材的濾波器效應(yīng)和負(fù)載效應(yīng)

          一般在測量高頻電路的時候,我們通常采用RF同軸線,比如常見的RG-58C,從直覺來看,50ohm的RF同軸線不會對測量引起太大的影響,可是如果從實際來思考,傳輸線可以看做是一系列LCRG組成的網(wǎng)絡(luò),由于CL的存在,這個網(wǎng)絡(luò)必然存在一個工作頻率范圍,由于RG的存在,這個網(wǎng)絡(luò)必然存在損耗,所以傳輸線會對測試系統(tǒng)產(chǎn)生濾波器效應(yīng),也就是說傳輸線也有一個工作頻率范圍的問題,如果我們用網(wǎng)絡(luò)分析儀去測試一根RF同軸線比如RG-58C,在很寬的頻率范圍來掃描其S21,我們會發(fā)現(xiàn)這個同軸線是一個低通濾波器,從RF線材的非理想性來看,這個測量結(jié)果應(yīng)該是意料之中的??梢栽O(shè)想,如果我們單純讓這根同軸線工作在遠(yuǎn)離其低通濾波器corner-frequency很遠(yuǎn)的地方,那么從RF匹配的角度來看,這個同軸線就不是一個50ohm或者75ohm匹配的同軸線,如果使用這根線,必然引起很大的反射損耗,此時就必須重新選擇其他RF線材。下面的表格就是一個RF同軸線的參數(shù)表格,可以看到每個feet長度時,其等效的電容大約是20~30pF,對于高頻而言,這個是比較大的電容,這就是為什么我們在進行RF測量時,必須選擇盡可能短的同軸線的原因。



          相應(yīng)地,在測量高頻信號(或者高頻數(shù)字信號)的時候,示波器探頭的地線的的等效負(fù)載效應(yīng)也必須考慮,探頭地線的介入,改變了測試系統(tǒng)的特性,探頭地線作為一個感性負(fù)載元件必然引起測試對象的傳輸特性的改變,從而引起測試結(jié)果的變化,嚴(yán)重的會引起系統(tǒng)振蕩和自激。

          以上就是測試線材的濾波器效應(yīng)和負(fù)載效應(yīng)。

          如果從基本電路理論和信號與系統(tǒng)的角度去理解上述這些測試系統(tǒng)中的陷阱,我們會很容易理解,并在選擇儀器或者測試時,知道如何減小和消除這些問題的影響。


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