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          分立電阻器檢定測(cè)試系統(tǒng)的常見誤差來源——引線電阻

          作者: 時(shí)間:2017-02-06 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          為了避免測(cè)量誤差,必須根據(jù)待測(cè)電阻器的阻值大小使用特定的測(cè)量技術(shù)。對(duì)于小電阻(<100Ω)測(cè)量,引線電阻和熱電動(dòng)勢(shì)可能帶來誤差問題。當(dāng)測(cè)量大電阻(>10MΩ)時(shí),漏電流和靜電干擾可能導(dǎo)致讀數(shù)錯(cuò)誤。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201702/338566.htm

          引線電阻

          測(cè)量小電阻(<100Ω)時(shí)常見的誤差來源是從2400數(shù)字源表到電阻器之間測(cè)試引線的串聯(lián)電阻。當(dāng)采用兩線連接時(shí),這個(gè)串聯(lián)電阻添加到測(cè)量中(參見圖1)。當(dāng)連接線纜較長(zhǎng)且使用的電流較大時(shí),引線電阻的引入會(huì)對(duì)測(cè)試產(chǎn)生嚴(yán)重影響,因?yàn)橥瑴y(cè)得的電壓相比,引線電阻產(chǎn)生的電壓降是不可忽視的。


          圖一雙線技術(shù)


          圖2四線連接


          為了避免這個(gè)問題,使用四線測(cè)量方法而不采用兩線技術(shù)。利用四線方法(圖2),使用一對(duì)引線為電阻提供電流激勵(lì),并通過另一對(duì)引線測(cè)量電阻電壓降。因此,測(cè)得的結(jié)果只是被測(cè)電阻兩端的電壓降。



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