分立電阻器檢定測試系統(tǒng)的常見誤差來源——引線電阻

為了避免測量誤差，必須根據(jù)待測電阻器的阻值大小使用特定的測量技術(shù)。對于小電阻(<100Ω)測量，引線電阻和熱電動勢可能帶來誤差問題。當測量大電阻(>10MΩ)時，漏電流和靜電干擾可能導(dǎo)致讀數(shù)錯誤。

引線電阻

測量小電阻(<100Ω)時常見的誤差來源是從2400數(shù)字源表到電阻器之間測試引線的串聯(lián)電阻。當采用兩線連接時，這個串聯(lián)電阻添加到測量中(參見圖1)。當連接線纜較長且使用的電流較大時，引線電阻的引入會對測試產(chǎn)生嚴重影響，因為同測得的電壓相比，引線電阻產(chǎn)生的電壓降是不可忽視的。


圖一雙線技術(shù)

圖2四線連接

為了避免這個問題，使用四線測量方法而不采用兩線技術(shù)。利用四線方法（圖2），使用一對引線為電阻提供電流激勵，并通過另一對引線測量電阻電壓降。因此，測得的結(jié)果只是被測電阻兩端的電壓降。