直流測試中,激光二極管或VCSEL模組的關(guān)鍵技術(shù)參數(shù)
•激光二極管正向壓降
• 拐點(diǎn)測試/線性度測試(dL/dI)
• 閾值電流
•背光探測二極管反向偏置電壓
•背光探測二極管電流
•背光探測二極管暗電流
•光輸出功率
通過LIV測試掃描,可以完成多數(shù)最常見的直流特性測量。這種快速且廉價(jià)的直流測試可在測試過程的早期提早確定失效的組件,隨后昂貴的非直流域測試系統(tǒng)可以更經(jīng)濟(jì)地對(duì)剩下的高產(chǎn)率元器件進(jìn)行測試。圖1顯示了LIV測試掃描的基本儀器配置。
圖1
LIV測量框圖
評(píng)論