LIV測試系統(tǒng)的組成
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2602型源表是一個雙通道的源表（SMU），可以在提供源電壓或電流的同時進(jìn)行電壓和電流的測量。這樣用一個SMU通道即可以為待測器件（DUT）提供源電流，并進(jìn)行電壓測量，而用另一個通道監(jiān)測DUT附近探測器的光電流，為LIV測試提供了“單機(jī)箱化”的思路。
2510-AT型自動溫度控制源表控制著制冷片TEC，保持待測模組處于恒定的溫度上。
計(jì)算機(jī)通過GPIB總線對各個源－表進(jìn)行編程，協(xié)調(diào)測試進(jìn)程，收集并分析得到的測量結(jié)果。
圖1
激光二極管模組典型LIV測試系統(tǒng)框圖，2602用以對模組進(jìn)行特性測試并監(jiān)測輸出光強(qiáng)度，2510-AT控制整個模組的溫度
提升測試程序速度：吉時利的TSP
在眾多儀器中，計(jì)算機(jī)控制了測試的方方面面。在測試的每一個步驟中，必須對測試設(shè)備進(jìn)行配置，使其執(zhí)行所希望的操作后，將相應(yīng)數(shù)據(jù)返給控制計(jì)算機(jī)（如圖2所示）。然后控制計(jì)算機(jī)根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行合格/不合格的判定，執(zhí)行合適的操作來分揀測試器件。發(fā)出和執(zhí)行每一條命令都會消耗寶貴的生產(chǎn)時間，降低產(chǎn)量。
顯然，測試程序中大部分的時間用在與控制計(jì)算機(jī)交換信息上。2600系列設(shè)備可以減少通信總線的信息流量，從而極大地增加整個復(fù)雜測試程序的吞吐量。在這些設(shè)備中，大部分的測試程序都是嵌入在設(shè)備中的。測試腳本處理器（TSP）是一種全功能的測試序列引擎，可以實(shí)現(xiàn)對測試序列的控制，可內(nèi)設(shè)合格/不合格準(zhǔn)則、算術(shù)運(yùn)算、計(jì)算以及數(shù)字I/O控制等（參見圖3所示的2602型設(shè)備的測試序列）。TSP可以將用戶自定義的測試序列存入其存儲器中，在收到命令時調(diào)用執(zhí)行。這樣限制了測試序列中每一步的建立和配置時間，通過減少與設(shè)備和控制計(jì)算機(jī)的通信量增加了吞吐量。
圖2. 計(jì)算機(jī)控制標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
圖3. 在2602源表中應(yīng)用嵌入式測試腳本處理器TSP存儲測試序列，減少通信流量。
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