基于HARQ的TD-LTE基站性能測試技巧
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LTE（Long Term Evolution長期演進）技術是第三代移動通信演進的主要方向。作為一種先進的技術，LTE系統(tǒng)在提高峰值數據速率、小區(qū)邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶面時延以及降低運營和建網成本等方面擁有巨大的優(yōu)勢。同時，LTE系統(tǒng)與現有系統(tǒng)（2G/2.5G/3G）能夠共存，并且實現平滑演進。
LTE系統(tǒng)按照雙工方式分為頻分雙工（FDD）和時分雙工（TDD）兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱業(yè)務等諸多優(yōu)勢，是中國通信業(yè)界力推的國際標準。
系統(tǒng)吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標。吞吐率的測試需要基站（eNB）與測試儀器（模擬UE）之間實現實時反饋并動態(tài)調整。測試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標準的TD-LTE 上行信號，同時還需要模擬相應的信道衰落模型，并且根據基站下發(fā)的ACK/NACK指令實時地調整發(fā)射信號的編碼冗余因子，以模擬真實的通信環(huán)境。本方案采用安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB或安捷倫最新信號發(fā)生器N5182B/N5172B作為測試平臺，通過Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號并經過信道衰落后送給基站進行解碼從而可以統(tǒng)計出基站的吞吐率。
1 HARQ測試原理
1.1 上行HARQ方式
LTE系統(tǒng)將在上行鏈路采用同步非自適應HARQ技術。雖然異步自適應HARQ技術與同步非自適應技術比較，在調度方面的靈活性更高，但是后者所需的信令開銷更少。由于上行鏈路的復雜性，來自其他小區(qū)用戶的干擾是不確定的，因此基站無法精確估測出各個用戶實際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準確性導致上行鏈路對于調制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確，所以更多地依賴HARQ技術來保證系統(tǒng)的性能。因此，上行鏈路的平均傳輸次數會高于下行鏈路。所以，考慮到控制信令的開銷問題，在上行鏈路使用同步非自適應HARQ技術。
1.2 上行HARQ時序
LTE TDD制式的上下行信號在時域上交錯分布，因此其HARQ時序映射關系較FDD更為復雜。根據3GPP TS 36.213規(guī)定，TDD制式不同UL/DL Configuration下，下行子幀只在規(guī)定位置發(fā)送ACK/NACK指令，每個位置發(fā)送的ACK/NACK指令對應特定的上行子幀信號，如表1所示。
表1 TD-LTE HARQ上下行子幀映射關系
3GPP TS 36.141規(guī)定性能測試只需在配置1下進行，因此可以根據表1的描述得到配置1時的時序圖：
圖1 配置1時HARQ時序圖
在配置1時，上行只在子幀2、3、7和8四個位置發(fā)送上行信號；下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令，指令的指示對象及重傳位置關系如圖1所示。
2 測試平臺
2.1 硬件平臺
性能測試目的在于模擬實際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率，因此需要基站與測試儀器進行聯調。硬件測試平臺包括：支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發(fā)生器MXG（主要用于上變頻）以及一臺四通道示波器（用于系統(tǒng)調試）。測試系統(tǒng)結構如下：
圖2 N5106 PXB測試系統(tǒng)
PXB實時產生TD-LTE上行信號并經過特定信道模型下的衰落后，輸出的基帶I/Q信號經過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線?；径藢邮盏降纳漕l信號進行解調解碼，并以RS232C的串行通信方式將反饋結果（ACK/NACK指令）傳回至PXB，PXB根據ACK/NACK指令實時調整RV因子重新發(fā)送數據包或選擇放棄當前數據包（當eNB發(fā)送ACK信號或是已達到最大重傳次數）。最后基站端統(tǒng)計得到系統(tǒng)的吞吐率。
如果測試環(huán)境確實希望使用外置信道仿真器，則只需使用安捷倫N5182B/N5172B射頻信號發(fā)生器即可完成上述系統(tǒng)的測試。典型的測量系統(tǒng)如圖3所示。
圖3 N5182B/72B MXG-B測試系統(tǒng)
2.2 軟件平臺
PXB或N5182B/72B通過Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 軟件產生特定的參考測試信號，并實時地調整編碼冗余因子。
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