DDR測(cè)試技術(shù)和定時(shí)分析工具是否跟上了時(shí)代步伐

左圖：以往1只探頭用于差分測(cè)量、2只探頭用于單端測(cè)量和共模測(cè)量或1只探頭焊接和重焊三次、2只探頭用于共模測(cè)量。

右圖：1只TriMode探頭，通過(guò)切換進(jìn)行差分測(cè)量、單端測(cè)量和共模測(cè)量。

前文提到過(guò)，DDR信號(hào)不同于其他信號(hào)，其數(shù)據(jù)信號(hào)是雙向的，讀信號(hào)和寫(xiě)信號(hào)同時(shí)出現(xiàn)在信號(hào)線上。人們很難判斷當(dāng)前捕獲到的數(shù)據(jù)是讀信號(hào)還是寫(xiě)數(shù)據(jù)，這就給測(cè)試效率會(huì)很低，也比較容易出錯(cuò)。有了泰克公司的DDR自動(dòng)測(cè)試軟件選項(xiàng)如DDRA和DPOJET，就可使上述信號(hào)采集和分析問(wèn)題迎刃而解，而且可以加速驗(yàn)證過(guò)程。DDRA的功能特性包括但不限于：

1.新的自動(dòng)配置向?qū)?，引?dǎo)用戶簡(jiǎn)便地完成設(shè)置和測(cè)試配置;

2.可識(shí)別和分析整個(gè)采集中的所有讀/寫(xiě)突發(fā);

3.為讀和寫(xiě)繪制DQS和DQ眼圖;

4.使用Pass/Fail極限執(zhí)行JEDEC一致性測(cè)試;

5.使用片選判定多排測(cè)量;

6.簡(jiǎn)便地在一致性測(cè)試工具和分析/調(diào)試工具之間切換;

7.使用Pass/Fail信息、統(tǒng)計(jì)測(cè)量結(jié)果和測(cè)試設(shè)置信息，自動(dòng)生成合并報(bào)告。

DDRA不是一種獨(dú)立式工具，可直接與泰克強(qiáng)大的抖動(dòng)、眼圖和定時(shí)分析工具DPOJE連接，完成更多測(cè)量項(xiàng)目：

1.周期/頻率、占空比、幅度、上升/下降時(shí)間測(cè)量;

2.高級(jí)抖動(dòng)、眼圖測(cè)量和Pass/Fail測(cè)試;

3.多個(gè)顯示和繪圖選項(xiàng);

4.報(bào)告生成器等。

圖4：泰克最新的解決方案加快和改善了DDR2/3的數(shù)字驗(yàn)證和調(diào)試步驟。

泰克提供的NEXVu插卡式DIMM夾具探測(cè)解決方案layout符合JEDEC規(guī)范，可探測(cè)存儲(chǔ)器IC信號(hào)，邏輯分析儀連接位置超出了普通DIMM高度，DIMM內(nèi)部帶有隔離電阻，降低探頭負(fù)載效應(yīng)，可實(shí)現(xiàn)最大的信號(hào)完整性堪稱業(yè)界最佳的IC顆粒數(shù)字信號(hào)測(cè)量方法。

泰克提供的最新DDR3邏輯分析儀模塊TLA7BBx是唯一可以捕獲所有DDR3速度的邏輯分析儀，提供了足夠高的定時(shí)分辨率，支持全面調(diào)試。同時(shí)提供了足夠靈活的觸發(fā)狀態(tài)機(jī)，只觸發(fā)相關(guān)事件。其通道數(shù)量可以擴(kuò)充，且足夠高，可以捕獲所有要求的信號(hào)。

搭載的Nexus存儲(chǔ)器支持套件有效提高了數(shù)據(jù)分析性能，檢驗(yàn)和調(diào)試存儲(chǔ)器系統(tǒng)操作(包括數(shù)據(jù)有效窗口、讀/寫(xiě)數(shù)據(jù)操作、DDR命令和模式寄存器初始化)，可迅速簡(jiǎn)便地識(shí)別協(xié)議違規(guī)。

將上述設(shè)備、工具和軟件再配上DPO/DSA/MSO70000B高性能示波器，泰克提供了一個(gè)全面了解系統(tǒng)特點(diǎn)的平臺(tái)驗(yàn)證系統(tǒng)(如圖5)。這是業(yè)界唯一能夠捕獲和分析所有DDR3速度的解決方案，在所有通道上一直提供了高達(dá)20ps的定時(shí)分辨率，支持選擇性時(shí)鐘輸入，只存儲(chǔ)實(shí)用數(shù)據(jù)，并且數(shù)字/模擬相關(guān)聯(lián)，可查看整個(gè)系統(tǒng)情況。

圖5：泰克的DDR平臺(tái)驗(yàn)證系統(tǒng)可全面了解系統(tǒng)特點(diǎn)。