GPIB/VXI/IEEE1394總線的電路功能測(cè)試和故障測(cè)試

3 電路診斷實(shí)例

整個(gè)故障診斷測(cè)試過(guò)程可用流程圖表示出來(lái)如圖3所示。在正確安裝好適配板后系統(tǒng)加電，判定系統(tǒng)提供的測(cè)試電壓無(wú)誤后，正確安裝上被測(cè)板，進(jìn)入各項(xiàng)功能測(cè)試階段。對(duì)各功能模塊逐步測(cè)試，若所有功能都通過(guò)測(cè)試，沒(méi)有測(cè)出不正常值，則系統(tǒng)顯示電路板功能正常，系統(tǒng)斷電，測(cè)試結(jié)束。若測(cè)試過(guò)程中得出一個(gè)或一個(gè)以上的錯(cuò)誤值，測(cè)試系統(tǒng)將進(jìn)入故障診斷測(cè)試部分。

以含常用元器件較多的繼電器開(kāi)關(guān)控制電路為例，電路如圖4所示。當(dāng)電路中的某個(gè)元器件發(fā)生故障，如電阻開(kāi)路或是運(yùn)放故障，輸出信號(hào)的電壓幅值、高值、低值、頻率和占空比等特性會(huì)發(fā)生變化，測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試時(shí)將這些電路特性值保存下來(lái)，留作樣本數(shù)據(jù)使用，再采用分類器進(jìn)行故障診斷。

將測(cè)試得到250個(gè)樣本，前100個(gè)做訓(xùn)練樣本，剩余的150個(gè)做測(cè)試樣本。訓(xùn)練集與測(cè)試集經(jīng)數(shù)據(jù)歸一化預(yù)處理后，用一般的支持向量機(jī)與基于遺傳算法的支持向量機(jī)分別進(jìn)行故障診斷。診斷結(jié)果如表1所示?；谶z傳算法的分類器故障診斷的正確率可高達(dá)99.33%。

4 結(jié)論

該多總線自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)將多種測(cè)試儀器集成于一體，方便了測(cè)試。采用高傳輸速率的VXI與1394總線縮短了電路板測(cè)試過(guò)程中測(cè)試數(shù)據(jù)的傳輸及處理的時(shí)間，從而提高了測(cè)試的效率。系統(tǒng)通過(guò)不同的測(cè)試診斷程序，可測(cè)試不同的電路板，具有通用性與實(shí)用性，避免了測(cè)試系統(tǒng)重復(fù)建設(shè)而造成的資金浪費(fèi)，降低了測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā)與維護(hù)的成本。并在該測(cè)試系統(tǒng)資源平臺(tái)上增加了采用基于遺傳算法的支持向量機(jī)分類器，提高了電路診斷的正確率。