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          基于HARQ的TD-LTE基站性能測試方案

          作者: 時間:2017-02-27 來源:網(wǎng)絡 收藏
          0引言

          LTE(Long Term Evolution長期演進)技術是第三代移動通信演進的主要方向。作為一種先進的技術,LTE系統(tǒng)在提高峰值數(shù)據(jù)速率、小區(qū)邊緣速率、頻譜利用率、控制面和用戶面時延以及降低運營和建網(wǎng)成本等方面擁有巨大的優(yōu)勢。同時,LTE系統(tǒng)與現(xiàn)有系統(tǒng)(2G/2.5G/3G)能夠共存,并且實現(xiàn)平滑演進。

          LTE系統(tǒng)按照雙工方式分為頻分雙工(FDD)和時分雙工(TDD)兩種。其中LTE-TDD制式相對于FDD制式具有頻譜利用靈活、支持非對稱業(yè)務等諸多優(yōu)勢,是中國通信業(yè)界力推的國際標準。

          系統(tǒng)吞吐率是衡量TD-LTE基站綜合性能的重要指標。吞吐率的測試需要基站(eNB)與測試儀器(模擬UE)之間實現(xiàn)實時反饋并動態(tài)調整。測試儀器不僅需要能夠生成符合3GPP標準的TD-LTE 上行信號,同時還需要模擬相應的信道衰落模型,并且根據(jù)基站下發(fā)的ACK/NACK指令實時地調整發(fā)射信號的編碼冗余因子,以模擬真實的通信環(huán)境。本方案采用安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀N5106A PXB或安捷倫最新信號發(fā)生器N5182B/N5172B作為測試平臺,通過Real-time版本的Signal Studio N7625 for LTE TDD生成TD-LTE測試信號并經(jīng)過信道衰落后送給基站進行解碼從而可以統(tǒng)計出基站的吞吐率。

          1 HARQ測試原理

          上行HARQ方式

          LTE系統(tǒng)將在上行鏈路采用同步非自適應HARQ技術。雖然異步自適應HARQ技術與同步非自適應技術比較,在調度方面的靈活性更高,但是后者所需的信令開銷更少。由于上行鏈路的復雜性,來自其他小區(qū)用戶的干擾是不確定的,因此基站無法精確估測出各個用戶實際的信干比(SINR)值。由于SINR值的不準確性導致上行鏈路對于調制編碼模式(MCS)的選擇不夠精確,所以更多地依賴HARQ技術來保證系統(tǒng)的性能。因此,上行鏈路的平均傳輸次數(shù)會高于下行鏈路。所以,考慮到控制信令的開銷問題,在上行鏈路使用同步非自適應HARQ技術。

          上行HARQ時序

          LTE TDD制式的上下行信號在時域上交錯分布,因此其HARQ時序映射關系較FDD更為復雜。根據(jù)3GPP TS 36.213規(guī)定,TDD制式不同UL/DL Configuration下,下行子幀只在規(guī)定位置發(fā)送ACK/NACK指令,每個位置發(fā)送的ACK/NACK指令對應特定的上行子幀信號,如表1所示。

          表1 TD-LTE HARQ上下行子幀映射關系

          子幀

          0

          1

          2

          3

          4

          5

          6

          7

          8

          9

          配置0

          7

          4

          7

          4

          配置1

          4

          6

          4

          6

          配置2

          6

          6

          配置3

          6

          6

          6

          配置4

          6

          6

          配置5

          6

          配置6

          6

          4

          7

          4

          6











          3GPP TS 36.141規(guī)定性能測試只需在配置1下進行,因此可以根據(jù)表1的描述得到配置1時的時序圖:



          圖1 配置1時HARQ時序圖

          在配置1時,上行只在子幀2、3、7和8四個位置發(fā)送上行信號;下行由基站在子幀1、4、6和9發(fā)送ACK/NACK指令,指令的指示對象及重傳位置關系如圖1所示。

          2 測試平臺

          2.1硬件平臺

          性能測試目的在于模擬實際環(huán)境下的系統(tǒng)吞吐率,因此需要基站與測試儀器進行聯(lián)調。硬件測試平臺包括:支持2天線接收的TD-LTE eNB基站、安捷倫基帶信號發(fā)生器與信道仿真儀PXB、安捷倫矢量信號發(fā)生器MXG(主要用于上變頻)以及一臺四通道示波器(用于系統(tǒng)調試)。測試系統(tǒng)結構如下:



          圖2 N5106 PXB測試系統(tǒng)

          PXB實時產生TD-LTE上行信號并經(jīng)過特定信道模型下的衰落后,輸出的基帶I/Q信號經(jīng)過MXG上變頻分別送入基站的兩根接收天線?;径藢邮盏降纳漕l信號進行解調解碼,并以RS232C的串行通信方式將反饋結果(ACK/NACK指令)傳回至PXB,PXB根據(jù)ACK/NACK指令實時調整RV因子重新發(fā)送數(shù)據(jù)包或選擇放棄當前數(shù)據(jù)包(當eNB發(fā)送ACK信號或是已達到最大重傳次數(shù))。最后基站端統(tǒng)計得到系統(tǒng)的吞吐率。


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