效率最好的內(nèi)存測試電路開發(fā)環(huán)境

　　4.5 產(chǎn)生并設(shè)定 BFL 檔案

　　unix% cd integratr/top_down_lab

　　unix% brains --tempgen

　　執(zhí)行上述指令，并選擇第三個選項(xiàng)，即可產(chǎn)生 brains_template.bfl 檔案。

　　圖4-2. 產(chǎn)生 BFL 檔案范例

　　BFL 檔案包含BIST 電路相關(guān)規(guī)格設(shè)定。使用者可根據(jù)實(shí)際project需求，來設(shè)定。圖4-3及圖4-4為一BFL設(shè)定范例。使用者亦可在example case中的reference文件夾找到相關(guān)范例檔案。

　　n set verilog_path : ./run.f

　　n set top_module_name : top

　　n set top_hierarchy : top

　　n set clock_trace : no

　　n set auto_group : yes

　　n set insertion : yes

　　n set integrator_mode : yes

　　n set work_path : ./mbist

　　In define{BIST}:

　　n set bist_interface : ieee1500

　　n set clock_switch_of_memory : yes

　　圖4-3. BFL 檔案范例 (1)

　　圖4-4. BFL 檔案范例 (2)

　　4.6 引用BFL檔案來執(zhí)行Brains

　　當(dāng)BFL檔案設(shè)定完成時(shí)，用戶可執(zhí)行下列指令來運(yùn)行Brains。圖4-5和圖4-6為執(zhí)行過程圖。而相關(guān)執(zhí)行結(jié)果和輸出檔，則會輸出至mbist文件夾。其中，包含BIST電路design，合成相關(guān)script及模擬所需之testbench。

　　unix% cd multi_lab/top_down_lab

　　unix% brains -bfl brains_template.bfl

　　圖4-5. Grouping 信息

　　圖4-6. BIST Auto Insertion 信息

　　4.7 設(shè)定 Memory Info 檔案

　　Memory info 檔案提供使用者自行規(guī)劃grouping架構(gòu)。使用者可根據(jù)實(shí)際project之需求，規(guī)劃想要的grouping架構(gòu)。該檔案包含下列信息：

　　n Memory module : Memory module name

　　n Clock domain : Memory clock domain and working period

　　n Group : Brians will group the memories

　　n Diagnosis : To decide if the memory needs the full diagnosis feature

　　n Hierarchy instance : Including hierarchy path and instance name of the memory

　　在example case中也提供一范例檔案給用戶參考。請參考reference文件夾中的 BRAINS_memory_spec.meminfo 檔案。

　　圖4-7. Memory Info設(shè)定范例

　　4.8 引用Memory Info檔案來執(zhí)行Brains

　　若使用者想引用編寫好的memory info檔案，則可透過設(shè)定BFL檔案中的 memory_list 選項(xiàng)來指定該檔案路徑，并將auto_group 選項(xiàng)設(shè)定為no。如圖4-8所示。

　　設(shè)定完后，同樣依據(jù)下列指令來執(zhí)行Brains。

　　unix% cd multi_lab/top_dow_lab

　　unix% brains -bfl brains_template.bfl

　　圖4-8. 設(shè)定 auto_group 及 memory_list 選項(xiàng)

　　圖4-9. Grouping 信息

　　圖4-10. BIST Auto Insertion 信息