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          基于TM4C123G的金屬微顆粒探測(cè)系統(tǒng)研究與實(shí)現(xiàn)

          作者:王明全 袁程磊 李治華 王遠(yuǎn)航 時(shí)間:2017-02-28 來源: 電子產(chǎn)品世界 收藏
          編者按:本文介紹了一種使用TM4C123G微處理器作為主控制器,采用新型平衡線圈為傳感器探頭,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)金屬微顆粒異物并報(bào)警的系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案。該方案由正弦信號(hào)發(fā)生電路、差分信號(hào)處理電路、處理器電路、系統(tǒng)供電電路四部分構(gòu)成。經(jīng)過實(shí)物測(cè)試,該系統(tǒng)工作穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏,是一套可靠的金屬微顆粒檢測(cè)報(bào)警裝置。

          作者 王明全 袁程磊 李治華 王遠(yuǎn)航 東北大學(xué) 計(jì)算機(jī)科學(xué)與工程學(xué)院(沈陽 110819)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201702/344568.htm

          摘要:本文介紹了一種使用微處理器作為主控制器,采用新型為傳感器探頭,實(shí)現(xiàn)檢測(cè)金屬微顆粒異物并報(bào)警的系統(tǒng)設(shè)計(jì)方案。該方案由正弦信號(hào)發(fā)生電路、差分信號(hào)處理電路、處理器電路、系統(tǒng)供電電路四部分構(gòu)成。經(jīng)過實(shí)物測(cè)試,該系統(tǒng)工作穩(wěn)定、反應(yīng)靈敏,是一套可靠的金屬微顆粒檢測(cè)報(bào)警裝置。

          引言

            金屬探測(cè)器在現(xiàn)代社會(huì)生活中的應(yīng)用越來越廣泛,從最初應(yīng)用在探雷和探測(cè)地下金屬開始,發(fā)展到現(xiàn)在的安保、食品、制藥等方面的檢測(cè),其作用越來越凸顯[1]。與此同時(shí),功能上的提高和完善也受到廣大客戶的關(guān)注。為了適應(yīng)工業(yè)生產(chǎn)的發(fā)展要求,研制穩(wěn)定、可靠、高精度、便于操作的新型裝置是一項(xiàng)十分重要的課題[2]。針對(duì)以上背景與要求,在參考眾多學(xué)位論文[3-9]后,著手設(shè)計(jì)并實(shí)現(xiàn)了一臺(tái)金屬微顆粒檢測(cè)報(bào)警樣機(jī)。該樣機(jī)基于數(shù)字信號(hào)處理技術(shù),采用新型“”作為傳感器探頭,選用TI基于Cortex-M4內(nèi)核的H6PM微控制器(MCU)作為核心處理器,使得樣機(jī)檢測(cè)精度高、處理速度快,且用戶界面友好。

          1 系統(tǒng)整體方案

            系統(tǒng)結(jié)構(gòu)框圖如圖1所示。首先由MCU控制信號(hào)發(fā)生芯片AD9833生成正弦信號(hào),再經(jīng)LM3886進(jìn)行功率放大后送入發(fā)射線圈。接收線圈將接收的差分信號(hào)送入由NE5532和OPA2134構(gòu)成的放大濾波電路后,經(jīng)MCU自帶的12位ADC采樣送入其內(nèi)部進(jìn)行處理。若檢測(cè)到金屬,則蜂鳴器發(fā)出警告,并在液晶屏上顯示金屬顆粒尺寸的估計(jì)值。

          2 新型

            平衡線圈結(jié)構(gòu)如圖2所示,上面是發(fā)射線圈,通以正弦信號(hào);下面是兩個(gè)首尾相接的接收線圈,當(dāng)發(fā)射與接收線圈之間有金屬顆粒通過時(shí),會(huì)導(dǎo)致兩個(gè)接收線圈的感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)不平衡,從而在兩根引線之間產(chǎn)生電動(dòng)勢(shì)。通過對(duì)此電動(dòng)勢(shì)的有無及大小進(jìn)行檢測(cè),就可以判斷金屬顆粒是否存在[9-10]。

            發(fā)射線圈和接收線圈作為金屬探測(cè)器中最重要的傳感器單元,對(duì)加工工藝要求比較嚴(yán)格。在制作接收線圈時(shí),要盡可能地保證線圈左右對(duì)稱,且與發(fā)射線圈平行。理想情況下,當(dāng)沒有金屬顆粒通過線圈時(shí),接收線圈輸出為0。而實(shí)際中,由于加工精度不夠或漆包線纏繞形狀不完全一致等因素,都會(huì)對(duì)平衡線圈產(chǎn)生不良影響——即便無金屬通過線圈,在接收線圈的輸出端,仍會(huì)有一電壓信號(hào)輸出,這就需要后續(xù)電路的調(diào)理。

          3 信號(hào)發(fā)生芯片

            AD9833是一個(gè)低功耗、頻率可編程的正弦波、三角波和方波波形發(fā)生器,廣泛應(yīng)用于各種測(cè)量、激勵(lì)和時(shí)域響應(yīng)領(lǐng)域。其輸出信號(hào)的頻率和相位可編程,很容易調(diào)整,無需外接器件。頻率寄存器為28位,如果基準(zhǔn)頻率輸入為25MHz,信號(hào)輸出最小精度為0.1Hz。同樣,如果基準(zhǔn)頻率輸入為1MHz,則信號(hào)輸出最小精度為0.004Hz。

          4 功率放大電路

            從AD9833輸出的正弦波功率太小,不足以驅(qū)動(dòng)發(fā)射線圈這樣的電感元件,所以需要設(shè)計(jì)此功率放大電路,以保證有足夠大的電流。

            本設(shè)計(jì)功放電路如圖3所示,采用美國NS公司推出的大功率音頻放大集成芯片LM3886,該芯片經(jīng)常用于高保真音響的后級(jí)功放,具有優(yōu)越的驅(qū)動(dòng)能力。本設(shè)計(jì)中的正弦信號(hào)為16.6kHz,適合采用此音頻功放。

          5 接收信號(hào)的硬件調(diào)理電路

            在接收線圈的輸出端,會(huì)有一個(gè)差分信號(hào),將此信號(hào)通過放大、濾波、降壓這一系列的硬件調(diào)理之后,就可以輸入到單片機(jī)的AD端口。

            放大電路如圖4所示,需要選擇低噪聲運(yùn)放作為前端放大器,本設(shè)計(jì)采用NE5532作為前級(jí)運(yùn)放,具有相當(dāng)好的噪聲性能,輸入噪聲電壓小,僅為5nV/Hz,增益帶寬積為10MHz,適合對(duì)16.6kHz的正弦小信號(hào)進(jìn)行低噪聲放大。NE5532采用同向放大,此時(shí)的輸入阻抗比較大。

            放大后需要對(duì)含有噪聲的信號(hào)進(jìn)行濾波,其電路如圖5所示。Vin為從NE5532中輸出的信號(hào),Vout為濾波輸出信號(hào)。

            由于要實(shí)現(xiàn)高精度檢測(cè),所以放大電路中的放大倍數(shù)比較大。由于線圈的加工工藝不夠精密,即便沒有金屬通過線圈時(shí),其輸出端仍會(huì)輸出一微小的電壓信號(hào)。這個(gè)電壓信號(hào)經(jīng)過放大電路后也會(huì)被大幅度放大,這就導(dǎo)致濾波電路輸出端Vout的信號(hào)非常大,超過處理器的A/D采集范圍。

            為解決這一問題,設(shè)計(jì)如圖6所示電路,經(jīng)過多級(jí)二極管和電阻,輸出一個(gè)只有上半周正弦波的電信號(hào),這樣就能被處理器的A/D正確采集,從而做出分析和處理。

          6 系統(tǒng)供電電路

            本設(shè)計(jì)中用到多組供電電路,其中處理器和AD9833的供電電壓為+5V;LM3886功率放大電路的供電電壓為±15V;接收信號(hào)的放大濾波電路的供電電壓為±9V。需用到78和79系列電源芯片對(duì)線性電源進(jìn)行降壓,以便分配給各個(gè)電路子系統(tǒng)。

          7 程序設(shè)計(jì)

            用Code Composer Studio(CCS)軟件設(shè)計(jì)并調(diào)試了以下程序:首先通過SPI通信控制AD9833,使其輸出一個(gè)穩(wěn)定的16.6kHz的正弦波。接著用ADC以100kHz的采樣頻率采集2000個(gè)點(diǎn),每采一個(gè)值,進(jìn)行一次比較,求出2000個(gè)數(shù)中的最大值。為提高可靠性,上述步驟重復(fù)16次,求出其平均值,并設(shè)定為判定閾值A(chǔ)。然后利用上述方法,實(shí)時(shí)采集和更新接收線圈電壓采樣最大值,同時(shí)與閾值進(jìn)行比較,從而通過差值判斷是否有金屬顆粒,以及金屬顆粒的大小并發(fā)出警報(bào)。

          8 結(jié)論

            本文利用處理器結(jié)合平衡線圈,設(shè)計(jì)了一套金屬微顆粒檢測(cè)裝置,并可以實(shí)現(xiàn)報(bào)警和在液晶屏上顯示金屬顆粒大小估計(jì)值的功能。這得益于此處理器強(qiáng)大的運(yùn)算和處理能力。新型平衡線圈的使用是本設(shè)計(jì)的一個(gè)亮點(diǎn),該結(jié)構(gòu)使待檢測(cè)物體的尺寸不受線圈的限制,是原來線圈的一個(gè)改進(jìn)。但目前市面上并沒有平衡線圈的成品,所以本設(shè)計(jì)所用線圈是用漆包線手工纏繞制作而成,效果難免不夠理想。若由機(jī)器制作,則精度還可大幅提升。

          參考文獻(xiàn):

            [1]周意和.食品生產(chǎn)過程中金屬異物檢測(cè)系統(tǒng)設(shè)計(jì)[D].內(nèi)蒙古科技大學(xué),2014.

            [2]藍(lán)天宇.基于DSP的系統(tǒng)設(shè)計(jì)[D].西南交通大學(xué),2009.

            [3]劉淑琴.智能型金屬探測(cè)器研究[D].南昌大學(xué),2005.

            [4]陳金勇.基于ARM的機(jī)嵌入式控制系統(tǒng)[D].上海海事大學(xué),2006.

            [5]張玥.基于Cortex-M3的金屬檢測(cè)系統(tǒng)[D].北京郵電大學(xué),2013.

            [6]張忠祥.基于ATmega8515控制的金屬探測(cè)器研究[D].山東大學(xué),2009.

            [7]黃勇.金屬探測(cè)器的研究與設(shè)計(jì)[D].華南理工大學(xué),2010.

            [8]范麗珍,李樹華.基于單片機(jī)的智能型金屬探測(cè)器的設(shè)計(jì)[J].內(nèi)蒙古大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版),2006,02:185-189.

            [9]任稷松.基于DSP的高精度金屬探測(cè)器研究[D].山東大學(xué),2012.

            [10] S Yamazaki,T Negishi,H Nakane,A Tanaka.Simultaneous measurement of eledtric and magnetic properties of a spherical sample. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement . 1996.


            本文來源于《電子產(chǎn)品世界》2017年第2期第42頁,歡迎您寫論文時(shí)引用,并注明出處。



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