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          淺析安捷倫最新非信令測試和LTE測試方案

          作者: 時間:2017-03-23 來源:網絡 收藏
          目前移動設備中的無線功能主要包括2G/3G/4G、藍牙、Wi-Fi和GPS,而針對生產的測試需求,芯片組廠商在測試模式中添加了非信令功能以幫助生產測試節(jié)約時間。非信令測試中,待測設備(DUT)的芯片組在驗證測試中會輸出跨越不同功率和頻率范圍的各種信號,這些預定義發(fā)射的功能可以規(guī)范校準測試,縮減器件設置時間,進而縮減測試時間。

          最新方案

          在不久前召開的安捷倫測量測試大會上,安捷倫科技無線寬帶事業(yè)部產品市場經理Michael Griffin詳細介紹了該公司針對非信令測試的最新設備E6607BEXT無線通信測試儀和與之配套的E6617A MPA多端口適配器?!熬蜔o線功能測試需求而言,2003年全球5億臺設備,每個設備大概只有1項~2項測試,總計約7.5億項測試。而到2015年,全球30億臺設備,每臺約有6項~8項無線功能測試,總計達21億項測試,如果按傳統(tǒng)信令方法測試,耗時將增長28倍!”Griffin說,“EXT/MPA組合針對非信令測試進行了優(yōu)化,適用于對當前和下一代包含多種制式和多個頻段技術的智能電話和平板電腦進行生產測試,可提高測試吞吐量并降低測試成本。”

          方案構成

          E6607B是一款綜合測試儀,內含矢量信號分析儀、矢量信號發(fā)生器、高速序列分析儀和多制式硬件。其中,序列分析儀可以與無線調制解調器芯片組的測試模式同步工作,消除信令開銷,實現(xiàn)單次采集多次測量。Griffin強調,該設備是目前市面唯一的提供了高達3.8GHz的全蜂窩頻段范圍(包括LTE TDD 43頻段),并支持最新芯片組中實施的快速序列測試模式。E6617A是與之配合的多端口適配器,該設備增添了同時接收機測試、順序發(fā)射機測試和同時GPS測試,可一次性測試4個雙天線設備。它是利用與EXT和完全校準端口(包括8個蜂窩端口、4個GPS端口)的即插即用連通性實現(xiàn)上述功能的,將測試平面擴展到MPA前面板。在初期的評測階段,E6607B與E6617A的組合已經顯示能夠極大提升測量吞吐量,單臺設備測試時間由17.4秒縮減至7.5秒,減少了約60%。

          軟件資源

          EXT可以配置安捷倫的X系列測量應用軟件,E6607B添加了三個最新附件:LTE TDD、TD-SCDMA和模擬解調。由于是通過軟件模塊的搭配實現(xiàn)不同的測試功能,E6607B有很高的靈活性可滿足不同產線工位設置習慣的測試需求。另外,為了簡化測試計劃開發(fā)和加快批量制造速度,EXT還提供了軟件工具,包括Signal Studio,可以創(chuàng)建非信令下行鏈路信號(控制和測試),以便與EXT配合使用;在試生產階段,可使用Sequence Studio支持工程師快速創(chuàng)建測試計劃并進行故障診斷;Chipset軟件則提供了圖形用戶界面和編程接口,以支持設備控制、校準和驗證等功能。

          研發(fā)測試

          不同于生產測試強調效率,研發(fā)測試更強調功能完備。安捷倫在8月份收購了西班牙的私人控股公司AT4 wireless,這一收購將幫助安捷倫擴展其在LTE和NFC/RFID 、藍牙測試的研發(fā)測試方案的范圍,包括驗證和一致性測試。據安捷倫科技公司移動寬帶事業(yè)部(MBO)研發(fā)類產品營銷經理Akhilesh Daniel介紹,目前安捷倫最新的針對終端設備和運營商設備的LTE一致性測試平臺分別是E6621A PXT和T4000S。“AT4 wireless測試系統(tǒng)業(yè)務有著長達17年的認證測試經驗,能將系統(tǒng)設計和體系結構融合在一起,其測試平臺在無線領域中得到了廣泛應用,例如專業(yè)測試機構、芯片組制造商等?!盌aniel說。

          E6621A PXT針對LTE終端設備測試,在一臺綜合儀器中結合了靈活的基站/網絡仿真和射頻參數(shù)測試,易于使用,可進行符合實際情況的集成、驗證和應用測試。E6621APXT配置了LTE TDD和FDD選件,可進行射頻參數(shù)測量、功能測試、多個PDN、IPv6、IMS/SIP選件切換,擁有高達102.05Mbps的端到端IP數(shù)據測試,信令一致性測試和無線一致性測試方案。E6621A PXT可提供LTE至3G的切換,即將推出LTE至2G切換功能的設備。T4000S是原AT4 wireless針對運營商LTE設備研發(fā)的一套測試平臺,包括T4010 DV(LTE RF設計驗證)、T4010(LTE RF一致性測試)、T4020(RRM測試)和T4110(LTE協(xié)議測試)。



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