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          電子設(shè)計(jì)中離不開的基礎(chǔ)測(cè)試儀器

          作者: 時(shí)間:2017-03-23 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
          隨著電子信息產(chǎn)業(yè)的飛速發(fā)展,基礎(chǔ)測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用在電子行業(yè)的各個(gè)領(lǐng)域。對(duì)基礎(chǔ)測(cè)量?jī)x器的巨大需求推動(dòng)了測(cè)試測(cè)量行業(yè)的迅猛發(fā)展,各式產(chǎn)品層出不窮,新技術(shù)不斷涌現(xiàn)。

          測(cè)試關(guān)乎產(chǎn)品的性能、品質(zhì),同時(shí)還起著監(jiān)控產(chǎn)品制程的作用。隨著IC內(nèi)集成越來越多的性能以及芯片間采用更高速總線來快速傳輸數(shù)據(jù),將有更多設(shè)計(jì)測(cè)試概念被整合到產(chǎn)品測(cè)試流程里,關(guān)鍵技術(shù)正在走向集成。而為了滿足層出不窮的新技術(shù),還需確保測(cè)試平臺(tái)是可擴(kuò)展和靈活的。這些都對(duì)測(cè)試測(cè)量廠商提出了更高的要求。

          電子工程師在平時(shí)進(jìn)行電子設(shè)計(jì)中離不開測(cè)試測(cè)量所用的儀器儀表

          萊特波特IQxel 多功能測(cè)試儀 

          IQxel是Litepoint推出的全球第一款支持802.11ac標(biāo)準(zhǔn)的單機(jī)測(cè)試儀(OBT),在這款測(cè)試儀中同時(shí)全面了覆蓋 WLAN (802.11a/b/g/n/ac)與藍(lán)牙 (1.0-4.0)多無線標(biāo)準(zhǔn)的物理層測(cè)試??奢p松部署以滿足大批量設(shè)備生產(chǎn)所需的嚴(yán)格的和自動(dòng)化測(cè)試要求。

          IQxel采用高精度的設(shè)計(jì),支持802.11ac測(cè)試所需的所有高信道帶寬(80與160 MHz)組合, 以及嚴(yán)格的矢量誤差幅度(EVM)要求。IQxel具備雙DUT RF測(cè)試能力,可提供兩路完全校準(zhǔn)的RF連接,不需外接可能降低制造精確度并導(dǎo)致可靠度問題的外接RF組件,從而簡(jiǎn)化多部設(shè)備的制造測(cè)試,達(dá)到最高的測(cè)量精確度。IQxel 160 MHz版本可用于測(cè)試兩部80 MHz帶寬設(shè)備,將測(cè)試站的測(cè)試量提高一倍,進(jìn)一步節(jié)省運(yùn)作成本。

          IQxel采用采用彈性架構(gòu)設(shè)計(jì),可輕松擴(kuò)展以支持真正MIMO測(cè)試。采用精簡(jiǎn)的2U架高底架,不需外部PC處理數(shù)據(jù),使用標(biāo)準(zhǔn)的Gigabit以太網(wǎng)接口,提供獨(dú)立網(wǎng)絡(luò)圖形用戶接口及與SCPI兼容的控制指令,能提供最迅速、簡(jiǎn)便的出廠測(cè)試功能。

          簡(jiǎn)便易用的軟件程序庫(kù),用戶可輕松完成系統(tǒng)轉(zhuǎn)移,測(cè)試全新的802.11ac裝置,之前的802.11 a/g/g/n測(cè)試程序也能在IQxel上執(zhí)行,而無須重新開發(fā)軟件。

          福祿克 Ti125 紅外熱像儀 

          福祿克Ti125熱像儀在易于使用方面,進(jìn)行了突破性的創(chuàng)新。無論是對(duì)焦、成像、現(xiàn)場(chǎng)操作、還是分析報(bào)告,都能輕松應(yīng)對(duì)。主要有六大創(chuàng)新功能:

          - R OptifleTM 手自一體對(duì)焦系統(tǒng)——對(duì)焦更輕松

          可選擇自動(dòng)對(duì)焦或手動(dòng)對(duì)焦拍攝近距離目標(biāo),IR-OptifleTM 能夠快速輕松獲得清晰銳利的圖像。Fluke創(chuàng)新性的手自一體對(duì)焦系統(tǒng),結(jié)合了手動(dòng)與自動(dòng)對(duì)焦模式的優(yōu)勢(shì),使對(duì)焦變得更輕松。僅用一根手指即可在定焦和手動(dòng)對(duì)焦之間輕松切換。

          - IR-Fusion: 紅外-可見光點(diǎn)對(duì)點(diǎn)融合技術(shù)——成像更輕松

          行業(yè)內(nèi)獨(dú)有的IR-Fusion: 專利技術(shù)的紅外熱像儀,將可見光圖像及紅外圖像完全融合成一個(gè)視圖。畫中畫模式下的融合功能可精確記錄問題區(qū)域,輕松定位問題點(diǎn)。

          - 堅(jiān)固可單手操作——操作更輕松

          0.73 kg的重量可讓您輕松握于掌中,即使戴著手套仍能使用拇指操作所有按鈕。輕巧的機(jī)身可讓您垂直或水平瞄準(zhǔn)目標(biāo),長(zhǎng)時(shí)間使用也不會(huì)感到疲勞。

          - 多模式視頻錄制——故障排查更輕松

          可自動(dòng)對(duì)焦拍攝可見光和紅外視頻, 隨時(shí)監(jiān)控流程,逐幀排除故障,并創(chuàng)建紅外視頻報(bào)告。 單次最長(zhǎng)錄制時(shí)間為5分鐘,方便客戶對(duì)動(dòng)態(tài)熱圖進(jìn)行連續(xù)觀測(cè)或分析。

          - IR PhotoNotesTM 圖片標(biāo)注系統(tǒng)——報(bào)告更輕松

          易見熱像儀每個(gè)紅外光圖像最多可添加三張可見光照片,無需攜帶紙和筆, 便可準(zhǔn)確記錄和標(biāo)注設(shè)備型號(hào)、銘牌、潛在問題點(diǎn)。

          - 電子羅盤——報(bào)告更輕松

          可在拍攝的同時(shí),辨別并顯示目標(biāo)物所在方位,8個(gè)基點(diǎn)的羅盤讀數(shù)可輕松幫助用戶和他人了解故障區(qū)域的方向和位置,尤其是在大范圍的檢測(cè)地點(diǎn)或建筑檢測(cè)環(huán)境的情況下,這一點(diǎn)尤為重要。

          另外,F(xiàn)luke獨(dú)有的SmartView 專業(yè)紅外分析軟件,具有先進(jìn)的分析功能,快速報(bào)告和可自定義報(bào)告, 使用簡(jiǎn)單、無許可證限制,終身免費(fèi)升級(jí)。

          Mentor GraphicsT3Ster 熱阻測(cè)試儀 

          瞬態(tài)測(cè)試臺(tái)以及多個(gè)配件(恒溫器,功率放大器,熱電偶信號(hào)前端放大器,JEDEC標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試溫箱,測(cè)試板以及特殊設(shè)備:測(cè)試TIM以及PWB需要用到的設(shè)備,等)。

          針對(duì)LED照明行業(yè),它配置TERALED系統(tǒng),通過溫度和電流函數(shù),自動(dòng)測(cè)試功率LED的熱特性和光特性。T3Ster的先進(jìn)技術(shù)變革了工程師處理熱測(cè)試問題的方法:

          1.啟動(dòng)測(cè)試延遲時(shí)間1 微秒 (市場(chǎng)上其他產(chǎn)品延遲時(shí)間為1毫秒)

          2.測(cè)試周期短,以“秒、分鐘”為單位 (市場(chǎng)上其他產(chǎn)品以天為單位)

          3.采樣點(diǎn)高達(dá)65000個(gè),測(cè)試可重復(fù)性好

          4.高信噪比,SNR>4000, FoM=10000 W/℃

          5.結(jié)溫測(cè)試精度:0.01℃

          測(cè)試結(jié)果可用于芯片以及TIMs的熱失效分析。 T3Ster測(cè)得的功率封裝元器件的動(dòng)態(tài)熱模型可導(dǎo)入到CFD工具中運(yùn)行仿真分析,也適用于電路模擬器分析。

          安捷倫N6781A 數(shù)字源表模塊 

          “有兩件事情制約了無線通信行業(yè)的發(fā)展:帶寬和電池壽命”。這是Palm 公司CEO Jon Rubinstein的名言。我們每個(gè)人手中的智能手機(jī),其強(qiáng)大的功能已經(jīng)超越了幾年前的電腦。但目前的電池技術(shù),卻遠(yuǎn)落后于手機(jī)性能的提高。因此,無論是對(duì)于手機(jī)芯片、零部件還是整機(jī)的研發(fā),都會(huì)將耗電性能作為優(yōu)先考慮的事情。精確測(cè)量和評(píng)估手機(jī)及芯片的耗電特性,成為眾多研發(fā)工程師迫切需要完成的工作。

          手機(jī)的耗電特性非常特殊,其工作電流范圍涵蓋從微安級(jí)的關(guān)機(jī)漏電流,到安培級(jí)的瞬間發(fā)射電流,電流脈沖變化在微秒級(jí),而變化頻率也會(huì)達(dá)到數(shù)千赫茲。所以市場(chǎng)上常用的測(cè)試設(shè)備,諸如示波器、萬用表、高分辨率數(shù)字化儀等,由于分辨率或測(cè)試速度的限制,無法完成這項(xiàng)頗具挑戰(zhàn)的測(cè)試任務(wù)。

          安捷倫公司的系統(tǒng)產(chǎn)品事業(yè)部開創(chuàng)一項(xiàng)全新技術(shù)突破了這個(gè)難關(guān)。在最新推出的N6871A SMU模塊中,采用了“無縫量程切換”的獨(dú)特技術(shù),它能在給手機(jī)或芯片供電的同時(shí),對(duì)電流實(shí)行從納安級(jí)到安培級(jí)連續(xù)、無縫隙的高速測(cè)量,等效分辨率高達(dá)28bit、200KHz/秒采樣率、512K點(diǎn)的存儲(chǔ)深度,保證了對(duì)手機(jī)及芯片耗電的精確捕獲和分析。這就如同用一個(gè)超高分辨率的高速攝像機(jī),跟蹤拍攝飛奔的雄獅,一旦定格在任意一幀圖像,即使將其放大1萬倍,圖像仍然毫發(fā)畢現(xiàn)。



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