如何著手進行LTE測試

讓我們在測試處理量的方面檢查一下這個測試計劃，因為我們的目標畢竟是盡可能快地有效測試DUT。當您看這個計劃時，有兩件事非常突出。表格非常稀疏，但配置數(shù)卻非常多。

鑒于Iqxstream支持數(shù)據(jù)捕獲與分析分離的方法，測試時間很大程度上由配置捕獲周期決定，而不是由每次捕獲計算的測量數(shù)決定。這就表明，針對處理量優(yōu)化的測試計劃要盡量減少配置數(shù)，同時增加測量數(shù)。這更傾向于測量密度更大的更窄表格。

讓我們同樣檢查一下測試工程師是如何選擇不同配置的。在上例中，測試完整考察了一組參數(shù)，然后正交轉入下一組。測試1~3完整考察了RB偏移方面的變化，然后改變RB塊大小，再次考察了不同偏移的影響。在實驗室環(huán)境中，這種控制對于追蹤設計中不合格變化的源頭來說至關重要，但是在制造測試環(huán)境中，這種正交性卻不太重要。

簡單缺陷示例

用一個簡單的示例來看一下模擬性能中的缺陷是如何發(fā)生的。假定后調(diào)制模擬濾波器發(fā)生頻偏，截止頻率侵入信道的上邊緣。其結果將是功率輸出將在信道的上邊緣處偏低。這個故障在頻帶上側的1RB測試和12RB測試中都會顯示出來，也就是測試配置3和8中的功率測量。故障在50RB塊的EVM平坦度測量中也可以顯示出來。

請記住，在生產(chǎn)中我們僅僅想要確定的是DUT是“好”還是“壞”。一旦識別它是“壞”的，可以將這個DUT放在一邊，進行進一步的檢查和修理。如果隔離問題會顯著增加測試時間，那么就不需要也不應該讓生產(chǎn)線去采用這些隔離問題所需的測試。

然后，可以合乎邏輯地刪除測試表中的配置3或8，因為它們提供的測試范圍相似。這些類型的重復在整個測試計劃中經(jīng)常出現(xiàn)。雖然有些重復可能是需要或是必要的，但卻不應造成浪費。

壓縮測試計劃

看到原始的測試計劃時，壓縮就是用來將其改進以供在Iqxstream上執(zhí)行的一個合適術語?？倻y試時間將很大程度上由測試配置數(shù)決定。并且，通過將分析部分與數(shù)據(jù)捕獲分開，我們能夠以最小的成本完成比給定捕獲多得多的測量。因此，我們的目標應該是在減少測試配置數(shù)的同時，針對每次捕獲完成更多的測量。讓我們?yōu)g覽一下這種壓縮操作(表5)。

表5：LTE測試計劃縮減。

手機中的各種調(diào)制方案在電路上一般采用不同的數(shù)據(jù)通路。因此，盡管我們想要在手機中檢查所有的調(diào)制方案，但很可能卻不需要驗證所有的變化。其原因是它們一般在數(shù)字域中產(chǎn)生，且不受模擬量變化的影響。

讓我們從挑選絕對想要保存的配置開始。配置1、12和20考察了調(diào)制和RB分配的極端情況，配置4提供了一種適中且可能典型的RB分配測試。這4個配置是符合邏輯的候選項，應予以保留。

對于TX質量測量，重點一般應放在最大功率的測量上，因為這些測量一般對大功率電路是最大的挑戰(zhàn)。如果從頻帶/信道的一個邊緣到另一邊緣會有輸出功率的變化，它們就會在單RB配額測量中顯示出來。因此，具有最大RB偏移的配置3也應作為配置1的最小RB偏移的補充而加以保留。

配置2是需要被削減的候選項，因為它僅測試了信道的中間RB偏移。因為模擬問題本身通常將在整個頻帶或在頻帶邊緣顯示出來，所以這種中間測量幾乎沒有什么價值。

采用配置1和3在不同RB偏移的頻帶邊緣測試了模擬量的變化。因此，我們可以安全地取消配置8到11，因為它們與配置4到7只是在RB偏移上有所差異。

配置20代表了PA和其他大功率電路上壓力測試的一種形式，而配置21實際上代表了最高速率運行的最現(xiàn)實的情況。最高速率運行只有在靠近基站時才有可能發(fā)生，因此，一般情況下PA會設定在低功率設置。我們應至少在低功率狀態(tài)下完成一次TX質量測量，因為功率放大器在其最大功率設置以下的63dB將會以非常不同的模式運行。因此，配置21仍然是一種很有價值的測試配置。

配置14和15可用來測試特定的絕對功率設置能力，但前提是這種能力應當在任何中間功率測量都可能進行的整個運行范圍內(nèi)始終適用。因此，我們將保留配置5作為設置中間功率電平能力的測量，而刪除配置14和15。

讓我們?yōu)g覽一下余下的配置，看看還剩下哪些。

配置6和7分別將功率降低到-30dBm和-40dBm，但是沒有理由相信這些測試的更簡單調(diào)制和更低RB配額，會揭示出任何配置21的更復雜波形沒有發(fā)現(xiàn)的問題，并且-30dBm和-40dBm之間也不會有很大的差異。所以這些測試可以被去除。

測試配置13也有同樣的理由。這也是比測試21更簡單的配置。

測試配置16、17、18和19也是相同情況。這些測試針對在16QAM運行的更簡單的12RB配額，驗證了RB偏移和功率變化下的運行。在前文已經(jīng)驗證了配置1和3中不同的RB偏移，而調(diào)制方案在配置20和21中得到證實。所以這四種測試成為了刪除的候選項。

在這個過程中，我們?nèi)コ舜罅康臏y試配置，但是如前文所述，我們看到的是一個稀疏的測試矩陣。由于向特定測試配置增加測量幾乎或根本不會產(chǎn)生任何相關成本，那么就讓我們來填補其中的一些空白。

測試計劃表(表6)中加入了更多的測試并進行了少許進一步調(diào)整。

表6：壓縮測試計劃調(diào)整。

本文小結

生產(chǎn)測試的主要目標是盡可能多地測試移動設備，發(fā)現(xiàn)制造缺陷，同時最大程度地縮短測試時間。為達到這一點，利用IQxstream的“捕獲一次，測量多個”能力，可以獲得測試速度以及整體測試范圍的顯著優(yōu)勢。

相比以3GPP測試規(guī)范為中心的計劃，具有類似測試范圍的壓縮計劃的運行時間僅為其1/3。

就LTE等復雜的空中接口而言，在測試計劃開發(fā)中縮小每個參數(shù)的范圍，確認什么參數(shù)將對DUT造成壓力，并確定IC測試和實驗室測試已經(jīng)證實鎖定到數(shù)字設計中的參數(shù)非常重要。

IQxstream在對比討論生產(chǎn)測試與更加常見的實驗室測試環(huán)境時，代表著全新的價值主張。其多DUT功能和“捕獲一次，測量多個”能力結合將數(shù)據(jù)捕獲與分析相分離的架構，令制造環(huán)境的處理量和靈活度達到了前所未有的水平。