基于片上ADC/DAC實(shí)現(xiàn)精度可調(diào)ADC的方法
某系統(tǒng)的A/D模塊需實(shí)現(xiàn)檢測(cè)輸入電壓值,變化范圍為0~58 V。主芯片選用NXP公司的ARM7系列的LPC2368,片上自帶10位ADC和DAC,ADC測(cè)量輸入電壓范圍是0~3 V,而DAC的范圍是0~3 V。傳統(tǒng)方法是直接將輸入電壓送入ADC法滿足精度要求,但輸入電壓的變化范圍大于ADC的輸入電壓范圍?;诖?,這里給出一種利用MCU自帶ADC和DAC,并結(jié)合運(yùn)放、電容、電阻等元件搭建外圍硬件電路,實(shí)現(xiàn)10~20位測(cè)量精度可調(diào)的ADC的方法。
本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201706/347202.htm1 高精度ADC設(shè)計(jì)原理
輸入電壓經(jīng)過電阻分壓產(chǎn)生電壓U入,送入由運(yùn)放和電阻組成的減法運(yùn)算電路的同相端,分壓的原因是輸入電壓最大值大于運(yùn)放的最大輸入電壓。MCU的DAC輸出經(jīng)過同相比例運(yùn)算電路放大之后產(chǎn)生與U入相近的電壓U近,送入減法電路的反相端。同相比例運(yùn)算電路的作用是擴(kuò)大DAC的輸出電壓范圍,使U入和U近的最大值近似相等。經(jīng)過減法運(yùn)算電路之后的電壓差值U差經(jīng)過箝位電路送入MCU的ADC,通過讀ADC寄存器的值可得U差的值。箝位電路是防止ADC的輸入電壓超過量程,而導(dǎo)致燒毀MCU。
在測(cè)量時(shí),由軟件控制改變DAC寄存器的值,從而改變DAC輸出電壓值,使U差的電壓值在量程范圍(0~3 V)之內(nèi)。此時(shí)通過讀DAC和ADC的寄存器的值,可得DAC輸出電壓與送入ADC的電壓U差的值。根據(jù)DAC的輸出電壓和同相比例運(yùn)算電路公式可得U近電壓值,根據(jù)減法電路公式、U差和U近的值可得輸入電壓值。
系統(tǒng)硬件框圖如圖1所示。
2 系統(tǒng)硬件設(shè)計(jì)
圖2為實(shí)現(xiàn)17位ADC原理圖。U101、R100、R101、R102、R103組成減法電路,U102、R108、R109、R116組成同相比例運(yùn)算電路。VD100組成箝位電路。VR是由基準(zhǔn)電壓源產(chǎn)生的3 V的基準(zhǔn)電壓。R117和R118組成分壓電路,在R118上的電壓為45 mV可抵消運(yùn)放的零漂。ADO是MCU的ADC通道0的輸入端。
圖2所示的電路雖然只是實(shí)現(xiàn)17位ADC,但通過修改幾個(gè)特定的電阻阻值就可實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍和ADC測(cè)量分辨率。通過修改同相比例運(yùn)算電路中R109與R116比例值,可實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)輸入電壓的測(cè)量范圍;通過修改減法電路中的R103與R100比例值,可實(shí)現(xiàn)調(diào)節(jié)ADC的分辨率。下面結(jié)合實(shí)現(xiàn)17位ADC硬件設(shè)計(jì)電路圖,具體說明如何實(shí)現(xiàn)17位高精度ADC、調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍和實(shí)現(xiàn)10~20位精度可調(diào)的ADC。
2.1 17位ADC的實(shí)琨過程
對(duì)于一個(gè)n位的ADC,其分辨率為可測(cè)量最大輸入電壓值與2n的比值。因此,此電路圖可實(shí)現(xiàn)的ADC的位數(shù)可以通過輸入電壓的最大值和分辨率計(jì)算得出。
1)計(jì)算輸入電壓測(cè)量范圍的方法 由圖2可知,ADC的輸入電壓計(jì)算公式如下:
式中,VIN是輸入電壓,VDAOUT是當(dāng)ADC的輸入電壓處于量程范圍之內(nèi)時(shí)DAC電壓,VDAO是ADC輸入電壓。
由式(2)可知,當(dāng)DAC的輸出電壓和ADC的輸入電壓剛好達(dá)到最大值3 V時(shí),輸入電壓為59.1 V,此電壓值為系統(tǒng)可測(cè)量的最大輸入電壓值。由此可見輸入電壓的測(cè)量范圍是0~59.1 V。
2)ADC分辨率的計(jì)算方法 當(dāng)DAC的輸出為零時(shí),即VDAOUT=0時(shí),由式(2)可知輸入電壓VIN與VADO的電壓的關(guān)系為:
VIN=VADO/10。MCU的ADC位數(shù)是1O位、最大輸入電壓是3 V。因此,ADC分辨率為0.292 mV。
3)實(shí)現(xiàn)17位ADC根據(jù)輸入電壓最大值與ADC分辨率的比值計(jì)算出此電路圖實(shí)現(xiàn)的ADC的位數(shù)。由59.1/(0.292x10-3)=202 397=217.6,可以看出此電路實(shí)現(xiàn)了17位的ADC。
2.2 調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍的方法
因?yàn)閂ADO和VDAOUT的最大值都是3 V,由式(2)可知,可測(cè)量的最大輸入電壓值是由R100、R103、R116、R109決定的。改變R100與R103的比值會(huì)影響ADC的測(cè)量精度,因此,調(diào)節(jié)測(cè)量輸入電壓范圍主要是通過調(diào)節(jié)R116與R109的比值。由式(2)容易看出,當(dāng)R116增加時(shí),測(cè)量電壓輸入范圍增加,R109增加時(shí)測(cè)量電壓輸入范圍減小。
2.3 實(shí)現(xiàn)10~20位精度可調(diào)ADC的方法
由17位ADC的實(shí)現(xiàn)過程可知,此電路實(shí)現(xiàn)ADC的位數(shù)是由測(cè)量輸入電壓最大值和ADC的分辨率決定的。所以在改變ADC的位數(shù)時(shí),要通過改變測(cè)量輸入電壓范圍或者ADC分辨率。但是,系統(tǒng)測(cè)量輸入電壓范圍是固定的。因此,可通過改變ADC分辨率實(shí)現(xiàn)ADC的位數(shù)改變。
1)調(diào)節(jié)ADC分辨率的方法當(dāng)DAC的輸出電壓為零時(shí),將式(2)化簡為式(3):
由式(3)可知,當(dāng)MCU的ADC變化一個(gè)電壓刻度值時(shí),VIN變化6R100/R103。ADC位數(shù)是10位、最大輸入電壓是3 V。因此,ADO分辨率為3 V/1 024=2.92 mV,ADC的分辨率為2.92x10-3x6R100/R103。由此可見,R100增加時(shí),分辨率下降;R103增加時(shí),分辨率提高。
2)實(shí)現(xiàn)10~20位精度可調(diào)ADC通過可測(cè)量的輸入電壓最大值與要實(shí)現(xiàn)的ADC的位數(shù)可計(jì)算出ADC的分辨率,再通過式(3)可求出R100與R103的比例關(guān)系。按照R100與R103的比例關(guān)系修改其阻值,即可實(shí)現(xiàn)要得到的ADC的位數(shù)。例如將本系統(tǒng)修改為20位ADC,則ADC測(cè)量精度應(yīng)該為59.1 V/220=0.056 mV。由式(3)可知0.056=6x0.292xR100/R103,所以修改R103與R100的比值為312.8,即可以實(shí)現(xiàn)20位的ADC。通過此方法可實(shí)現(xiàn)10~20位精度可調(diào)的ADC。
2.4 硬件設(shè)計(jì)說明
U100是由運(yùn)放OPA177F組成的電壓跟隨器,具有輸入阻抗高,輸出阻抗低的特點(diǎn),在本系統(tǒng)中的作用是實(shí)現(xiàn)匹配U101的輸入電阻和提高對(duì)輸入電壓分壓的精確度。R101和R100第二級(jí)減法運(yùn)算電路的輸入匹配電阻,其阻值不宜小于10 kΩ,太小會(huì)影響ADC的測(cè)量精度。R104為限流電阻,防止電流超過VD100的最大額定電流。
R117和R118組成分壓電路,在R118上的電壓為45 mv,可抵消運(yùn)放的零漂。若不加此分壓電路且DAC輸出為零時(shí),經(jīng)過實(shí)際測(cè)量TP102點(diǎn)的電壓約為120 mV,這是由運(yùn)放的零漂造成的,會(huì)影響ADC的測(cè)量精度。在每一個(gè)運(yùn)放輸入端添加了0.1 μF的電容,去除高頻信號(hào),提高輸入信號(hào)的穩(wěn)定性。
3 系統(tǒng)軟件設(shè)計(jì)
軟件部分主要功能是對(duì)輸入電壓的測(cè)量。因?yàn)橛布O(shè)計(jì)中,運(yùn)放和電阻本身的參數(shù)存在誤差,所以它們組成的放大電路的放大倍數(shù)存在誤差,從而造成ADC測(cè)量產(chǎn)生誤差。因此,傳統(tǒng)方法直接利用它們組成的放大電路的計(jì)算公式(式(2))計(jì)算出的輸入電壓值誤差比較大,電壓跳動(dòng)明顯。因此,在系統(tǒng)第一次測(cè)量輸入電壓前,首先通過軟件設(shè)計(jì)建立輸入電壓校正表校正的方法實(shí)現(xiàn)減小誤差。
校正表是在第一次測(cè)量之前建立的數(shù)據(jù)表,作用是通過此表觀察輸入電壓值與測(cè)量值之間滿足何種曲線關(guān)系。在測(cè)量輸入電壓時(shí),通過得到的曲線關(guān)系選擇拉格朗日插值算法,并將測(cè)量的值代入選擇的拉格朗日插值公式,計(jì)算出較為精確的輸入電壓值。
3.1 軟件實(shí)現(xiàn)過程
軟件設(shè)計(jì)過程主要包括MCU的ADC進(jìn)行初始化,建立輸入電壓校正表,計(jì)算表達(dá)式(5)的值,拉格朗日插值計(jì)算輸入電壓,顯示輸入電壓值。軟件設(shè)計(jì)流程如3所示。
設(shè)X為MCU的DAC數(shù)字量十進(jìn)制的值,Y為MCU的ADC數(shù)字量十進(jìn)制的值。
由式(4)可得式(5):
3.1.1 初始化ADC
主要是對(duì)MCU的ADC進(jìn)行初始化,主要包括ADC寄存器配置、選擇I/O口的工作模式、選擇ADC的通道、啟動(dòng)ADC。
3.1.2 校正
校正是在測(cè)量輸入電壓前,首先利用基準(zhǔn)電壓源輸入多個(gè)基準(zhǔn)電壓值,并通過讀MCU的ADC寄存器值記錄對(duì)應(yīng)的數(shù)字量的值,并將這兩項(xiàng)的值保存到校正表中。在測(cè)量輸入電壓時(shí),將所得的數(shù)字量的值利用拉格朗日插值算法代入校正表可得精確的輸入電壓值。
1)校正表內(nèi)容校正的過程主要是通過建立校正表建立起實(shí)際輸入電壓值與測(cè)量輸入電壓值的聯(lián)系。校正表存放兩項(xiàng)數(shù)據(jù)。一項(xiàng)是1~59 V的整數(shù)電壓值,另一項(xiàng)是式(5)的和。因?yàn)橄到y(tǒng)測(cè)量的輸入電壓值是只保留到小數(shù)點(diǎn)后2位的近似值,而式(5)中包含測(cè)量的ADC和DAC的十進(jìn)制數(shù)字量值更為精確。由式(4)可看出式(5)的值與測(cè)量的輸入電壓值存在比例關(guān)系,所以它們與實(shí)際輸入電壓的曲線關(guān)系相同。因此,另一項(xiàng)的內(nèi)容存放的是式(5)的和。
2)建立校正表的過程從1~59 V,用電壓源每隔1 V輸入一次電壓,通過讀MCU的ADC和DAC寄存器的值,記錄每次ADC和DAC的數(shù)字量十進(jìn)制的值。將記錄的ADC和DAC的值代入式(5)計(jì)算其和并保存到校正表中。
3.1.3 計(jì)算式(5)的和值
通過程序改變MCU的DAC寄存器的值實(shí)現(xiàn)改變DAC的輸出電壓值,在改變DAC寄存器的值的同時(shí)通過觀察ADC的寄存器的值確定ADO的輸入電壓值是否在量程范圍之內(nèi)。當(dāng)ADO的輸入在量程范圍之內(nèi)時(shí),通過讀DAC寄存器和ADC的寄存器值可分別獲得MCU的DAC和ADC的數(shù)字量十進(jìn)制值,將獲得的值代入式(5)可得其和。
3.1.4 計(jì)算輸入電壓
計(jì)算輸入電壓函數(shù)實(shí)現(xiàn)功能是利用拉格拉日插值公式計(jì)算出輸入電壓。通過坐標(biāo)軸觀察校正表中數(shù)據(jù),實(shí)際輸入電壓值與測(cè)量值滿足線性關(guān)系。在輸入電壓校正表中,查找與式(6)的值最接近的2個(gè)點(diǎn),然后代入拉格拉日線性插值公式計(jì)算出輸入電壓。
3.2 實(shí)驗(yàn)結(jié)果
利用傳統(tǒng)方法直接送入ADC測(cè)量輸入電壓的精度理想情況下最高為59.1/1024=57.7mV,由于硬件參數(shù)誤差和干擾等原因會(huì)使測(cè)量誤差大于20mV,無法滿足系統(tǒng)的測(cè)量精度和準(zhǔn)確度要求。利用本文所提出的17位高精度A/D測(cè)量方法測(cè)量精度可減小為0.45mV,通過軟件校正的方法測(cè)量誤差可控制在10mV以內(nèi),滿足了設(shè)計(jì)要求。通過本文所述提高測(cè)量精度的方法,最高可實(shí)現(xiàn)20位ADC,測(cè)量精度可減小為0.056 mV。
4 結(jié)束語
本文基于NXP的LPC2368,利用其內(nèi)部集成的ADC和DAC,實(shí)現(xiàn)高精度且精度可調(diào)的ADC,這種方法容易實(shí)現(xiàn),可以應(yīng)用在眾多數(shù)據(jù)采集領(lǐng)域,如傳感器的數(shù)據(jù)采集、電壓信號(hào)的測(cè)量等,只要選用的MCU自帶ADC和DAC,就可以采用本文方法實(shí)現(xiàn)最高精度達(dá)20位的高精度且精度可調(diào)的ADC。
評(píng)論