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          用于混合信號VLSI的可擴展JTAG控制器IP核設(shè)計

          作者: 時間:2017-06-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          1引言

          正電子發(fā)射斷層(PositronEmissionTomography,PET)是一種先進的核醫(yī)學(xué)成像技術(shù),其原理是探測正負電子湮滅時所產(chǎn)生的一對光子,根據(jù)光子的飛行時間確定發(fā)生湮滅的位置,同時根據(jù)光子的能量大小確定發(fā)生湮滅的正負電子數(shù)量。這些光子的飛行時間和能量大小需要通過的前端電子電路進行讀出和處理,并通過圖像重建最終獲得醫(yī)學(xué)圖像[1]。專用集成電路芯片可以提高PET前端讀出電路的穩(wěn)定性以及數(shù)據(jù)采樣和轉(zhuǎn)換的速率,降低該系統(tǒng)的成本和功耗,但同時也使得它的可觀察性、可測試性和可控制性大大降低[2]。

          專用集成電路芯片包括前端弱信號讀出電路、ADC和TDC(Time-to-DigitalConverter)等模塊,因此它是一個數(shù)/?;旌闲盘柤呻娐贰D壳搬槍?shù)/?;旌闲盘?a class="contentlabel" href="http://www.ex-cimer.com/news/listbylabel/label/VLSI">VLSI的測試技術(shù)主要是基于DSP的混合信號測試技術(shù)[3],雖然這種基于DSP自動測試設(shè)備(AutomaticTestEquipment,ATE)的測試精度高,但是它的價格昂貴,測試成本高,而且操作復(fù)雜,不適應(yīng)大規(guī)模推廣使用。因此開發(fā)一種測試成本低、易操作的ATE是非常必要的,而且專用集成電路芯片通常工作在

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201706/348869.htm

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