基于ARM和CPLD的橫機(jī)機(jī)頭電路測(cè)試系統(tǒng)

為解決電腦橫機(jī)機(jī)頭控制系統(tǒng)信號(hào)的測(cè)試可靠性問題,基于低成本、高效率的考慮,研究設(shè)計(jì)了機(jī)頭控制系統(tǒng)電路板的批量測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)采用TI公司的LM 3S5R31芯片作為系統(tǒng)的核心部分,通過CPLD進(jìn)行I/O擴(kuò)展及輔助控制,使得系統(tǒng)功能靈活強(qiáng)大。將同一信號(hào)通路中的前后級(jí)元件信號(hào)進(jìn)行編碼,向待測(cè)板發(fā)送握手信號(hào)并使之發(fā)送反饋信號(hào),該系統(tǒng)將反饋信號(hào)進(jìn)行采樣并在程序中比較計(jì)算,制作了實(shí)物并進(jìn)行了大量實(shí)驗(yàn)。研究結(jié)果表明,該測(cè)試系統(tǒng)可有效解決電腦橫機(jī)機(jī)頭控制系統(tǒng)的快速故障測(cè)試及定位問題。

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