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          針對FPGA優(yōu)化的高分辨率時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換陣列電路

          作者: 時(shí)間:2017-06-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          數(shù)字時(shí)間轉(zhuǎn)換電路TDC(Time-to-Digital Converter)是精密時(shí)間測量中的核心模塊,在粒子物理、激光測距、遙感成像等方面有非常廣泛的應(yīng)用。

          電路起源于20世紀(jì)60年代的核技術(shù)與航空航天領(lǐng)域,文獻(xiàn)[1]首次提出數(shù)字時(shí)間測量的概念。時(shí)間間隔測量的方法可以大致分為模擬測量與數(shù)字測量兩大類。模擬測量方法,包括時(shí)間幅度轉(zhuǎn)換TAC(Time-to-Amplitude Converter)法[2]與模擬時(shí)間放大法,都是通過電容充放電的特性把時(shí)間量轉(zhuǎn)換為可以測量的電壓量或者電荷量,從而達(dá)到測量時(shí)間的目的。但是在多數(shù)模擬測量方法中還需要進(jìn)行模數(shù)(AD)轉(zhuǎn)換來進(jìn)行數(shù)據(jù)的后續(xù)處理。此種方法通常由印制電路板上的不同分立元件與芯片構(gòu)成,因此功耗面積較大,依賴環(huán)境溫度且易受電磁干擾,電路調(diào)試也相對比較困難[3]。隨著大規(guī)模集成電路技術(shù)的成熟,單個(gè)芯片集成的晶體管數(shù)量成倍增長,計(jì)算能力與處理能力也大大提高。文獻(xiàn)[5]首次采用CMOS工藝設(shè)計(jì)出了一種基于環(huán)形延遲線的全數(shù)字器,此外還有如延遲鎖定環(huán)[4]DLL(Delay Lock Loop)方法、高速計(jì)數(shù)器[7]方法、時(shí)間延遲線[8-13]方法等,都是利用器件本身的延遲來達(dá)到時(shí)間測量的目的。

          近年來,由于技術(shù)的迅猛發(fā)展,在低成本低設(shè)計(jì)周期方面,已經(jīng)可以部分取代ASIC。它所特有的可重用性不僅增加了系統(tǒng)的靈活性、適應(yīng)性,也大大減小了系統(tǒng)的規(guī)模,極具開發(fā)和研究的潛力。因此,針對進(jìn)行優(yōu)化的TDC設(shè)計(jì)方案成為研究人員關(guān)注的焦點(diǎn)。文獻(xiàn)[4]針對FPGA中延遲的一致性問題,提出了采用類似環(huán)形延時(shí)門設(shè)計(jì)的粗計(jì)數(shù)與細(xì)計(jì)數(shù)兩部分電路來完成,達(dá)到了3.3 ns的時(shí)鐘分辨率。文獻(xiàn)[6]通過對文獻(xiàn)[5]的方法進(jìn)行改進(jìn),在CPLD上實(shí)現(xiàn)了時(shí)鐘分辨率達(dá)3.5 ns的TDC。本文針對解決FPGA延遲特性不確定的問題,提出了一種采用時(shí)鐘狀態(tài)譯碼的方法進(jìn)行時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換的陣列電路CDTDC(Clock Decoder based TDC),陣列規(guī)模為16×16。在Altera公司的Cyclone II EP2C15上進(jìn)行仿真測試,工作頻率50 MHz,時(shí)鐘分辨率可達(dá)1.73 ns。

          1 CDTDC陣列的工作原理

          1.1 CDTDC計(jì)數(shù)模塊

          由于FPGA的硬件結(jié)構(gòu)限制,計(jì)數(shù)器在較高頻率下的工作不穩(wěn)定,在狀態(tài)轉(zhuǎn)換過程中易產(chǎn)生毛刺、跳碼,影響正確的系統(tǒng)輸出,時(shí)間分辨率很難提高[14]。為了避免此類情況發(fā)生,加入結(jié)構(gòu)簡單、占用資源少的細(xì)計(jì)數(shù)功能模塊來提高時(shí)間分辨率。本設(shè)計(jì)中采用二進(jìn)制計(jì)數(shù)器與時(shí)鐘狀態(tài)譯碼分別完成粗計(jì)數(shù)與細(xì)計(jì)數(shù),從而對時(shí)間間隔進(jìn)行測量。

          CDTDC陣列中單元電路的原理框圖如圖1所示,每個(gè)單元電路具有獨(dú)立的時(shí)間間隔測量功能。為了減小電路規(guī)模,粗計(jì)數(shù)模塊采用10 bit線性反饋移位寄存器(LFSR)實(shí)現(xiàn)。LFSR對計(jì)數(shù)時(shí)鐘進(jìn)行計(jì)數(shù),后續(xù)再對LFSR進(jìn)行狀態(tài)譯碼即可得到所計(jì)的時(shí)鐘數(shù)。計(jì)數(shù)時(shí)鐘來自片上(PLL)對外部時(shí)鐘的倍頻。當(dāng)起始信號達(dá)到時(shí),接入系統(tǒng)時(shí)鐘開始計(jì)數(shù);當(dāng)停止信號到達(dá)時(shí),計(jì)數(shù)/讀出時(shí)鐘使能信號變?yōu)檫壿嫷?,關(guān)閉連接LFSR時(shí)鐘輸入端的與門,達(dá)到停止計(jì)數(shù)的功能。計(jì)數(shù)時(shí)鐘的工作頻率為150 MHz,因而粗計(jì)數(shù)模塊可以達(dá)到的時(shí)間測量范圍為6.8 μs。

          細(xì)計(jì)數(shù)模塊由上升沿觸發(fā)的鎖存器1、鎖存器2、計(jì)數(shù)時(shí)鐘與移相時(shí)鐘組成。為了提高時(shí)鐘分辨率,將計(jì)數(shù)時(shí)鐘移相90°,通過鎖存器鎖存兩個(gè)時(shí)鐘在停止信號到達(dá)時(shí)的邏輯電平作為狀態(tài)碼,進(jìn)而提高時(shí)間分辨率。具體過程是:當(dāng)停止信號達(dá)到時(shí),連接鎖存器時(shí)鐘輸入端的與門產(chǎn)生電平跳變,在上升沿把計(jì)數(shù)時(shí)鐘與移相時(shí)鐘的邏輯電平鎖存進(jìn)鎖存器中,時(shí)序圖如圖2所示。鎖存器1保持了停止信號到達(dá)時(shí)計(jì)數(shù)時(shí)鐘的時(shí)鐘狀態(tài),從而可將時(shí)鐘分辨率提高至?xí)r鐘周期的1/2;鎖存器2保持了移相時(shí)鐘在停止信號達(dá)到時(shí)的狀態(tài),從而將時(shí)鐘分辨率提高至?xí)r鐘周期的1/4。故在計(jì)數(shù)時(shí)鐘為150 MHz的情況下,時(shí)間分辨率的理論值為1.667 ns。


          1.2 CDTDC讀出模塊

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201706/349198.htm

          當(dāng)對記錄的時(shí)間進(jìn)行數(shù)據(jù)讀出時(shí),需要輸入讀出時(shí)鐘。時(shí)鐘切換模塊在系統(tǒng)進(jìn)入讀出狀態(tài)時(shí)對移位寄存器的輸入時(shí)鐘進(jìn)行切換,完成數(shù)據(jù)的正確讀出。為了節(jié)約邏輯資源,采用組合邏輯電路對時(shí)鐘信號進(jìn)行切換控制。

          如圖1所示,當(dāng)系統(tǒng)工作在讀出模式時(shí),計(jì)數(shù)/讀出模式切換信號變?yōu)檫壿嫷?,關(guān)閉輸入計(jì)數(shù)時(shí)鐘的與門,同時(shí)打開輸入讀出時(shí)鐘的或門,在計(jì)數(shù)/讀出使能信號允許的條件下,輸入讀出時(shí)鐘至LFSR的時(shí)鐘端口。多功能移位寄存器的時(shí)鐘切換同理。

          在計(jì)數(shù)/讀出模式切換信號允許的條件下,通過切換多路復(fù)用器斷開LFSR的反饋輸入端,將多功能移位寄存器的輸出輸入LFSR中。多功能移位寄存器會自動在并入串出與串入串出模式下進(jìn)行切換,首先將時(shí)鐘狀態(tài),即鎖存器的輸出移入,然后輸入前一個(gè)單元電路的輸出,如此每行相鄰的單元電路串聯(lián)直至數(shù)據(jù)輸出端。圖3為陣列電路結(jié)構(gòu)圖,對于16×16的陣列,每行一個(gè)數(shù)據(jù)讀出鏈。每個(gè)單元電路的讀出數(shù)據(jù)為12 bit,故每行信號的數(shù)據(jù)量為192 bit。如果數(shù)據(jù)讀出時(shí)鐘為10 MHz,則讀出時(shí)間為1/10 MHz×192=19.2 μs。如果陣列規(guī)模增大,則可提高讀出時(shí)鐘頻率。


          1.3 CDTDC控制模塊

          鑒于系統(tǒng)需要自動在計(jì)數(shù)與讀出兩種模式下進(jìn)行切換,并需復(fù)位相應(yīng)寄存器,本設(shè)計(jì)采用狀態(tài)機(jī)來控制CDTDC的模式切換。控制模塊狀態(tài)機(jī)示意圖如圖4所示。

          系統(tǒng)上電復(fù)位后,處于復(fù)位(10)狀態(tài)。在此狀態(tài)下,進(jìn)行移位寄存器的清零,同時(shí)復(fù)位所有控制信號至初始狀態(tài)。復(fù)位狀態(tài)持續(xù)4個(gè)時(shí)鐘周期,狀態(tài)跳轉(zhuǎn)到計(jì)數(shù)狀態(tài)。在計(jì)數(shù)(00)狀態(tài)下,計(jì)數(shù)/讀出模式切換信號禁止,系統(tǒng)工作在計(jì)數(shù)模式。接入計(jì)數(shù)時(shí)鐘,LFSR開始計(jì)數(shù)。同時(shí),為使系統(tǒng)具有可配置性,在計(jì)數(shù)狀態(tài)中加入一個(gè)10 bit計(jì)數(shù)器來配置系統(tǒng)可以記錄的最大時(shí)間間隔。若屏蔽此計(jì)數(shù)器,則此狀態(tài)持續(xù)時(shí)間為系統(tǒng)可以達(dá)到的最大時(shí)間測量范圍,即6.8 μs。實(shí)際應(yīng)用中可根據(jù)用戶實(shí)際需要對計(jì)數(shù)器進(jìn)行配置來限制計(jì)數(shù)狀態(tài)的持續(xù)時(shí)間。計(jì)數(shù)狀態(tài)結(jié)束后跳轉(zhuǎn)到讀出(01)狀態(tài),計(jì)數(shù)/讀出模式切換信號允許,啟動數(shù)據(jù)讀出模塊,完成記錄時(shí)間的讀出。如前所述,單行數(shù)據(jù)鏈需要的讀出時(shí)間約為20 μs。此后系統(tǒng)回到復(fù)位狀態(tài)準(zhǔn)備下次計(jì)數(shù)。

          2 仿真測試與硬件實(shí)現(xiàn)

          2.1 仿真結(jié)果分析

          本設(shè)計(jì)采用Altera公司的Quartus II與Mentor Graphics公司的Modelsim作為主要的設(shè)計(jì)工具。Cyclone系列FPGA具有片上(PLL)模塊,可以對輸入時(shí)鐘進(jìn)行精確的倍頻、分頻、相位偏移、可編程占空比等操作。系統(tǒng)外部時(shí)鐘輸入頻率為50 MHz,通過配置片上PLL,可獲得3倍頻的計(jì)數(shù)時(shí)鐘與移相時(shí)鐘,5分頻的讀出時(shí)鐘。

          圖5為單元電路計(jì)數(shù)狀態(tài)仿真結(jié)果。rst為系統(tǒng)復(fù)位信號,start為計(jì)數(shù)起始信號,stop為計(jì)數(shù)停止信號,cnt_clk為計(jì)數(shù)時(shí)鐘,shifted_clk為移相時(shí)鐘,state為狀態(tài)機(jī)狀態(tài)碼,shift_reg為多功能移位寄存器并行輸入端口,q為線性反饋移位寄存器輸出。在計(jì)數(shù)狀態(tài)下,當(dāng)stop產(chǎn)生正脈沖時(shí),LFSR停止計(jì)數(shù),多功能移位寄存器并行輸入鎖存器1與鎖存器2輸出的時(shí)鐘邏輯電平,記錄時(shí)鐘狀態(tài)。圖6為單元電路數(shù)據(jù)讀出狀態(tài)仿真時(shí)序圖,rd_out為讀出引腳,在讀出時(shí)鐘作用下,數(shù)據(jù)從移位寄存器中依次移出。

          2.2 硬件測試

          時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換陣列在Cyclone II EP2C15芯片實(shí)現(xiàn),系統(tǒng)外部時(shí)鐘50 MHz。由函數(shù)發(fā)生器提供頻率為F的脈沖信號,信號上升沿作為系統(tǒng)的起始信號,下降沿作為系統(tǒng)的停止信號,測得在不同頻率下的時(shí)鐘分辨率。測試數(shù)據(jù)表明時(shí)間分辨率的算術(shù)平均值為1.73 ns。

          通過仿真與硬件測試表明,本設(shè)計(jì)能夠準(zhǔn)確進(jìn)行時(shí)間數(shù)字轉(zhuǎn)換,各項(xiàng)功能均達(dá)到預(yù)期要求。以低密度低成本的Altera Cyclone II EP2C15作為目標(biāo)芯片的綜合報(bào)告顯示,單元電路占用FPGA邏輯資源約為0.375%,具有極低的資源占用率。本設(shè)計(jì)時(shí)間分辨率最高可達(dá)1.73 ns,并且實(shí)現(xiàn)原理簡單,具有可行性。



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