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          一種安全可控的SoC可測(cè)性設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2017-06-05 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          摘要:提出了一種安全可控的DFT(Design For Test)。DFT既能夠完成對(duì)的測(cè)試,又能保障自身敏感信息和關(guān)鍵技術(shù)的安全。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201706/349244.htm

          關(guān)鍵詞: 集成電路 微系統(tǒng)芯片

          一種安全可控的.pdf



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