EAG實驗室將在中國舉行一系列材料分析研討會

　　EAG實驗室宣布公司將于10月份在中國多地舉辦一系列技術研討會。EAG實驗室是一家面向技術、生命科學相關行業(yè)提供測試、分析和表征服務的全球科學服務公司。EAG實驗室于2017年10月17日和19日在北京、成都、上海舉辦的研討會將關注材料分析方法以及如何更加有效地使用這些方法優(yōu)化生產(chǎn)工藝和產(chǎn)品升級。

　　EAG實驗室亞洲區(qū)高級副總裁Aoyama Tomoya博士說：“EAG實驗室在材料科學和工程科學領域的測試、分析和表征技術方面有著大量的經(jīng)驗和特長。這屆研討會將會提供一個很好的知識分享平臺，最終幫助我們的客戶以及潛在的中國客戶改進產(chǎn)品設計和生產(chǎn)工藝?！?/p>

　　EAG實驗室是一家聯(lián)系緊密的全球公司，在世界范圍內(nèi)擁有20家實驗室，服務客戶超過4000家，能夠提供30多種分析技術服務，包括二次離子質(zhì)譜(SIMS)、輝光放電質(zhì)譜(GDMS)、四極桿二次離子質(zhì)譜(Quad SIMS)、飛行時間–二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS)、電感耦合等離子體質(zhì)譜發(fā)射光譜、X射線光電子圖譜(XPS)、傅里葉轉(zhuǎn)換紅外光譜(FTIR)、掃描電子顯微鏡/能譜分析(SEM/EDS)、聚焦離子束(FIB)、全反射X射線熒光光譜(TXRF)、原子力顯微鏡/掃描探針顯微鏡(AFM/SPM)、盧瑟福背散射譜(RBS)、氫前向散射光譜法(HFS)、質(zhì)子激發(fā)X熒光光譜分析(PIXE)、X射線熒光分析(XRF)、拉曼光譜(Raman)和氣相色譜質(zhì)譜(GC/MS)。

　　10月17日在北京舉行的研討會主要集中在表面分析技術上，如二次離子質(zhì)譜(SIMS)。同日在成都舉行的研討會則關注體相分析技術，如輝光放電質(zhì)譜(GDMS)。10月19日在上海舉行的研討會涵蓋表面分析技術(SIMS等)和體相分析技術(GDMS等)兩個方面，兩個會場全天同時進行。

　　北京、成都、上海研討會議程

　　北京，10月17日，上午8:45~下午5:10，北京世紀蓮花酒店

　　主題：表面分析技術

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;SIMS (1)-SIMS基礎、歷程與意義;X射線光電圖譜(XPS)/俄歇電子圖譜(AES);飛行時間-二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS);SIMS的應用;透射電子顯微鏡(TEM);使用SIMS分析粉末半導體——以GaN與SiC為例;基于X射線的分析技術(XRD、XRF、XRR)。

　　成都， 10月17日，上午8:45~下午5:10，成都總府皇冠假日酒店

　　主題：體相分析技術

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;GDMS介紹、溶液分析與固體分析的對比;GDMS分析的實例;激光刻蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICPMS)的介紹;基于熔融(或燃燒)的分析技術(IGA、TGA、DAT、DSC)介紹;EAG針對陶瓷基復合材料分析的方案。

　　上海，10月19日午8:45~下午5:10，上海帝盛酒店

　　主題：表面與體相分析技術

　　會場A-表面分析技術

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;SIMS (1) - SIMS基礎、歷程與意義;X射線光電圖譜(XPS)/俄歇電子圖譜(AES);飛行時間 - 二次離子質(zhì)譜(TOF-SIMS);SIMS的應用;透射電子顯微鏡(TEM);使用SIMS分析粉末半導體——以GaN與SiC為例;基于X射線的分析技術(XRD、XRF、XRR)。

　　會場B-體相分析技術

　　內(nèi)容：EAG與表面分析的介紹;GDMS介紹、溶液分析與固體分析的對比;GDMS分析的實例;激光刻蝕-電感耦合等離子體質(zhì)譜(LA-ICPMS)的介紹;基于加熱熔融(或燃燒)的分析技術(IGA、TGA、DAT、DSC)介紹;EAG針對陶瓷基復合材料分析的方案。

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　　EAG實驗室(上海)負責中國區(qū)域的技術和生命科學業(yè)務，如有任何問題咨詢EAG實驗室，請聯(lián)系我們：上海市浦東新區(qū)蓮溪路1151號4號樓1層，201204。也可撥打電話021-68796088-114、15821627752(Yu Zhang)或021-68796088-113、13916767462(David Chu)。