電路測試中的運(yùn)算放大器參數(shù)

　　單個(gè)測試電路在那個(gè)時(shí)候可能夠用，但今天并非如此，因?yàn)楝F(xiàn)代運(yùn)算放大器具有更全面的規(guī)范。因此，單個(gè)測試電路不再包攬所有 DC 測試。

　　現(xiàn)在經(jīng)常使用三種測試電路拓?fù)鋵?a class="contentlabel" href="http://www.ex-cimer.com/news/listbylabel/label/運(yùn)算放大器">運(yùn)算放大器 DC 參數(shù)進(jìn)行工作臺及生產(chǎn)測試。這三種拓?fù)錇?（1） 雙運(yùn)算放大器測試環(huán)路、（2） 自測試環(huán)路（有時(shí)稱故障求和點(diǎn)測試環(huán)路）和 （3） 三運(yùn)算放大器環(huán)路。您可使用這些電路測試 DC 參數(shù)，其中包括靜態(tài)電流 （）、電壓失調(diào) （）、電源抑制比 （PSRR）、共模抑制比 （CMRR） 以及 DC 開環(huán)增益 （）。

　　靜態(tài)電流

　　靜態(tài)電流是指器件輸出電流等于零時(shí)其所消耗的電流。盡管 測試看起來相當(dāng)簡單，但也必須注意確保良好的結(jié)果，尤其是在處理極高或極低部件時(shí)。圖 1 是可用來測試及其它參數(shù)的三種實(shí)用電路，其必須考慮若干負(fù)載電流情況。這包括測試環(huán)路中的反饋電流。實(shí)際上，反饋電阻器 也能給器件帶來負(fù)載，影響 測量。

　　圖 1.這三款電路可用來測量靜態(tài)電流 （） 。

　　我們以測試 OPA369 運(yùn)算放大器為例來說明這些電路。該部件的最大靜態(tài)電流是每通道 1µA。最大輸入失調(diào)電壓為 750µV。圖 1 中的雙運(yùn)算放大器環(huán)路電路可為被測試器件的輸出提供 750.75mV 的電壓。這種輸入電壓可使通過 15µA 的電流。該電流來自電源，會(huì)給任何測量增加誤差。因此在進(jìn)行測量之前，必須采取措施確保輸出電流真的等于零。

　　自測試電路不是測量極低靜態(tài)電流的最高效電路，因?yàn)檩敵霰仨毺峁┓答侂娏?。在該?shí)施過程中，輸出必須根據(jù)增益后的電壓失調(diào)調(diào)整（并非易事），或者需要斷開以上原理圖中的 50Ω 電阻器，以消除反饋電流。雙放大器環(huán)路可通過增加另一個(gè)放大器來達(dá)到零輸出要求。精心選擇低輸入偏置電流環(huán)路放大器，可使輸出電流產(chǎn)生的誤差非常小。

　　此外，三運(yùn)算放大器環(huán)路也可幫您測量，但要注意被測量器件輸出端的 1MΩ 電阻器，這將成為一個(gè)問題，因?yàn)闊o論測量哪種參數(shù)，它總是一個(gè)寄生負(fù)載。如果測量輸出負(fù)載電流，該電阻器就代表一個(gè)附加負(fù)載。此外，還必須考慮該電阻器的噪聲問題，在 0.1Hz 至 10kHz 的頻率下 1MΩ 電阻器的噪聲為 85μVp-p。使用 100kΩ 電阻器可將噪聲降低至 27μVp-p。因此，降低電阻器值可降低噪聲，但被測量器件輸出端的寄生電阻器負(fù)載隨后會(huì)更明顯。

　　電壓失調(diào)

　　測試是測量運(yùn)算放大器大多數(shù)其它 DC 技術(shù)參數(shù)的基礎(chǔ)。因此要格外注意測試電路，以確保在測試其它參數(shù)時(shí)電路也能良好工作。如果沒有選擇好該測試配置，會(huì)影響到其它 DC 測量。

　　的定義方式有多種，常見方式包括：“無輸入信號或無電源電阻時(shí)提供零輸出電壓所需的差分 DC 輸入電壓”（參考資料 2），或者“在任一輸入端至接地的路徑中無其它輸入信號及電阻為零時(shí)提供零輸出電壓所需的差分 DC 輸入電壓”（參考資料 3）。另一種定義方式為“在輸入偏置電流為零時(shí)在運(yùn)算放大器輸出端提供零電壓所需的差分 DC 輸入電壓”，這是測量輸入失調(diào)電壓的理想理論方法，并不具有實(shí)踐意義，因?yàn)榱爿斎肫秒娏鞯倪\(yùn)算放大器并不存在。

　　根據(jù)以上定義，您既可將低輸出、高精度、高分辨率的可變電壓電源連接至運(yùn)算放大器的輸入端，也可調(diào)節(jié)輸入電壓，直到輸出電壓為零。那么輸入失調(diào)電壓就只是所應(yīng)用輸入電壓的反選。

　　這種方法存在兩個(gè)嚴(yán)重問題。在測試具有極高開環(huán)增益的運(yùn)算放大器時(shí)，必須確保電壓電源的分辨率小于 1 微伏才能保證獲得任意程度的可重復(fù)性。此外，還必須使用迭代接近法使輸出電壓為零。系統(tǒng)中的噪聲會(huì)耦合到電壓電源和運(yùn)算放大器中，使高速自動(dòng)化測試環(huán)境下的測量和控制幾乎無法實(shí)現(xiàn)。

　　圖 2. 使用該電路測量電壓失調(diào) 。

　　由于理想方法的這些問題，因此在工作臺測試環(huán)境下所選擇的常用方法是將被測試器件放在反相增益配置中，如圖 2 所示。這種方法的優(yōu)勢在于不僅被測試器件很穩(wěn)定，而且通常不需要額外的補(bǔ)償。

　　此外，測試電路可能還需要在非反相輸入與接地之間提供一個(gè) 50Ω 電阻器，以抵消輸入偏置電流。不過，對于輸入偏置電流極低的運(yùn)算放大器而言，該電阻器的唯一真正“貢獻(xiàn)”就是增加噪聲。對于 100pA 的器件來說，沒有該電阻器時(shí)附加誤差只有 0.005µV。這種抵消作用只有在偏置電流的方向和量級都相等時(shí)才起作用。

　　圖 2 中的電路是圖 1 中自測試求和點(diǎn)方法的簡略，但沒有電阻器 R1 和 R2。該電路對大多數(shù)運(yùn)算放大器來說具備固有的穩(wěn)定性，其通常可壓倒任何潛在的不足，使之成為首選測試電路。

　　如果使用圖 2 中的測試電路進(jìn)行其它測試，其缺點(diǎn)就會(huì)顯現(xiàn)。例如，圖 2 中的電路會(huì)對測量 和 等其它參數(shù)產(chǎn)生影響。

　　這種未驅(qū)動(dòng)的電路會(huì)導(dǎo)致 誤差，誤差值等于（* 閉環(huán)增益）* （單位是V/V）。該誤差可能無關(guān)緊要，也可通過應(yīng)用適當(dāng)?shù)?VIN 使 為 0.0V 來降低。

　　可使用以下計(jì)算公式 1 調(diào)整所需輸出的輸出端誤差補(bǔ)償公式。

　　通?？稍跍y試環(huán)路中使用一個(gè)附加放大器，如圖 1 雙放大器環(huán)路所示。這種配置最接近 定義的要求。被測試器件的輸出保持在環(huán)路放大器至接地的 之內(nèi)。如果環(huán)路放大器支持 V 調(diào)節(jié)，或者您可通過控制非反相輸入來消除失調(diào)，就可以不管環(huán)路放大器的失調(diào)。通過這種方法，您就可使被測試器件的輸出為零。在 端測得的電壓為 1001*。除非有負(fù)載連接至被測試器件的輸出端，否則該輸出必須只提供環(huán)路放大器輸入偏置電流。在測量靜態(tài)電流時(shí)，這對于低 部件而言是個(gè)重要的注意事項(xiàng)。在前面的兩款電路中，被測試器件必須將反饋電流提供給 。

　　通過將環(huán)路放大器的非反相輸入連接至可編程電壓電源，便可測量運(yùn)算放大器的其它性能參數(shù)，例如 、輸出擺幅和 CMRR。由于環(huán)路控制電壓是變化的，因此被測試器件的輸出會(huì)嘗試與控制電壓匹配。

　　注意，雙放大器環(huán)路有以下缺點(diǎn)：

　　比自測試電路更復(fù)雜；

　　需要環(huán)路補(bǔ)償，因?yàn)殡娐繁旧聿⒉环€(wěn)定；

　　只能在環(huán)路放大器的共模范圍內(nèi)控制被測試器件的輸出。

　　如果環(huán)路未得到適當(dāng)補(bǔ)償，電路就會(huì)振蕩。您可通過與并聯(lián)一個(gè)適當(dāng)?shù)碾娙萜鱽矸€(wěn)定環(huán)路。為環(huán)路放大器布置適當(dāng)?shù)?RC 組合也能穩(wěn)定環(huán)路。我們將在以后的文章中探討該環(huán)路補(bǔ)償問題。

　　雙放大器環(huán)路測試法的一種變化形式為三放大器環(huán)路，其可通過電流引導(dǎo)實(shí)現(xiàn)對被測試器件輸出電壓的控制。該環(huán)路的補(bǔ)償可通過第二個(gè)環(huán)路放大器的 RC 組合進(jìn)行設(shè)置。與在雙運(yùn)算放大器電路中一樣，被測試器件的電壓失調(diào)也是在 端測量，而且 是電壓失調(diào)的 1001 倍。該電路拓?fù)淇山鉀Q前一種電路的被測試器件輸出擺幅限制問題。如果需要更大的輸出擺幅，可以減小與環(huán)路控制電壓串聯(lián)的電阻器。

　　注意，三放大器環(huán)路存在如下缺點(diǎn)：

　　比其它電路更復(fù)雜；

　　需要環(huán)路補(bǔ)償，因?yàn)殡娐繁旧聿环€(wěn)定；

　　被測試器件的輸出總是具有 1MΩ 的最小負(fù)載。

　　電源抑制比

　　PSRR 是電源電壓變化絕對值與運(yùn)算放大器輸入失調(diào)電壓變化的比值。簡單來說，就是運(yùn)算放大器在特定范圍內(nèi)抑制電源電壓變化的能力。由于需要失調(diào)電壓來完成該測量，因此您可使用現(xiàn)有技術(shù)來測量 。圖 1 中的三種測試環(huán)路都可用來完成 PSRR 測量。方法是將電源 +VS 和 -VS 設(shè)置為被測試器件的最低電源電壓，并測量 1001*。接下來，將電源電壓設(shè)置為被測試器件的最大電壓，然后再次測量 1001*。公式 2 和公式 3 是 PSRR 的計(jì)算方法。

　　在使用這種方法時(shí)，有些運(yùn)算放大器需要考慮其它因素。這些運(yùn)算放大器有足夠低的工作電壓，電源的中間點(diǎn)（零共模電壓）可超過低電源配置運(yùn)算放大器所允許的最大共模電壓。有些軌至軌輸入器件有多個(gè)輸入級，可在這種條件下平穩(wěn)工作，但它們會(huì)轉(zhuǎn)換至不同的輸入級，導(dǎo)致 PSRR 計(jì)算誤差。在這兩種放大器中，固定共模電壓可防止共模飽和或輸入級轉(zhuǎn)換。為 PSRR 測試的這兩種測量方法保持恒定共模電壓，會(huì)產(chǎn)生一個(gè)可在 PSRR 計(jì)算過程中抵消的錯(cuò)誤。這些器件所需的實(shí)際共模電壓將根據(jù)放大器輸入級的拓?fù)渥兓兓?/p>

　　共模抑制比

　　CMRR 是差分電壓增益與共模電壓增益之比，也就是運(yùn)算放大器在特定范圍內(nèi)抑制共模電壓的能力。由于需求失調(diào)電壓來完成該測量，因此您可使用現(xiàn)有 測量技術(shù)來測量 CMRR。

　　圖 3. 該雙放大器環(huán)路可幫助您測量運(yùn)算放大器的 CMRR。

　　在該測試過程中，需要改變輸入共模電壓并測量運(yùn)算放大器 的變化。最顯而易見的方法是向被測試器件的非反相輸入端應(yīng)用共模電壓。該方法需要測量系統(tǒng)以所應(yīng)用的共模電壓為參考。圖 3 是雙放大器環(huán)路的測試設(shè)置。

　　如果您希望完成相關(guān)接地的所有測量，應(yīng)將非反相輸入連接至接地，并以跟蹤方式正向或負(fù)向移動(dòng)電源，以向放大器應(yīng)用有效共模電壓。必須使輸出處于電源的中間點(diǎn)，才能消除影響 CMRR 測量的 誤差。公式 4 和公式 5 是 CMRR 的計(jì)算方法。

　　DC 開環(huán)增益

　　 是輸出電壓與差分輸入電壓之比。該測量需要測量多個(gè)點(diǎn)的輸入失調(diào)電壓并計(jì)算 AOL。

　　測量 時(shí)需要了解一下被測量運(yùn)算放大器的輸出行為。理想情況下，運(yùn)算放大器可能一直擺動(dòng)至兩個(gè)電源軌。實(shí)際并非如此。 在給定負(fù)載下與電軌有一定的距離。

　　假設(shè)輸出可從 （正）擺動(dòng)至 （負(fù)）。如果使輸出達(dá)到 （正），被測試器件輸入端的電壓就將為 + （正）。需要額外的電壓 （正）將輸出驅(qū)動(dòng)到 （正）。相反，如果使輸出達(dá)到 （負(fù)），被測試器件輸入端的電壓就將變?yōu)? + （負(fù)）。您需要測量輸入端的這種變化，以實(shí)現(xiàn)所需的滿量程輸出。

　　使用圖 1 測量 的方法是：

　　在以后的文章中，我們將介紹設(shè)計(jì)和測試運(yùn)算放大器時(shí)需要關(guān)注的輸入偏置電流測試情況和誤差源。我們將提供一款測試電路，您可用它來整合自測試電路與雙放大器環(huán)路，充分發(fā)揮這兩種測試方法的優(yōu)勢。第三篇文章將介紹補(bǔ)償問題，因?yàn)槿绻麤]有適當(dāng)?shù)难a(bǔ)償，雙放大器環(huán)路就會(huì)發(fā)生振蕩。