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          詳解mos管原理及幾種常見失效分析

          作者: 時間:2017-10-27 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

            mos管是金屬(metal)—氧化物(oxide)—半導(dǎo)體(semiconductor)場效應(yīng)晶體管,或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體。mos管的source和drain是可以對調(diào)的,他們都是在P型backgate中形成的N型區(qū)。在多數(shù)情況下,這個兩個區(qū)是一樣的,即使兩端對調(diào)也不會影響器件的性能。這樣的器件被認為是對稱的。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201710/368826.htm

            mos管—工作原理

            mos管的工作原理(以N溝道增強型mos場效應(yīng)管)它是利用VGS來控制“感應(yīng)電荷”的多少,以改變由這些“感應(yīng)電荷”形成的導(dǎo)電溝道的狀況,然后達到控制漏極電流的目的。在制造管子時,通過工藝使絕緣層中出現(xiàn)大量正離子,故在交界面的另一側(cè)能感應(yīng)出較多的負電荷,這些負電荷把高滲雜質(zhì)的N區(qū)接通,形成了導(dǎo)電溝道,即使在VGS=0時也有較大的漏極電流ID。當柵極電壓改變時,溝道內(nèi)被感應(yīng)的電荷量也改變,導(dǎo)電溝道的寬窄也隨之而變,因而漏極電流ID隨著柵極電壓的變化而變化。

            

            mos管—N型/P型

            mosFET可以分成增強型和耗盡型,每一種又可以分成N溝道和P溝道。

            不過現(xiàn)實中,耗盡型的類型很少,而P溝道也比較少,最多的就是N溝道增強型mosFET,也就是增強型N-mosFET。

            大部分mos管的外觀極其類似,常見的封裝種類有TO252,TO220,TO92,TO3,TO247等等,但具體的型號有成千上萬種,因此光從外觀是無法區(qū)分的。對于不熟悉型號,經(jīng)驗又比較少的人來說,比較好的方法就是查器件的datasheet(pdf格式,一般是英文),里面會詳細告訴你,它的類型和具體參數(shù),這些參數(shù)對于你設(shè)計電路極有用。

            我們區(qū)分類型,一般就是看型號,比如IRF530,IRF540,IRF3205,IRPF250等這些都是很常見的增強型N-mosFET,而對應(yīng)的IRF9530,IRF9540就是增強型P-mosFET,耗盡型的兩種,我至今還沒在實際電路中看到過具體的器件。

            結(jié)型管(J-FET)與mosFET并不互相包含,反而是并列關(guān)系,這兩種是場效應(yīng)管的兩種類型,而JFET也可以分成N-JFET和P-JFET兩種,像2SK117,2SK596都是常見的N-JFET型號,不過P-JFET的具體型號我還沒見過,一般都融入了集成電路設(shè)計(IC設(shè)計)中。  

            無論N型或者P型mos管,其工作原理本質(zhì)是一樣的。mos管是由加在輸入端柵極的電壓來控制輸出端漏極的電流。mos管是壓控器件它通過加在柵極上的電壓控制器件的特性,不會發(fā)生像三極管做開關(guān)時的因基極電流引起的電荷存儲效應(yīng),因此在開關(guān)應(yīng)用中,mos管的開關(guān)速度應(yīng)該比三極管快。

            

            Nmos的特性:Vgs大于一定的值就會導(dǎo)通,適合用于源極接地時的情況(低端驅(qū)動),只要柵極電壓達到一定電壓(如4V或10V, 其他電壓,看手冊)就可以了。

            Pmos的特性:Vgs小于一定的值就會導(dǎo)通,適合用于源極接VCC時的情況(高端驅(qū)動)。但是,雖然Pmos可以很方便地用作高端驅(qū)動,但由于導(dǎo)通電阻大,價格貴,替換種類少等原因,在高端驅(qū)動中,通常還是使用Nmos。

            mos管—失效的6大原因

            mos管的source和drain是可以對調(diào)的,他們都是在P型backgate中形成的N型區(qū)。在多數(shù)情況下,這個兩個區(qū)是一樣的,即使兩端對調(diào)也不會影響器件的性能。這樣的器件被認為是對稱的。

            目前在市場應(yīng)用方面,排名第一的是消費類電子電源適配器產(chǎn)品。而mos管的應(yīng)用領(lǐng)域排名第二的是計算機主板、NB、計算機類適配器、LCD顯示器等產(chǎn)品,隨著國情的發(fā)展計算機主板、計算機類適配器、LCD顯示器對mos管的需求有要超過消費類電子電源適配器的現(xiàn)象了。

            第三的就屬網(wǎng)絡(luò)通信、工業(yè)控制、汽車電子以及電力設(shè)備領(lǐng)域了,這些產(chǎn)品對于mos管的需求也是很大的,特別是現(xiàn)在汽車電子對于mos管的需求直追消費類電子了。

            

            下面對mos失效的原因總結(jié)以下六點,然后對1,2重點進行分析:

            1:雪崩失效(電壓失效),也就是我們常說的漏源間的BVdss電壓超過mosFET的額定電壓,并且超過達到了一定的能力從而導(dǎo)致mosFET失效。

            2:SOA失效(電流失效),既超出mosFET安全工作區(qū)引起失效,分為Id超出器件規(guī)格失效以及Id過大,損耗過高器件長時間熱積累而導(dǎo)致的失效。

            3:體二極管失效:在橋式、LLC等有用到體二極管進行續(xù)流的拓撲結(jié)構(gòu)中,由于體二極管遭受破壞而導(dǎo)致的失效。

            4:諧振失效:在并聯(lián)使用的過程中,柵極及電路寄生參數(shù)導(dǎo)致震蕩引起的失效。

            5:靜電失效:在秋冬季節(jié),由于人體及設(shè)備靜電而導(dǎo)致的器件失效。

            6:柵極電壓失效:由于柵極遭受異常電壓尖峰,而導(dǎo)致柵極柵氧層失效。

            雪崩失效分析(電壓失效)

            到底什么是雪崩失效呢,簡單來說mosFET在電源板上由于母線電壓、變壓器反射電壓、漏感尖峰電壓等等系統(tǒng)電壓疊加在mosFET漏源之間,導(dǎo)致的一種失效模式。簡而言之就是由于就是mosFET漏源極的電壓超過其規(guī)定電壓值并達到一定的能量限度而導(dǎo)致的一種常見的失效模式。

            下面的圖片為雪崩測試的等效原理圖,做為電源工程師可以簡單了解下。

            

            可能我們經(jīng)常要求器件生產(chǎn)廠家對我們電源板上的mosFET進行失效分析,大多數(shù)廠家都僅僅給一個EAS.EOS之類的結(jié)論,那么到底我們怎么區(qū)分是否是雪崩失效呢,下面是一張經(jīng)過雪崩測試失效的器件圖,我們可以進行對比從而確定是否是雪崩失效。

            雪崩失效的預(yù)防措施

            雪崩失效歸根結(jié)底是電壓失效,因此預(yù)防我們著重從電壓來考慮。具體可以參考以下的方式來處理。

            1:合理降額使用,目前行業(yè)內(nèi)的降額一般選取80%-95%的降額,具體情況根據(jù)企業(yè)的保修條款及電路關(guān)注點進行選取。

            2:合理的變壓器反射電壓。

            3:合理的RCD及TVS吸收電路設(shè)計。

            4:大電流布線盡量采用粗、短的布局結(jié)構(gòu),盡量減少布線寄生電感。

            5:選擇合理的柵極電阻Rg。

            6:在大功率電源中,可以根據(jù)需要適當?shù)募尤隦C減震或齊納二極管進行吸收。

            

            SOA失效(電流失效)

            再簡單說下第二點,SOA失效

            SOA失效是指電源在運行時異常的大電流和電壓同時疊加在mosFET上面,造成瞬時局部發(fā)熱而導(dǎo)致的破壞模式?;蛘呤切酒c散熱器及封裝不能及時達到熱平衡導(dǎo)致熱積累,持續(xù)的發(fā)熱使溫度超過氧化層限制而導(dǎo)致的熱擊穿模式。

            關(guān)于SOA各個線的參數(shù)限定值可以參考下面圖片。

            

            1:受限于最大額定電流及脈沖電流

            2:受限于最大節(jié)溫下的RDSON。

            3:受限于器件最大的耗散功率。

            4:受限于最大單個脈沖電流。

            5:擊穿電壓BVDSS限制區(qū)

            我們電源上的mosFET,只要保證能器件處于上面限制區(qū)的范圍內(nèi),就能有效的規(guī)避由于mosFET而導(dǎo)致的電源失效問題的產(chǎn)生。

            這個是一個非典型的SOA導(dǎo)致失效的一個解刨圖,由于去過鋁,可能看起來不那么直接,參考下。

            

            SOA失效的預(yù)防措施:

            1:確保在最差條件下,mosFET的所有功率限制條件均在SOA限制線以內(nèi)。

            2:將OCP功能一定要做精確細致。

            在進行OCP點設(shè)計時,一般可能會取1.1-1.5倍電流余量的工程師居多,然后就根據(jù)IC的保護電壓比如0.7V開始調(diào)試RSENSE電阻。有些有經(jīng)驗的人會將檢測延遲時間、CISS對OCP實際的影響考慮在內(nèi)。但是此時有個更值得關(guān)注的參數(shù),那就是mosFET的Td(off)。它到底有什么影響呢,我們看下面FLYBACK電流波形圖(圖形不是太清楚,十分抱歉,建議雙擊放大觀看)。

            

            從圖中可以看出,電流波形在快到電流尖峰時,有個下跌,這個下跌點后又有一段的上升時間,這段時間其本質(zhì)就是IC在檢測到過流信號執(zhí)行關(guān)斷后,mosFET本身也開始執(zhí)行關(guān)斷,但是由于器件本身的關(guān)斷延遲,因此電流會有個二次上升平臺,如果二次上升平臺過大,那么在變壓器余量設(shè)計不足時,就極有可能產(chǎn)生磁飽和的一個電流沖擊或者電流超器件規(guī)格的一個失效。

            3:合理的熱設(shè)計余量,這個就不多說了,各個企業(yè)都有自己的降額規(guī)范,嚴格執(zhí)行就可以了,不行就加散熱器。



          關(guān)鍵詞: mos失效分析 mos管原理

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