帶電源負(fù)載的控制系統(tǒng)電路設(shè)計攻略

　　在一些電源控制應(yīng)用中，基于可靠性或安全性的原因，需要對阻性電源負(fù)載的工作狀態(tài)進行連續(xù)的評估。醫(yī)療設(shè)備中使用的發(fā)熱電阻就是這種應(yīng)用的很好例子。為了有效果，評估時應(yīng)采用連續(xù)監(jiān)視電源負(fù)載電阻的方式，并且不能干擾系統(tǒng)的正常工作。監(jiān)視系統(tǒng)應(yīng)提供至少一個數(shù)字告警信號，該信號需要在阻值超過預(yù)設(shè)范圍時被激活。

　　帶簡單的電阻性負(fù)載電流監(jiān)視功能的典型電源控制應(yīng)用可以如圖1所示那樣建模，其中忽略了任何感抗現(xiàn)象。在這種集總模型中，U是供電電壓；I是電路中的電流；R是電源負(fù)載（純阻性）；Rp1、Rp2和Rp3代表所有寄生電阻，建模的是互連走線、連接器和任何可能的機械或電子開關(guān)（閉合時）的電阻；Rs是電流檢測電阻。設(shè)Rp是總的寄生電阻，定義為Rp = Rp1 + Rp2 + Rp3。如果U和Rp是常數(shù)，那么I在R改變時才會改變，因為Rs是常數(shù)。因此評估R的偏差只需要監(jiān)視電流即可。然而在大多數(shù)情況下，實際的U和Rp不是固定不變的。事實上，即使在常見的恒壓PWM電源控制應(yīng)用中，U也可能因為電源過高的內(nèi)部阻抗（不良調(diào)整）和/或電壓容差而偏離期望值。寄生電阻Rp包含導(dǎo)線、連接器和開關(guān)的電阻，它們通常會因溫度、用途和老化的原因而發(fā)生變化。舉例來說，如果開關(guān)是功率MOSFET實現(xiàn)的，那么由于它具有正溫度系數(shù)，它的Rds（ON）會隨溫度的上升而增加。

　　圖1 帶簡單的阻性負(fù)載電流監(jiān)視功能的典型電源控制應(yīng)用。

　　很明顯，U和Rp的變化將影響基于電流的簡單電阻監(jiān)視方法的精度。為了克服這個問題，可以在計算實際負(fù)載電阻（R）的基礎(chǔ)上進行電阻監(jiān)視，方法是測量負(fù)載電流和負(fù)載電壓，然后根據(jù)歐姆定律計算它們相除的結(jié)果?，F(xiàn)在典型的方法是在數(shù)字域中做這種除法，它要求至少一個帶兩個復(fù)用輸入通道的模數(shù)轉(zhuǎn)換器（ADC）和一些處理單元（即微控制器）。這種方法很有吸引力，特別是當(dāng)系統(tǒng)中已經(jīng)有微控制器的時候。然而，由于可靠性或安全方面的原因，用軟件完成計算任務(wù)的這種方法可能行不通，或者根本不可取。

　　例如在醫(yī)療級設(shè)備中，標(biāo)準(zhǔn)IEC 60601-1(＄0.0418)（條款14）規(guī)定，如果由可編程系統(tǒng)來確保至關(guān)重要的安全性，那么開發(fā)周期必須遵循規(guī)定的程序，這將使最終系統(tǒng)的開發(fā)和隨后的認(rèn)證進一步復(fù)雜化。另外一種方法是在模擬域中執(zhí)行除法操作，方法是使用精密的模擬分壓集成電路（IC）。然而，這種IC一般很昂貴，而且不很常見。不過在模擬域中，我們可以利用經(jīng)典的惠斯通電橋——在低功耗電阻測量中一種很著名的電路。它將是我們討論的起點。

　　在展開討論之前，最好是將R定義為R = Rn（1+δ），其中Rn是R的歸一化值，δ是R的相對誤差，定義為δ = R/Rn – 1。另外，讓我們將閾值點δi 和δs定義為監(jiān)視系統(tǒng)啟動故障條件信號點之外的δ值（分別對應(yīng)更差和更好）。在圖2a）中，惠斯通電橋和比較器用來產(chǎn)生邏輯信號，指示R是大于還是小于某個閾值。很容易表明，這個電阻閾值獨立于U，它是這種電橋拓?fù)涞囊粋€特性。在圖2 b）中，通過在參考支路和兩個比較器中使用一個額外的電阻（R3），可以擴展拓?fù)?，實現(xiàn)阻值窗口比較器。閾值點δi 和δs由R1、R2和R3之間的比值設(shè)定，因為它們確定了比較器（Ut1和Ut2）的閾值電壓。

　　圖2 惠斯通電橋拓?fù)洹?/p>

　　雖然圖2 b）所示電路的閾值點獨立于U，但它們?nèi)匀皇茈娫捶种В▓D1中所示）寄生電阻的影響。另外，比較器的共模和差分輸入電壓通常很小（R 》》 Rs）。事實上，期望的差分輸入電壓范圍與比較器的輸入偏移電壓（IOV）通常是相當(dāng)?shù)?，因此會?yán)重影響監(jiān)視系統(tǒng)的精度。

　　解決方案的通用模型

　　為了克服Rp依賴性，我們可以將電流與負(fù)載電壓進行比較，而不是將電流與供電電壓U 進行比較。此外，我們可以在比較器之間進行適當(dāng)?shù)碾妷赫{(diào)整，以克服比較器上很小的差分輸入電壓引起的參考精度損失問題。這種解決方案的通用模型見圖3，它包括寄生電阻Rp1、Rp2和Rp3。在這個模型中，負(fù)載電壓和負(fù)載電流（表示為Rs上的電壓）在施加到比較器COMP1和COMP2輸入端之前先被同相增益級電路所調(diào)整。這些增益級電路總是用運放（OPAMP）和增益確定電阻實現(xiàn)。

　　需要注意的是，只有當(dāng)這種運放的IOV范圍比比較器的IOV更窄時，才有可能減少由于很小的差分輸入電壓引起的誤差。不過這個條件不難滿足，因為精密運放的IOV范圍通常都要比精密比較器小，這也是為什么在一些低速高精度應(yīng)用中將運放用作比較器的原因。

　　圖3：通用模型。

　　對電流的差分測量可以轉(zhuǎn)換為更簡單的單端測量，方法是將Rs下面的端子連接模擬地（電阻監(jiān)視部分的地）。圖3中的新變量被定義為：

　　假設(shè)增益級電路是理想的情況下，圖4和圖5分別畫出了作為δ函數(shù)的比較器輸入電壓（Uu1， Ui1， Uu2， Ui2， Ud1 和Ud2）。在圖4中，實線是U=15V時的結(jié)果，虛線是U=10V時的結(jié)果。Rp值保持不變。從圖中可以看出，閾值點（δi和δs）不受U變化的影響。

　　圖4 a）

　　作圖4 b）

　　在圖5中，實線是Rp=10mΩ時的結(jié)果，虛線是Rp＝200mΩ時的結(jié)果。在這兩種情況下，U保持不變（U=15V）。從中可以看出，δi 和δs不受Rp變化的影響。

　　圖5 a）

　　圖5 b）

　　雖然U和Rp的變化不影響δi 和δs，但它們影響比較器的單端和差分輸入電壓，見圖4和圖5。因此模型增益的確定應(yīng)慎重，要確保滿足比較器的共模輸入電壓范圍（CMIVR）要求。在這個例子中，假設(shè)比較器能夠?qū)崿F(xiàn)接近地電位的檢測，也就是說它們的共模輸入電壓范圍可以從0（或以下）擴展到某個正值。在圖4 a）和圖5 a）中可以看到，在低于和高于δi 與δs時，相關(guān)的輸入電壓（對δi來說是Uu1和Ui1，對δs來說是Uu2和Ui2）呈現(xiàn)相反的趨勢。因此，相關(guān)輸入電壓在δi和δs處同時具有最高值，分別是Ut1和Ut2。要想比較器在δi 和δs點提供正確的輸出狀態(tài)，Ut1和Ut2必須在它們的共模輸入電壓范圍之內(nèi)（CMIVR）。如果是這樣，相關(guān)輸入電壓可能在低于和高于δi 和δs時超出CMIVR，因為每個比較器至少有一個輸入電壓在CMIVR內(nèi)是有保證的，而且大多數(shù)比較器在這種情況下仍能提供正確的輸出狀態(tài)。符合工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的LM393(＄0.0737)就是具有這種能力的一個典型例子。從圖4 a）和圖5 a）中可以看出，Ut1和Ut2不是固定的，它們會隨著U增加和/或Rp減小而增大。

　　當(dāng)U位于其最大可能值、Rp位于其最小可能值（在大多數(shù)情況下可以認(rèn)為是0）時，將形成在比較器CMIVR方面最差的工作條件。在計算模型增益時應(yīng)該將這些U和Rp值代入公式（2）、（3）、（4）和（5）。比較器的輸入偏移電壓（IOV）有可能導(dǎo)致δi 和δs閾值點偏離期望值，并降低電阻監(jiān)視的精度。為了盡可能減小這種漂移幅度，我們應(yīng)該盡可能增加分別對應(yīng)δi 和δs的Ud1和Ud2斜率模（絕對值），如圖4 b）和圖5 b）所示。另外觀察圖4 a）和圖5 a）可以看出，通過增加Ut1和Ut2也可以減小這種漂移?？紤]到前面討論的共模輸入電壓范圍（CMIVR）限制，我們可以得出結(jié)論：應(yīng)選擇接近 CMIVR上限的Ut1和Ut2電壓值，并留一些安全余量應(yīng)對實際元件的容差和漂移。選好Ut1和Ut2后，就可以將它們與T、Rn、Rs、U （最大值） 和Rp （最小值）一起代入增益公式（（2）， （3）， （4）， （5））計算模型增益，完成模型的調(diào)整。

　　相反，當(dāng)Ud1和Ud2斜率模減小時，由于輸入偏移電壓（IOV）引起的閾值點漂移將變得更糟，見圖4 b）和圖5 b）。從這些圖還可以看出，這些模值隨U的減小和/或Rp的增加而減小。因此最差精度損失發(fā)生在最低期望的U值和最高期望的Rp值時?？傊?，由IOV引起的精度損失行為可以被總結(jié)為：針對某個特定的比較器IOV范圍，為了滿足特定的精度要求，必須重視相應(yīng)的最小U值和最大Rp值。也可能在一些特殊情況下，U=0和/或Rp → （+∞）。符合這些情況的例子包括U供電電源的關(guān)斷或故障、保險絲熔斷、PWM應(yīng)用中功率開關(guān)的開路等。在發(fā)生這些事件時，所有比較器的輸入電壓將接近于 0，輸出信號（Fault）將沒有統(tǒng)一的狀態(tài)。此時Fault應(yīng)被忽略，或被某些額外的檢驗電路關(guān)閉。