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          AOI檢測系統(tǒng)的光源照明模式和控制電路設(shè)計(jì)

          作者: 時(shí)間:2018-09-03 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

          摘要 針對(duì)在不同照明方式下會(huì)出現(xiàn)不同的缺陷特征,根據(jù)不同缺陷的檢測方法和采用的照明方式密切相關(guān)的特點(diǎn),了光源二級(jí)照明系統(tǒng)及。此系統(tǒng)可隨著對(duì)象檢測的不同而采用對(duì)應(yīng)的照明方式,不同缺陷在相對(duì)應(yīng)照明方式下,可檢測到對(duì)象的最優(yōu)圖像質(zhì)量。既能在不同的環(huán)境中調(diào)節(jié)光源的亮度,又可單獨(dú)調(diào)節(jié)需要重點(diǎn)突出某一缺陷部分的區(qū)域,達(dá)到了AOI檢測系統(tǒng)對(duì)各種元件圖像采集檢測的要求。

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201809/388283.htm

          PCB貼片安裝缺陷自動(dòng)光學(xué)檢測系統(tǒng),是集計(jì)算機(jī)視覺、圖像處理、數(shù)控精確定位和自動(dòng)控制技術(shù)于一體的光機(jī)電一體化高科技產(chǎn)品。其硬件主要有圖像采集卡、光源、光學(xué)鏡頭、CCD和計(jì)算機(jī)等。因受中CCD視野大小的限制,系統(tǒng)在檢測時(shí)必須移動(dòng)貼片的PCB板或攝像機(jī)進(jìn)行多次采集圖像,因此需運(yùn)動(dòng)控制模塊,以實(shí)現(xiàn)移動(dòng)平臺(tái)及PCB板傳輸?shù)木_控制。缺陷在不同方式照明下會(huì)出現(xiàn)不同的特征,不同缺陷的檢測方法和采用的光源照明方式密切相關(guān),因此要能根據(jù)檢測對(duì)象采用相應(yīng)照明方式的光源系統(tǒng),使采集到的檢測對(duì)象圖像質(zhì)量最優(yōu)。本文設(shè)計(jì)了和二級(jí)光源系統(tǒng),在各種相應(yīng)的下檢測到對(duì)象的質(zhì)量最優(yōu)圖像。設(shè)計(jì)的控制電路中一是能通過光傳感器自動(dòng)調(diào)整光源控制器來控制光源的亮度,使光源的亮度保持一致,二是一共有16個(gè)亮度控制區(qū)域,該區(qū)域可按任意組合一同調(diào)節(jié),也可相互獨(dú)立調(diào)節(jié)。達(dá)到了AOI檢測系統(tǒng)對(duì)各元器件圖像采集檢測的要求。

          1 檢測系統(tǒng)原理及光源設(shè)計(jì)

          1.1 檢測系統(tǒng)原理

          檢測系統(tǒng)是檢測PCB貼片過程中的缺陷,進(jìn)行反饋后改進(jìn)貼片工藝或改進(jìn)過程控制來減少或消除缺陷,其基本原理如圖1所示。計(jì)算機(jī)程序控制攝像頭分區(qū)域自動(dòng)掃描貼片PCB,采集圖像并對(duì)圖形進(jìn)行處理,測試的圖像經(jīng)特征提取、信息表達(dá)、分類識(shí)別等軟件分析,檢查出PCB的狀況。

          圖像采集模塊是系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)對(duì)貼片PCB板的圖像進(jìn)行采集,然后輸入到計(jì)算機(jī)系統(tǒng)存儲(chǔ),以供顯示、傳輸和其他處理。圖像預(yù)處理是圖像處理的第一步,主要目的是消除噪聲,改進(jìn)圖像的質(zhì)量,增強(qiáng)有用信息的可檢測性,為隨后的處理創(chuàng)造條件,常用的預(yù)處理包括去噪、灰度變換和銳化等。PCB缺陷的檢測主要是為了檢測出與其不同特征的缺陷,其中包括缺件、偏移、歪斜、翻貼、引腳翹起、側(cè)立、錯(cuò)件及橋接等,對(duì)以上缺陷特征的提取是識(shí)別缺陷的基礎(chǔ)。缺陷分類識(shí)別主要是基于圖像匹配,構(gòu)造適當(dāng)?shù)姆诸惼鲗?duì)缺陷進(jìn)行識(shí)別和分類。

          1.2 光源設(shè)計(jì)原理

          缺陷在不同方式照明下會(huì)出現(xiàn)不同的特征,而不同缺陷的檢測方法和采用的照明方式密切相關(guān),設(shè)計(jì)二級(jí)光源照明系統(tǒng)可根據(jù)不同的檢測對(duì)象采用相對(duì)應(yīng)的照明方式,在此相應(yīng)照明方式下對(duì)檢測對(duì)象圖像進(jìn)行采集能得到檢測對(duì)象的最優(yōu)質(zhì)量圖像。

          1.2.1 光強(qiáng)傳遞函數(shù)

          對(duì)于AOI系統(tǒng),通常采用非相干的光源照明系統(tǒng),成像系統(tǒng)可等效為圖2所示的光學(xué)模型。等效光強(qiáng)為

          其中,i為入射角度;I0為出射光強(qiáng);ρd(x,y)為表面的反射率分布;d0為光源到物體的距離;CCD為圖像接收器件,設(shè)CCD光敏元的橫向、縱向尺寸及橫向、縱向間距分別為a、b、c、d。則可得電荷的實(shí)際具體分布為

          其中,t是電荷積分時(shí)間;k是比例系數(shù);d1是光學(xué)系統(tǒng)到物體人瞳的距離;S0是人瞳的面積;h(x,y)是擴(kuò)展函數(shù);M是系統(tǒng)放大系數(shù)。

          1.2.2 光學(xué)照明系統(tǒng)光源設(shè)計(jì)

          由式(2)可得,CCD通過積分所得電量與物體到光源的距離平方成反比,與入射角余弦值和光強(qiáng)成正比。而對(duì)于給定的CCD,應(yīng)在一定范圍內(nèi)進(jìn)行曝光,若曝光量過小,物體的某些點(diǎn)因照度不夠被噪聲淹沒;相反,若照度過大,則將使CCD的像元因曝光量過大而造成飽和或趨近于飽和,這樣會(huì)使畫面產(chǎn)生大量失真而使測量誤差較大。因此通常將光敏面的最大照度調(diào)節(jié)為不高于最大飽和照度,由此便可充分利用元器件的動(dòng)態(tài)變化范圍,所以文中研究并設(shè)計(jì)了兩級(jí)照明系統(tǒng)。元器件的焊接部分在幾種照明方式下的亮度分布如圖3所示。焊點(diǎn)部位在水平照明下亮度較高,而元器件的上端在垂直照明下亮度高。根據(jù)此特點(diǎn)設(shè)計(jì)了采用水平照明與垂直照明的入射角不同而得到不同視覺特征的水平照明與垂直照明兩種圖像。

          用二級(jí)照明系統(tǒng)照射時(shí)光源亮度如圖4所示,垂直照射到與電路板平行的元器件上時(shí)大部分光線反射被到CCD中,而照射到電極部位的光線反射到其他方向消散。垂直投射的光線到達(dá)焊接部位,則大部分光線不會(huì)反射到攝像機(jī)一側(cè),則是向其他方向反射消散。

          2 各種的設(shè)計(jì)及應(yīng)用范圍

          不同缺陷的檢測與采用的照明方式密切相關(guān),眾多缺陷在照明角度的不同會(huì)出現(xiàn)特征,根據(jù)這些不同的特征,從而綜合判斷是否為缺陷,因此缺陷檢測的研究需要與照明方式一同進(jìn)行。所以在對(duì)元器件不同部位不同缺陷進(jìn)行檢測時(shí),需根據(jù)照明下得到的不同特征采取相應(yīng)不同的照明方式。文中根據(jù)不同部位的缺陷檢測設(shè)計(jì)了相應(yīng)不同的,如表1所示。

          2.1 水平照明

          在水平照射方式下形成的低亮度與高亮度范圍如下:(1)低亮度范圍。IC元器件的導(dǎo)線端、導(dǎo)線側(cè)翼、焊盤、元器件的電極、電路板等。(2)高亮度范圍。大傾斜角度導(dǎo)線的彎曲部分、焊點(diǎn)等。

          根據(jù)照射亮度范圍的不同,水平照明方式主要用于在IC或在其導(dǎo)線中,檢測冷焊、漏焊或在SOIC、QFP檢查橋接時(shí)采用。圖5是在水平照明方式下得到的典型效果圖。

          2.2 垂直照明

          在垂直照明方式下主要形成低、高兩種亮度范圍:(1)低亮度范圍。大傾斜角度導(dǎo)線的彎曲部分、焊點(diǎn)等。(2)高亮度范圍。IC元器件的導(dǎo)線端、導(dǎo)線側(cè)翼、焊盤、元器件的電極和電路板等。

          因此,根據(jù)照射亮度范圍的不同,垂直照明方式主要用于檢查元器件的導(dǎo)線端和普通芯片。垂直照明方式下的典型效果圖像,如圖6所示。

          2.3 垂直-水平照明

          因元器件件身、文字和絲印標(biāo)志的漫反射使得在垂直照明方式下檢測的效果并不理想,故可采用垂直-水平照明方式來改善檢測效果。垂直圖像減去水平圖像的典型效果圖,如圖7所示。

          2.4 水平-垂直照明

          通常使用水平照明方式,主要是用于檢測SOIC、QFP的橋接,或IC導(dǎo)線部位和芯片的漏焊、冷焊、錯(cuò)焊等。當(dāng)元器件件身、文字和白色絲印標(biāo)志等高亮度部位使用水平照明方式不理想時(shí),可選擇采用“水平-垂直”照明。水平減去垂直圖像的典型效果,如圖8所示。

          2.5 水平+垂直照明

          水平+垂直照明是將在水平照明方式與垂直照明方式下所得到的亮度值合二為一,使得到的圖像整體亮度較高,且較為平滑。

          因貼片表面不平整平滑而在垂直照明或水平照明下顯得只有局部較亮的情況下,可選取使用這種水平+垂直照明方式。另外,在垂直照明下排列阻抗和芯阻抗的電極部位獲得的圖像局部較暗,若采取水平+垂直照明方式,獲得的電極部位圖像則相對(duì)清晰,一般用于尋找電極正確的位置。圖9為水平圖像加垂直圖像的典型圖。

          3 光源照明模式的驅(qū)動(dòng)控制電路設(shè)計(jì)

          現(xiàn)有的自動(dòng)光學(xué)檢測光源中通常只能統(tǒng)一調(diào)整照明亮度,而無法隨自然光的變化自動(dòng)調(diào)節(jié)光強(qiáng)。為達(dá)到統(tǒng)一的圖像效果只能由人工調(diào)整光源亮度,且由于人工調(diào)整的不及時(shí)或調(diào)整不到位造成圖像不一致,導(dǎo)致后續(xù)圖像處理難度增加。另外,當(dāng)要突出產(chǎn)品的缺陷部分或待測產(chǎn)品需要突出檢測的重要部分時(shí),需多次移動(dòng)高精度的X-Y平臺(tái),調(diào)整待測產(chǎn)品與光學(xué)鏡頭的位置關(guān)系,影響了檢測的精確度,降低了檢測效率。

          文中設(shè)計(jì)的光源控制電路中,一是通過光傳感器自動(dòng)調(diào)整光源控制器來控制光源的亮度,使其光源亮度可保持一致;二是一共有16個(gè)亮度控制區(qū)域,該區(qū)域可按任意組合一同調(diào)節(jié),也可相互獨(dú)立地調(diào)節(jié),其控制是通過串口通信完成的??刂破骺赏ㄟ^控制16個(gè)控制區(qū)域的亮度突出待測產(chǎn)品的缺陷部分或重要部分,以提高檢測精度及檢測效率。

          圖10為控制電路組成框圖,電路由4部分組成,電路部分1為電源穩(wěn)壓電路,作用是給整個(gè)電路系統(tǒng)提供穩(wěn)定的5 V電源;電路部分2為控制器電路,是控制器的基本工作系統(tǒng)電路,作用是為控制電路部分3工作;電路部分3為LED驅(qū)動(dòng)電路,其是主要?jiǎng)?chuàng)新部分,作用是根據(jù)電路部分2,控制器電路的控制信號(hào)來驅(qū)動(dòng)LED照明;電路部分4為串口通信電路,作用是提供TTL電平信號(hào)和RS-232協(xié)議電平信號(hào)的相互轉(zhuǎn)換,使控制器電路能接受RS-232協(xié)議的串口通信連接。

          電路部分2控制器電路引出16根PWM信號(hào)線連接電路部分3,PWM信號(hào)由控制電路的程序控制。當(dāng)需改變某照明區(qū)域時(shí),可通過串口通信向CPU發(fā)送特定格式的命令來完成,CPU會(huì)按照輸入的指令來改變對(duì)應(yīng)端口PWM波的占空比,以達(dá)到控制對(duì)應(yīng)照明區(qū)域亮度的目的。

          電路部分3是LED驅(qū)動(dòng)電路,為16路PWM的DAC轉(zhuǎn)換電路,輸入的PWM方波通過非門取反后,得到正反相兩個(gè)PWM方波信號(hào),再分別經(jīng)過一個(gè)傳導(dǎo)邏輯門,得到兩個(gè)對(duì)出電氣特性相同的正反相PWM方波信號(hào)。隨后經(jīng)電容耦合將交流成分大幅抵消掉,并最終經(jīng)由小功率三極管9014和中功率三極管2DS882組成的達(dá)林頓管作電壓跟隨放大后,驅(qū)動(dòng)各照明區(qū)域的LED。

          圖11為圖10電路中LED驅(qū)動(dòng)電路部分的一路電路圖,圖12為圖11所示電路的交流等效圖。INPUT端輸入的PWM方波通過非門取反后,得到兩個(gè)PWM方波信號(hào),這兩個(gè)PWM方波信號(hào)分別經(jīng)一個(gè)傳導(dǎo)門,得到兩個(gè)電氣特性相同的正反相PWM方波信號(hào),然后經(jīng)過電容耦合將交流成分較大程度地抵消掉,得到較穩(wěn)定的直流信號(hào)從OUTPUT端輸出,并最終經(jīng)由小功率三極管9014和中功率三極管2DS882組成的達(dá)林頓管作電壓跟隨放大之后,驅(qū)動(dòng)發(fā)光二極管組件。

          下面通過對(duì)圖12進(jìn)行分析來確定電路中電阻電容的選擇:采用的PWM波為占空比可調(diào)方波。在設(shè)計(jì)PWM的低通網(wǎng)絡(luò)時(shí),PWM方波具有一個(gè)特征,即方波可被視為模擬信號(hào),也可被視為數(shù)字信號(hào),而數(shù)字信號(hào)由于操作相比模擬信號(hào)更易實(shí)現(xiàn),即“倒相”。根據(jù)傅立葉變換理論,周期信號(hào)可被視為由若干個(gè)正弦信號(hào)和一個(gè)直流分量組成,這若干個(gè)正弦信號(hào)構(gòu)成該信號(hào)的交流成分,要實(shí)現(xiàn)PWM的ADC轉(zhuǎn)換,就需將這些正弦信號(hào)去除。數(shù)字取反后的方波,分解出的正弦信號(hào)與取反前分解出的正弦信號(hào)成鏡像關(guān)系,對(duì)于正弦信號(hào)而言等效于180°的相移,也就是數(shù)字取反后的方波其分解出的所有正弦信號(hào)分量的變化等效于發(fā)生了180°的相移,其大小不變。這說明數(shù)字取反后,方波的頻譜發(fā)生了180°的相移,若數(shù)字取反前后的方波相疊加,則在頻域和時(shí)域上均可看出,結(jié)果將為0。

          圖12只考慮交流電壓成分,U2為非門A輸出電壓的交流成分,U1為邏輯門B輸出電壓的交流成分。U3為“OUTPUT端”的交流成分,U4為分析時(shí)的一個(gè)過度量。

          對(duì)圖12進(jìn)行分析,U2為U1的倒相信號(hào),為了便于推導(dǎo),設(shè)U2的幅值為U1的A倍,則

          該電路對(duì)低頻信號(hào)的削弱作用將不會(huì)減弱。同樣是一階RC濾波電路,該電路對(duì)低頻信號(hào)的削弱作用則比沒有抵消作用強(qiáng)。

          但由于該網(wǎng)絡(luò)接上非線性元件邏輯門后,邏輯門引入的阻抗會(huì)使抵消作用過渡成一階濾波作用,為減弱邏輯門接入帶來的影響,此時(shí)需將圖中R1、R2、C1、C3增大,使兩個(gè)邏輯門輸出的信號(hào)少流入對(duì)方,從而維持式(11)。

          由以上分析可知,在選擇器件時(shí)需保證C1=C3,R1=R2,并使其值盡量大。

          為驗(yàn)證可調(diào)光源的控制效果,對(duì)二級(jí)光源系統(tǒng)進(jìn)行了測試,分別在下午5點(diǎn)、6點(diǎn)和8點(diǎn)測試外界亮度和光源系統(tǒng)亮度,文中僅取其中的2塊測試結(jié)果,如表2所示。模塊1和模塊12的亮度均可隨著外界亮度的變化進(jìn)行自動(dòng)調(diào)節(jié),而當(dāng)外界亮度低于某一值時(shí),光源系統(tǒng)亮度達(dá)到最大值,外界亮度再繼續(xù)降低,光源系統(tǒng)亮度仍保持不變。

          4 結(jié)束語

          本文在分析較常用的硬件設(shè)備原理、性能的基礎(chǔ)上,根據(jù)照明原理和光強(qiáng)傳遞函數(shù),設(shè)計(jì)了二級(jí)光源照明系統(tǒng)。在系統(tǒng)中根據(jù)不同的缺陷檢測對(duì)象而分別建立了相對(duì)應(yīng)的5種照明模式,并在相對(duì)應(yīng)的各種照明模式下對(duì)檢測對(duì)象的圖像進(jìn)行采集,可得到最優(yōu)圖像質(zhì)量,從而滿足系統(tǒng)中各種元器件的采集圖像要求。此外還著重討論設(shè)計(jì)了采用二級(jí)光源系統(tǒng)及光源的控制電路,對(duì)于不同的缺陷可采用不同的照明方式,光源亮度可根據(jù)外部光亮的強(qiáng)弱自動(dòng)調(diào)節(jié),以滿足系統(tǒng)檢測要求。設(shè)計(jì)的控制電路中:(1)可通過光傳感器自動(dòng)調(diào)整光源控制器來控制光源的亮度,使光源的亮度保持一致;(2)共有16個(gè)亮度控制區(qū)域,該區(qū)域可按任意組合一同調(diào)節(jié),也可相互獨(dú)立進(jìn)行調(diào)節(jié)。控制器可通過控制16個(gè)控制區(qū)域的亮度突出待測產(chǎn)品的缺陷部分或重要部分,以提高其的檢測精度及檢測效率。自適應(yīng)選擇照明模式將成為下一步研究工作的重點(diǎn)。



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