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          功率MOSFET安全工作區(qū),真的安全嗎?

          作者:劉松 時間:2019-02-26 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          作者/劉松(萬國半導(dǎo)體元件(深圳)有限公司,上海 靜安 200070)

          本文引用地址:http://www.ex-cimer.com/article/201902/397968.htm

            摘要:本文論述了數(shù)據(jù)表中每條曲線的含義,詳細(xì)說明最大的脈沖漏極電流的定義。分析了基于環(huán)境溫度、最大允許結(jié)溫和功耗計算的不能作為實際應(yīng)用中MOSFET是否安全的標(biāo)準(zhǔn)原因。特別說明了完全工作在或較長的時間工作在的應(yīng)用中,必須采用實測的理由。

            關(guān)鍵詞;安全工作區(qū);;

            0 引言

            許多研發(fā)工程師經(jīng)常會使用測量的工作波形來校核功率MOSFET的SOA曲線,例如:做電源的研發(fā)工程師,電源結(jié)構(gòu)為反激或BUCK降壓變換器,測量到功率MOSFET的電壓和電流波形,然后根據(jù)電壓、電流波形和工作的脈寬時間,在SOA曲線中描出對應(yīng)的工作點,來校核工作點是否在SOA曲線的范圍內(nèi),以此來判斷功率MOSFET的工作是否安全。事實上,這樣的校核方法并不正確,原因在于對于功率MOSFET的安全工作區(qū)曲線理解的偏差。本文將詳細(xì)的介紹功率MOSFET數(shù)據(jù)表中安全區(qū)的定義,從而讓工程師針對不同的應(yīng)用,使用有效的方法校核其安全。

            1 功率MOSFET安全工作區(qū)SOA曲線

            功率MOSFET數(shù)據(jù)表中,安全工作區(qū)SOA曲線是正向偏置的安全工作區(qū)SOA曲線,即FBSOA曲線,那么這個安全工作區(qū)SOA曲線是如何定義的呢?這個曲線必須結(jié)合功率MOSFET的耐壓、電流特性和熱阻特性,來理解功率MOSFET的安全工作區(qū)SOA曲線。它定義了最大的漏源極電壓值、漏極電流值,以保證器件在正向偏置時安全的工作,如圖1所示。數(shù)據(jù)表中,功率MOSFET安全工作區(qū)SOA曲線有4條邊界,分別說明如下。

          nEO_IMG_1.jpg

            (1)安全工作區(qū)SOA曲線左上方的邊界斜線,受功率MOSFET的導(dǎo)通電阻RDS(ON)限制。因為在一定的VGS的電壓下,功率MOSFET都有一個確定的RDS(ON),因此:

            VDS=ID·RDS(ON)

            這條斜線的斜率就是1/ RDS(ON)。功率MOSFET數(shù)據(jù)表中,在不同的溫度以及在不同的脈沖電流及脈沖寬度條件下,RDS(ON)的值都會不同,在實際的應(yīng)用過程中,這條曲線的斜率因條件的不同而不同[1]。

            (2)安全工作區(qū)SOA曲線最右邊的垂直邊界,是最大的漏源極電壓BVDSS。BVDSS是功率MOSFET數(shù)據(jù)表中所標(biāo)稱的最小值。同樣的,在不同的測試條件下這個值也會不同,特別是采用更高的測試電流IDSS時,名義的標(biāo)稱值就會偏高,而實際的工作范圍就會減小[2]。

            (3)安全工作區(qū)SOA曲線最上面水平線,受最大的脈沖漏極電流IDM的限制。這個值是一個測量值,如果使用最小脈沖寬度下的瞬態(tài)熱阻值、最大的RDS(ON)和允許的溫升來計算,所得到最大漏極電流會比IDM更高,因此也就不正確,對于特定范圍的脈沖寬度,最大的脈沖漏極電流就定義為IDM[3-4]。

            (4)安全工作區(qū)SOA曲線右上方平行的一組斜線,是不同的單脈沖寬度下功率損耗的限制。RDS(ON)限制的斜線和最大的脈沖漏極電流IDM有一個交點,在這個交點的右邊,不同的單脈沖寬度下的最大漏源極電流曲線都幾乎工作在線性區(qū),這一組曲線上的任何一點的電流和電壓值,都是通過瞬態(tài)的熱阻和允許的溫升(功耗)所計算出來的。

          a.jpg

            其中,TJMax為最高允許工作結(jié)溫,150 ℃或者175 ℃,不同的產(chǎn)品定義不同。TC為殼溫,也就是封裝銅襯底溫度,通常是25 ℃。ZqJC為歸一化瞬態(tài)熱阻,RqJC為熱阻。

            功率MOSFET數(shù)據(jù)表中有歸一化瞬態(tài)熱阻曲線,通過上述公式,就可以將不同的單脈沖寬度下,VDS和ID的曲線作出來,因此功率MOSFET數(shù)據(jù)表中,安全工作區(qū)SOA曲線右上方平行的一組斜線都是計算值[5]。

            2 功率MOSFET實際工作條件

            從上面的論述,功率MOSFET的安全工作區(qū)SOA曲線都是基于TC=25 ℃溫度下的計算值,在實際的工作中,功率MOSFET的TC的溫度,也就是器件下面銅皮的溫度,絕對不可能為25 ℃,通常遠遠高于25 ℃,有些應(yīng)用達到100 ℃~120 ℃,一些極端的應(yīng)用甚至?xí)撸@樣數(shù)據(jù)表中的安全工作區(qū)SOA曲線很難對實際的應(yīng)用提供有用的參考價值。使用RJA折算成TA=25 ℃時的電流和電壓值作出安全工作區(qū)SOA曲線,相對的可以對實際的應(yīng)用提供一些參考。

            采用行業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)使用計算的方法所得到的安全工作區(qū)SOA中間的功率曲線,由于大多工作在線性區(qū),計算過程不可能考慮到功率MOSFET的。以前,功率MOSFET采用平面的結(jié)構(gòu),每個單元的間隔大,很少會產(chǎn)生局部的熱集中,基于TA=25 ℃的SOA曲線和實際的應(yīng)用比較接近,偏差也較小。

          nEO_IMG_2.jpg

            由于技術(shù)不斷的進步,目前通常采用溝槽以及隔離柵SGT技術(shù),單元的密度急劇提高,單元和單元間的間距小,容易相互加熱產(chǎn)生局部的熱集中,導(dǎo)致內(nèi)部的單元不平衡,的影響明顯的增強,特別是在高壓的時候,內(nèi)部的電場外強度大,進一步增加熱電效應(yīng)。因此,使用線性區(qū)的功率損耗計算的安全工作區(qū)SOA曲線,和實際的應(yīng)用偏差非常大[6-7]。

            對于大多開關(guān)電源和電力電子的應(yīng)用,功率MOSFET工作在高頻的開關(guān)狀態(tài),完全的導(dǎo)通或截止,米勒電容產(chǎn)生米勒平臺的線性區(qū),也就是產(chǎn)生開關(guān)損耗的區(qū)間,持續(xù)的時間非常短,通常是幾個或幾十個ns,因此使用測量到的功率MOSFET電壓和電流的波形,在安全工作區(qū)SOA曲線的線性區(qū)描點,來校核功率MOSFET是否安全工作,這種方法并不正確,特別是在TC=25 ℃的安全工作區(qū)SOA曲線中進行這樣的校核完全沒有意義。當(dāng)功率MOSFET工作在高頻的開關(guān)狀態(tài)時,計算功率MOSFET的總體損耗,由熱阻來校核結(jié)溫,更有意義一些。

            3 功率MOSFET的安全工作區(qū)SOA曲線分析

            下面分析幾個SOA曲線數(shù)據(jù)表中的例子,來進一步理解SOA曲線的定義。

            3.1 AON6590

            3.1.1 從安全工作區(qū)SOA曲線導(dǎo)通電阻RDS(ON)限制的斜率,來計算導(dǎo)通電阻:

            RDS(ON) = (0.1-0.03)/(60-20) = 0.00175 Ω

            在數(shù)據(jù)表1中可以得到TJ=25 ℃時RDS(ON)遠小于安全工作區(qū)SOA曲線的計算值,因此它的取值應(yīng)該是TJ=150 ℃時的值。

          1551840608301249.jpg

            不同的公司在安全工作區(qū)SOA曲線中,導(dǎo)通電阻RDS(ON)限制的斜線所采用的RDS(ON)的值,有些公司取TJ=25 ℃,有些公司取TJ=150 ℃,有些公司取TJ=175 ℃,而且對于相應(yīng)的溫度,取典型值還是最大值,也不相同。條件越嚴(yán)格,安全工作區(qū)SOA曲線的范圍就越小。

            3.1.2 如表2最右邊的垂直邊界是功率MOSFET的額定電壓,這條直線的定義比較簡單,當(dāng)然當(dāng)測試條件不同時,額定電壓的值也會不同。

          1551840622864646.jpg

            3.1.3 最上面的電流水平線,由最大的脈沖漏極電流IDM限制,安全工作區(qū)SOA曲線和數(shù)據(jù)表中的值都為400 A,基于TC=25 ℃。

            最低DC的電流水平線,SOA曲線和數(shù)據(jù)表中的值都為100 A,基于TC=25 ℃。右上方平行的斜線組,列出了DC、不同的單脈沖寬度下,10 ms、1 ms、100 μs、10 μs的計算值斜線。

            基于最高的結(jié)溫的允許溫升、熱阻或瞬態(tài)熱阻,那么最高的允許的功率就可以確定,對于一個確定的電壓VDS,就可以計算相應(yīng)的電流ID,這些斜線組相當(dāng)于在TC=25 ℃時,工作在線性區(qū)的功率限制的計算值。

            3.2 IPB117N20NFD

            如圖3為IPB117N20NFD的安全工作區(qū)SOA曲線。

          nEO_IMG_3.jpg

            3.2.1 從安全工作區(qū)SOA曲線導(dǎo)通電阻RDS(ON)限制的斜率,來計算導(dǎo)通電阻:

            RDS(ON) = (1-0.1)/(30-3) = 0.033 Ω

            3.2.2 如表3最右邊的垂直邊界是功率MOSFET的額定電壓200 V。

          1551840642760592.jpg

            (3)如表4最上面的電流水平線,由最大的脈沖漏極電流IDM限制,安全工作區(qū)SOA曲線和數(shù)據(jù)表中的值都為336 A,基于TC=25 ℃。

          1551840653161009.jpg

            最低DC的電流水平線,安全工作區(qū)SOA曲線和數(shù)據(jù)表中的值都為84 A,基于TC=25 ℃。右上方平行的斜線組,列出了DC、不同的單脈沖寬度下,10 ms、1 ms、100 μs、10 μs、1 μs的計算值斜線。

            4 實測功率MOSFET的安全工作區(qū)SOA曲線

            一些應(yīng)用中,功率MOSFET完全工作在線性區(qū)或較長的時間工作在線性區(qū),那么,為了保證功率MOSFET的可靠性,就要測量真正的安全工作區(qū)SOA曲線,以避免熱電效應(yīng)所產(chǎn)生的破壞。設(shè)計的時候,要保證有一定的裕量,從而保證系統(tǒng)的安全,如圖4所示的IRFB4410的SOA曲線。

          nEO_IMG_4.jpg

            負(fù)載開關(guān)及熱插拔較長時間工作在導(dǎo)通電阻的負(fù)溫度系數(shù)區(qū),分立MOSFET組成的LDO一直工作在負(fù)溫度系數(shù)區(qū),也就是上面所謂的線性區(qū),這二種應(yīng)用設(shè)計要特別小心[6-7]。

            5 結(jié)論

            (1)功率MOSFET數(shù)據(jù)表中安全工作區(qū)的電壓、電流的限制邊界基于一定的測試條件,當(dāng)測試條件改變時,其范圍也不相同。

            (2)功率MOSFET數(shù)據(jù)表中安全工作區(qū)是基于TC=25 ℃溫度下的計算值,和實際的工作條件相差太大,因此不能作為校核其是否工作安全的標(biāo)準(zhǔn)。

            (3)功率MOSFET的安全工作區(qū)的線性區(qū)沒有考慮熱電效應(yīng),不能采用數(shù)據(jù)表中計算的安全工作區(qū)來校核其是否工作安全,因此在線性區(qū)的工作條件下要采用實測的安全工作區(qū)曲線。

            參考文獻

            [1]劉松.理解功率MOSFET的Rds(on)溫度系數(shù)特性.今日電子,2009(11):25-26.

            [2]劉松.功率MOSFET額定電壓BVDSS.今日電子,2017(7):23-24.

            [3]劉松.脈沖漏極電流IDM及短路保護.今日電子,2018(1):21-23.

            [4]劉松.理解功率MOSFET的電流.今日電子,2011(11):35-37.

            [5]劉松.理解功率MOSFET熱阻特性.今日電子,2017(12):30-31.

            [6]劉松,陳均,林濤.功率MOS管Rds(on)負(fù)溫度系數(shù)對負(fù)載開關(guān)設(shè)計影響.電子技術(shù)應(yīng)用,2010,12(36):72-74.

            [7]劉松.應(yīng)用于線性調(diào)節(jié)器的中壓功率MOSFET的選擇.今日電子,2012(2):36-38.

            作者簡介:

            劉松,碩士,現(xiàn)任職于萬國半導(dǎo)體元件(深圳)有限公司應(yīng)用總監(jiān),主要研究方向:開關(guān)電源、電力電子以及功率元件的應(yīng)用和研究工作,曾獲得廣東省科技進步二等獎一項,在各類學(xué)術(shù)期刊上發(fā)表學(xué)術(shù)論文60多篇。

          本文來源于科技期刊《電子產(chǎn)品世界》2019年第3期第45頁,歡迎您寫論文時引用,并注明出處



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